显微镜测量系统

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光学和触觉测量机
光学和触觉测量机
ZEISS O-INSPECT DUO

... 蔡司 O-INSPECT duo 在一台机器中提供了两种技术:既可以对 PCB、燃料电池或电池等大型工件进行整体高分辨率测量和检测。三维测量技术和显微检测的结合提高了效率,节省了质量实验室的空间。蔡司 O-INSPECT duo 有 8/6/3 尺寸可供选择。 二合一:显微镜和测量机合二为一 快速精确的三维测量 - 光学和触觉 高分辨率光学镜片,带附加检测软件 ZEISS ZEN core 蔡司首款多技术系统 作为一款 "VMM 显微镜",蔡司 O-INSPECT ...

涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
MX3200

... 显微测量机 MX3200 将显微成像与传统视频测量相结合,实现了微小特征的大范围测量。它配备了电动转塔,可通过切换不同镜头测量各种微观二维尺寸,包括点、线、圆和几何公差等。 ...

振动测量系统
振动测量系统
RoboVib

RoboVib® - 用于自动实验模态测试的结构测试站 RoboVib®结构测试站将激光精确测量的三维扫描测振技术与工业机器人技术相结合,为振动分析、自动模态测试、FE模型验证或大型或复杂形状测试对象的结构动力学测量提供了最佳的自动化测量解决方案。RoboVib将通过减少测试时间和实验模态分析的潜在误差,大大加快您的研究和产品开发。例如,对一个白车身的完整测试可以在短短1-2天内完成,而厥后的测试方法只需要几周的测试准备。 合同测量、测量服务和租赁 使用非接触式和自动化的激光振动测量也是一种服务,或者将您的测量任务外包给Polytec! ...

双折射测量系统
双折射测量系统
PA series

... 二维双折射测量系统 我们的宽范围双折射测量PA/WPA系列系统提供透明和半透明材料的高速双折射测量,如镜片和其他透明部件,用于残余应力评估,或透明薄膜的相位均匀性评估。 从微观到宏观(~50cm),视场可以适应几乎所有的测量FOV。不管你的主题是什么,我们相信我们有一个适合各种尺寸的系统。 所提供的专用软件提供了诸如改变视场大小和增加高延迟样品的测量范围等选项。提供各种过滤器,如降噪或局部变化增强等,以帮助您的数据分析任务,另外可配置的和多个过滤器可以同时应用。软件分析功能也可用于扩展PA/WPA系统功能,以满足您最苛刻的偏振成像需求。 应用 测量延时和方向,以及在。 - ...

视频测量系统
视频测量系统
C500

... C 系列自动视频测量系统 自动测量,经济实惠 高分辨率彩色摄像机 特点 一体化机器,稳定、安全、可靠。 快速自动对焦,自动边缘。 强大的编程和自动测量功能。 高精度花岗岩底座、工作平台、支柱,确保机器稳定性。 三轴伺服闭环控制系统。 软件操作方便,符合国际显微办公软件操作习惯。 产品规格 - 测量范围(mm)(X-Y-Z) :500x400x200 - CCD : 彩色摄像头 - 放大倍率 :镜头 0.7X-4.5X,显示器放大倍数:28X-164X - 工作距离:85 ...

各向异性因素测量系统
各向异性因素测量系统
2-MGEM

... 与橡树岭国家实验室合作开发的一个新仪器正在推进对第四代核燃料和反射偏振特性的理解。 2-MGEM光学各向异性系数测量系统是一个正常入射偏振反射显微镜,旨在测量样品穆勒矩阵,是2008年研发100奖得主。 该系统专门设计用于评估TRISO核燃料热碳层截面的光学各向异性系数(OPTAF)。其他可能的材料表征包括在正常入射下测量其他晶体、碳化合物和薄膜涂层(如表面沉积薄膜)的穆勒矩阵元素。 2-MGEM还可以测量延缓(d),圆形消散(CD)和偏振系数(ß)。这些参数用老的技术是无法测量的,因为这些技术没有加入补偿性的光学元件。 联系我们以了解更多关于2-MGEM系统的信息,并了解Hinds仪器如何与我们的客户合作解决复杂的计量问题。 测量TRISO。 了解TRISO内部热碳(IPyC)和外部热碳(OPyC)涂层中石墨的优先取向,可以确定会导致安全壳过早失效的形成取向问题。 ...

直径测量系统
直径测量系统
AccuNet QC Pro

... 经济、用户友好的离线部件测量系统 快速、轻松地设置离线直径和椭圆度测量系统,用于对您的零件样品进行质量控制。 • 多功能测量 — 允许您在离线环境中使用 Beta LaserMike 在线测量仪,单轴和多轴版本,例如实验室或生产车间质量控制站 • 设置简单-轻松设置并通过 USB 或以太网将仪表连接到可选 PC • 用户友好软件-轻松设置仪表、多个零件配方、运行菜单和颜色编码显示器,使 AcCunet 易于使用 • 强大的功能-生成趋势图表、执行 SPC 功能、记录关键测量数据等 • ...

厚度测量系统
厚度测量系统
MT-100 + Zoom70

... MT-100-Z70。小尺寸的测量台与高分辨率的变焦光学装置相结合 测量工作站MT-100-Z70将高分辨率光学系统和视频变焦显微镜Z70的高效摄像技术与模块化测量台系统MT-100相结合。该设备除了与生产有关的材料和产品测试外,还非常适合在X、Y和Z方向对层和结构进行测量。 应用。 μm范围内的高度测量(层和结构厚度,划痕) 测量平面部件(晶圆和掩模)。 微观和宏观结构的检查和测量 材料分析和金相检验 印刷电路板(PCBs)和金属研磨探头的检查 优势。 ...

光线强度测量系统
光线强度测量系统
DXMOKE

... DXMOKE 系列磁光克尔效应系统可以直接获得纵向、横向和极性克尔旋转角或椭圆滞后环,还可以获得矫顽力和饱和磁场等磁特性。磁光克尔效应系统(MOKE)是研究磁性薄膜、磁性纳米结构和自旋电子学的理想工具。 在物理学中,磁光克尔效应(MOKE)或表面磁光克尔效应(SMOKE)是磁光效应之一。它描述了从磁化表面反射的光的变化。 注:克尔角是线性偏振光照射到样品后发生旋转的角度。克尔椭圆度(不要与数学中的椭圆度混淆)是线性偏振光反射后产生的椭圆偏振光的半主轴和半次要轴的比值。 DXMOKE ...

全自动测量系统
全自动测量系统
SUMMIT200

... 新的Cascade SUMMIT200先进的200mm探针系统,对于收集单片或批量晶圆上的高精度测量数据至关重要;尽可能快。 SUMMIT200探针站设计用于研发、设备表征/建模或利基生产应用,可对超低噪声、直流、射频、毫米波和太赫兹应用进行精确的温度电气测量,具有半自动和现在的全自动操作,可在最快时间内获得准确数据。 新一代探针系统支持PureLine™技术,以实现市场上最低的噪音水平之一。获得专利的AttoGuard®和MicroChamber®技术大大改善了低泄漏和低电容测量。一个新的先进的200毫米快速平台,处理多达50个晶圆的盒,高产量的测试功能,以及-60°C至300°C的宽温度范围,为科学家、研发和测试工程师或生产操作员提供了快速完成工作所需的一切。 SUMMIT200探针台支持Contact ...

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