背向散射电子显微镜

倍率: 2,000,000 unit
空间分辨率: 2, 10, 3 nm

... 台式场发射枪扫描电子显微镜，用于各学科的高质量成像。 场发射枪扫描电子显微镜 Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM 将场发射扫描电镜搬到了您的桌面上。Phenom Pharos G2 FEG-SEM 在图像质量方面优于许多落地式扫描电镜，同时提供更好的用户体验。Phenom Pharos G2 FEG-SEM 外形美观，所需培训时间短，让迄今为止还不认为扫描电子显微镜是现实选择的学术和工业实验室也能享受到 FEG ...

倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 µm - 10 µm

... Phenom XL G2台式扫描电子显微镜的应用 新一代Thermo Scientific Phenom XL G2台式扫描电子显微镜（SEM）使您的质量控制过程自动化，提供准确、可重复的结果，同时释放出时间进行增值工作。 Phenom XL G2台式扫描电子显微镜使您能够： - 获得您所需要的质量信息，以尽早发现故障，并在需要时迅速调整您的生产过程。 - 实现质量控制自动化，以处理大量样品，减少人为错误的机会。 - 通过一个全新的、易于学习的界面快速上手，是广泛的应用的理想选择。 Phenom ...

倍率: 160 unit - 350,000 unit
空间分辨率: 8, 6 nm

... 桌面SEM用于强大和毫不费力的SEM分析，扩大你的研究能力。 Phenom Pro Desktop SEM 第六代Thermo Scientific Phenom Pro G6台式扫描电镜填补了光镜和地面模型扫描电镜分析之间的空白，从而扩大了研究机构的能力。 Phenom Pro G6桌面扫描电镜快速且易于使用，可用于减轻落地式扫描电镜仪器对普通样品的常规分析的负担。仪器配置和样品装载机制确保快速成像，在实验之间花最少的时间进行调整。 任何经验水平的设备用户都能迅速开始使用Phenom ...

倍率: 160 unit - 350,000 unit
空间分辨率: 8, 6 nm

... 具有EDS功能的台式扫描电镜，可进行强大的、毫不费力的、多功能的元素和扫描电镜分析。 带有能量色散X射线衍射的Phenom Desktop SEM 第六代Thermo Scientific Phenom ProX G6台式扫描电镜填补了光镜和落地式扫描电镜分析之间的空白，从而扩大了研究机构的能力。它提供了快速、高分辨率的成像，此外还有一个集成的能量色散X射线衍射（EDS）检测器，用于强大、易于使用的快速元素分析。 主要特点 快速和易于使用 Phenom Pro ...

倍率: 160 unit - 175,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 15 nm

... 桌面 SEM 经济、易用，具有可靠的自动化功能。 Thermo Scientific Phenom Pure 台式扫描电子显微镜（SEM）是从光学显微镜过渡到电子显微镜的理想工具。它是高分辨率成像的经济型解决方案，可提供同类产品中最佳的成像效果。 Phenom Pure 台式扫描电镜采用长寿命、高亮度的 CeB6 光源，可提供高质量的图像，并具有市场上最快的加载和成像时间。非常可靠的自动对焦和自动光源对准功能使其成为市场上最方便用户使用的系统。 永不丢失的导航 通过独特的永不丢失导航功能，用户可以随时了解样品的位置。光学和电子光学图像的概览可随时提供清晰的参考点。通过集成的电动平台，您可以快速浏览样品。 使用简便 用户只需经过 ...

倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 10 nm

... 用于电池生产和研究的台式扫描电子显微镜。 先进的电池材料分析 为电池材料分析而设计的Phenom台式扫描电子显微镜 在电池生产和研究中，材料的质量正变得至关重要。例如，NCM粉末中的小污染物会对最终产品产生灾难性的结果。为了有效追踪这些污染物，需要高分辨率的SEM成像与EDS化学分析。当完全自动化时，这种组合是粉末质量检测的有力工具。 Phenom ParticleX Battery Desktop SEM的主要特点 电导率分类 每个颗粒类别都可以标明颗粒的电导率，使你可以根据颗粒的电导率进行分类。这使你能更准确地评估污染的影响，因为一个小的有机污染不像金属导电污染那样严重。 三元图 为了查看颗粒群的整体化学性质，可以生成一个代表所有颗粒的三元图。镍、钴和锰在每个轴上，可以立即看到早期和一般趋势。 ...

倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 10 nm

... 用多功能台式扫描电镜进行部件清洁度分析。 用于部件清洁度分析的台式扫描电镜 Thermo Scientific Phenom ParticleX TC台式扫描电镜是一款多用途的台式扫描电镜，能在微观层面上实现技术清洁。 材料表征 作为高质量内部分析的多功能解决方案，Phenom ParticleX Desktop SEM使您有能力对材料进行快速表征、验证和分类，用快速、准确和可信的数据支持您的生产。该系统操作简单，学习迅速，为更多的用户打开了粒子和材料分析的大门。 主要特点 技术洁净度 随着（汽车）行业内对超出光镜范围的较小颗粒的分析需求不断增加，Phenom ...

空间分辨率: 3, 8, 7 nm
重量: 10 kg

... SEM EDS仪器，灵活，易于使用，并提供即时定量的元素分析。 SEM成像和EDS元素分析 尽管扫描电子显微镜（SEM）已经取得了巨大的进步，但新用户可能认为它是一种复杂的技术。样品制备、对准、拥有成本和分析技术的困难阻碍了它的广泛采用。我们着手解决这些挑战，以便在不影响灵活性的情况下制造一个真正可使用的SEM。我们的目标是使显微镜成为一种简单而愉快的体验，在这种体验中，你不应该为了获得高质量的数据而与显微镜作斗争。结果就是Thermo Scientific ...

倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.8 nm

超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700 随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。 超高分辨观察和超强分析能力 日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1 kV的低加速电压仍可进行高分辨观察，适应更多应用场景。同时，可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项，满足更多的观测需求。 先进的自动化功能* EM ...

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.7, 0.6 nm

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列 随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。 超高分辨成像 日立的高亮度电子源可保证了即使在超低着陆电压下，也可获得超高分辨的图像。 0.8 kV电压条件下观察RHO型沸石的实例。左图为颗粒整体的形貌,右图为放大图像，颗粒表面细微的台阶结构清晰可见。低电压观察对于减少电子束损伤和获取表面形状信息较为有效 高衬度的低加速电压背散射图像 3D ...

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.8 nm

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多优异性能。 SU7000是一台实现了获取大量信息的新型扫描电镜，可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界 核心理念 1.采用优异的成像技术 SU7000可以迅速获取从大视野全貌图到表面微细结构等多种检测信号。全新设计的电子光学系统和检测系统，使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号，用户可以在短时间内获得更全面的样品信息。 2.采用多通道成像技术 随着用户对成像需求的不断增长，SU7000特新增了几种探测器，还引进了相应的成像功能。SU7000最多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的最大化。 3.支持不同形状样品、多种观察方法 • ...

空间分辨率: 1.2 nm

操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平 高性能电子光学系统 • 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)＊ • 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能，低至100 V成像 • 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析 性能优异 • 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配备高灵敏度低真空探测器(UVD)＊ • ...

倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm

集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* • ...

倍率: 6 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 4, 5, 15 nm

“先进的SEM更为紧凑” 宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计，仍具备4.0 nm的图像分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。 • ...

倍率: 10 unit - 25,000,054 unit
重量: 54 kg
长度: 614, 617 mm

台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。 我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。 观察图像3分钟。可迅速获得所需数据，并制作报告。 观察与分析的灵活性 自动获取各类数据。快速切换！ 可快速获得元素分布图 * 使用Camera Navi*的话，就是如此简单 Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察 操作简单且快捷 观察图像只需 ...

倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 0.8 nm - 1,200 nm
重量: 950 kg

... CIQTEK SEM5000Pro 是一款高分辨率、功能丰富的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM，FEG SEM）。 先进的柱体设计、高压隧道技术（SuperTunnel）、低像差无泄漏磁性物镜设计，实现低电压高分辨率成像，同时可应用磁性样品。光学导航、先进的自动功能、精心设计的人机交互和优化的操作。 无论是否有经验，都能快速上手高分辨率拍摄任务。 低加速电压下的高分辨率成像。 电磁复合镜减少了像差，显著提高了低电压下的分辨率，并可观察磁性样品。 高压隧道技术（超级隧道），隧道中的电子可保持高能量，减少空间电荷效应，确保低电压分辨率。 无交叉的电子光学路径可有效减少系统畸变，提高分辨率。 水冷恒温物镜，确保物镜工作的稳定性、可靠性和可重复性。 磁偏转六孔可调光阑，自动切换光阑孔位，无需机械调节，实现高分辨率观测或大光束分析模式的快速切换。 ...

倍率: 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.9 nm - 2.5 nm

... CIQTEK SEM4000Pro 是一款分析型场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度长寿命肖特基场发射电子枪。 SEM4000Pro 采用三级聚光器电子光学柱设计，束流高达 200 nA，在 EDS、EBSD、WDS 和其他分析应用中具有优势。该系统支持低真空模式以及高性能低真空二次电子探测器和可伸缩背散射电子探测器，有助于直接观察导电性差甚至不导电的样品。 - 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪 - 30 kV 时分辨率高达 0.9nm - 三级聚光透镜设计，束流可调范围宽，最大束流可达 ...

倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 4.5, 3.9 nm

... SEM2100 是一款专为新手用户设计的钨丝扫描电子显微镜 (SEM)，操作简便、易于使用。 它简化了操作流程，在用户界面设计上遵循行业标准和用户习惯。尽管软件界面简约，但却提供了全面的自动化功能、测量和注释工具、图像后处理管理功能、光学图像导航等。这一设计理念完美体现了 "简约不失功能 "的理念。 ...

倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 0.6 nm - 1 nm
重量: 400 kg

... SEM5000X 是一款超高分辨率场发射扫描电子显微镜（FE-SEM），具有突破性的 0.6 nm@15 kV 和 1.0 nm@1 kV 分辨率。 突破性的 0.6 nm@15 kV 和 1.0 nm@1 kV 分辨率。得益于升级的柱工程工艺、"超级隧道 "技术和高分辨率物镜设计，SEM5000X 能够进一步提高低电压成像分辨率。试样室端口扩展到 16 个，试样交换负载锁支持最大 8 英寸晶圆尺寸（最大直径 208 毫米），极大地扩展了应用范围。先进的扫描模式和增强的自动化功能带来了更强大的性能和更优化的体验。 ...

空间分辨率: 3, 0.9, 1.6 nm

... CIQTEK DB500 是一款带有聚焦离子束柱的场发射扫描电子显微镜，用于纳米分析和试样制备，采用 "超级隧道 "技术、低像差和无磁物镜设计，具有低电压和高分辨率能力，确保其纳米级分析能力。离子柱采用 Ga+ 液态金属离子源，离子束高度稳定且质量上乘，确保了纳米制备能力。 DB500 配有集成的纳米操纵器、气体注入系统、物镜电气防污染装置和 24 个扩展端口，是一个具有全面配置和可扩展性的全方位纳米分析和制造平台。 ...

倍率: 1 unit - 300,000 unit
空间分辨率: 2.5 nm - 5 nm
长度: 926 mm

... SEM3300 是新一代钨丝扫描电子显微镜，在 20kV 电压下分辨率优于 2.5 nm。其特殊的电子光学设计突破了钨丝的分辨率极限，在 1 kV 的低电压下即可达到 5 nm 的分辨率。 它具有出色的成像质量，可在各种视场范围内获得高分辨率图像，提供大景深。强大的扩展性使其能够探索显微成像的世界。 特点 1.分辨率：2.5 nm @ 20 kV, SE；4 nm @ 3 kV, SE；5 nm @ 1 kV, SE 2.放大倍率：1 ~ 300,000 x 3.加速电压：0.1 ...

倍率: 66 unit - 1,000,000 unit
空间分辨率: 1.3 nm
长度: 1,716 mm

... 用于大体积试样跨尺度成像的高速扫描电子显微镜 CIQTEK HEM6000 采用高亮度大束流电子枪、高速电子束偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸入式电磁和静电组合物镜等技术，可在确保纳米级分辨率的同时实现高速图像采集。 自动化操作流程专为更高效、更智能的大面积高分辨率成像工作流程等应用而设计。成像速度比传统的场发射扫描电子显微镜（fesem）快 5 倍以上。 1.图像采集速度：10 ns/像素，2*100 M 像素/秒 2.分辨率：1.3 nm@3 kV，SE；1.5 ...

倍率: 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 1.2, 1.9 nm

... SEM4000X 是一款稳定、多功能、灵活、高效的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）。它的分辨率高达 1.9nm@1.0kV，可轻松应对各类样品的高分辨率成像挑战。它还可以升级为超光束减速模式，进一步提高低电压分辨率。 该显微镜采用多探测器技术，柱内电子探测器（UD）能够检测 SE 和 BSE 信号，同时提供高分辨率性能。 腔内电子探测器（LD）集成了晶体闪烁体和光电倍增管，灵敏度更高，效率更高，可生成质量上乘的立体图像。 图形用户界面方便用户使用，具有自动亮度和对比度、自动对焦、自动定焦和自动对准等自动化功能，可快速捕捉超高分辨率图像。 ...