X射线测量系统

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灯光测量系统
灯光测量系统
XMS

... 用于工业自动化的在线XRF 用于工业XRF自动化的仪器 XMS是一种用于在线XRF测量的坚固耐用的多功能传感器,专门为满足不同工业应用的要求而开发。 该系统重量轻(<2公斤),设计坚固,对于环境和操作条件要求便携的应用来说,它是完美的XRF分析仪,同时也提供了对冲击、振动、潮湿和灰尘的极端坚固性。 XMS带有一个基于XML的专用应用编程接口,可以方便地集成到几乎所有的编码语言(Python、C、VB等)中。 其他功能包括: 20平方毫米的SDD,带有CMOS放大器和基于石墨烯的窗口,用于检测光元素 ...

厚度测量系统
厚度测量系统
RAYEX® D series

X射线测量仪,用于测量 低压、中压和高压电缆的 壁厚、偏心度、直径和椭圆度 特点 用于测量壁厚、偏心度、直径和椭圆度的测量系统 可以检测的壁厚薄至0.3 mm 可测量15 mm … 140 mm的产品 同时测量3层 独特的X射线源设计理念,集成高压源和微束光路 独特的自适应集成解决方案,适合热轧和冷轧应用 可通过集成的各种接口通信,例如Ethernet IP、Profinet ...

X射线测量系统
X射线测量系统
RAYEX® S series

X射线测量仪,用于测量 电缆、管材和软管的 壁厚、偏心度、直径和椭圆度 特点 可以检测的壁厚薄至0.3 mm 可测量4 mm …100 mm的产品尺寸 多层测量选项 安全设计理念可以确保辐射安全 长效的X射线源 可通过集成的各种接口通信,例如Ethernet IP、Profinet IO或Ethernet TCP/IP 所有处理器版本中都集成有Web服务器 产品工艺配方简单. 优势 • ...

表面重量测量系统
表面重量测量系统
CHIPINSPECTOR

... -使用双能量X射线方法可靠地检测异物 -通过振动输送机实现均匀的材料分配 -通过精确的挡板转移异物,最大限度地减少好的材料被拒绝。 效益一目了然 -提高了质量 -通过卓越的面板质量使客户满意 -更少的投诉 -提高了产品的质量 -降低材料成本 -更少的废品 -高达55吨/小时的材料负荷。 -降低生产成本 -由于下游设施的压力较小,维护工作较少 -磨盘的寿命更长 测量方法 使用双能量方法,99%的异物可以在材料供应中被检测出来,并在它们到达下游工序之前被分流。由于不同材料的特定吸收行为,单位面积重量相同的材料 ...

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Fagus-GreCon/格雷康
表面重量测量系统
表面重量测量系统
BOARDSCALE T

... 持续监控材料分布和面板重量 * 适用于高生产速度 * 在有限空间条件下安装可能(例如压力扩展) * 使用均匀测试样品进行校准可实现精确测量 * 节省称重表 • 不依赖皮重-适用于薄板 测量方法 连续电路板秤以非接触方式运行。 为了测量,要称重的材料被 X 射线穿透。 根据材料的数量和材料的具体重量,传感器测量的辐射强度会发生变化。 这是单位面积(kg/m²)的重量度量。 用途 * 木基板:交叉切割前后锯 * ...

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Fagus-GreCon/格雷康
表面重量测量系统
表面重量测量系统
MATCONTROL HF

X 射线扫描仪GreCon MATCONTROL HF 确定生产线上无限材料宽度上的单位面积的重量。 与通常的称重系统相比,操作员在成型后直接获得无尽材料的材料分布的完整图像。 有关材料分布的信息可用于使用合适的工具(例如 FORATOR、调整表)干预成型过程。 由于高分辨率在平方毫米范围内,因此有可能精确确定异物的大小和位置。 检测到超出测量产品密度公差的金属和非金属材料(例如胶水或纤维块、塑料、轻金属零件或材料过度扩张)。 甚至可以检测到可能损害绝缘材料生产过程的热点和湿点。 ...

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Fagus-GreCon/格雷康
坐标测量系统
坐标测量系统
metroVoxel

高精度三维测量与分析,实现内部无损分析和全尺寸测量。 工业测量正从以往传统的外部测量,向内部无损分析及全尺寸测量转变。X射线CT技术凭借断层成像并配合先进的测量分析软件,在无损情况下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、材料构成及缺损状况。计量型CT是具有高测量精度的CT系统,也被称为X射线三坐标测量系统,借助三英精密的metroVoxel计量CT技术,您只需一次扫描,就可以成功获得内部和外部所有的结构并进行尺寸测量。 特点与优势 ●配备光栅尺闭环控制系统 ...

形状测量系统
形状测量系统
Axion® T2000

Axion® T2000 X 射线尺寸量测系统可对先进的3D NAND 和 DRAM 芯片中使用的高深宽比结构进行高分辨率、快速、准确、精确、无损的 3D 形状测量。利用创新的 X 射线技术,Axion T2000 可识别可能影响存储器件性能和良率的细微结构变化(弯曲、突出、CD 轮廓、蚀刻深度、椭圆率、倾斜等)。Axion T2000 采用非破坏性在线测量,可帮助存储器制造商在研发期间达到快速学习周期,以替代 ...

涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
FISCHERSCOPE® X-RAY

... 测量大型工件。 大型专用外壳,用于集成费舍尔 X 射线测量技术,测量大型工件的涂层厚度和材料分析。 用于超大型样品的 X 射线荧光分析。 FISCHERSCOPE® X-RAY 模块化箱体将大型箱体与 Fischer 成熟的 X 射线荧光测量技术相结合。您可以选择将测量技术安装在适合您需求的箱体内。可集成 FISCHERSCOPE® ...

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HELMUT FISCHER SRL
直径测量系统
直径测量系统
iXRAY

... 标准系统可用于测量管径范围1到63毫米的管道。iXRAY系列操作方便,操作人员只需选择管道、软管或电缆配方即可开始测量。通过将其与重力计量系统和其他已验证过的iNOEX产品结合使用,生产线可实现最高生产效率,同时节省原材料。这使得X射线测量系统iXRAY为挤出线的自动化运行提供了完整的解决方案。此外,X射线测量系统不会对操作人员造成任何危害。辐射量远低于法律允许的下限,以及其他方面的安全规定,确保了安全使用。 ...

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iNOEX GmbH
裂纹测量机
裂纹测量机
Inspex IN

Inspex IN-X射线检测仪 组装产品内部的无损检测。 工业X射线检查系统 INSPEX IN X射线检测仪是基于X射线源、探测器、控制产品的自动系统、图像处理软件和控制点算法的组合。 辐射防护是由铅制护服来保证的。 应用 INSPEX IN X射线检测仪适合检测无法无损打开的组装完成产品。它适用于航空航天、汽车、制表、电子、医疗设备或家庭自动化系统的多材料系统或子系统。 为什么我们与众不同? 无损多样化检测 -装配不正确(螺钉、连接器等缺失或位置错误)、材料故障 ...

带厚测量机
带厚测量机

... Vollmer的辐射测量仪采用无接触操作,并在安全距离内进行测量。它们的特点是极其精简的设计。有些系统的C型架只有120毫米宽。 孚尔默公司的X射线系统采用数字探测器,使其噪音值极低。孚尔默公司为这些系统提供高质量的陶瓷管和必要的冷却器。 同位素系统也有数字检测器。孚尔默系统的一个特点是,辐射源位于一个特殊的钨制抽屉中,可以很容易地从量具中取出。 合金补偿是以传统的方式使用校准板进行的,或者根据客户的化学合金分析在计算机上进行,或者简单地使用一个小型的接触式测厚仪,该测厚仪在通过开始时测量绝对厚度 ...

形状测量系统
形状测量系统
VBP

... VBP 系列的系统是离线触觉测量系统,用于评估从线圈切割的带材样品上的横截面(无论是什么合金)。 它们经常用于铝和钢的热轧轧机,因为正是在这里设置了横截面以适用于钢带的所有后续用途;交叉剖面测量在这一点上具有重要意义。 在轧制过程中,X 射线仪通常使用,不管合金如何运行,而且由于测量点的高温和其他环境条件,精度有限。 然后使用 VBP 系统离线执行高精度交叉剖面测量,测量精度低至 ± 1 µm。通过这种方式,铣削操作员可以实现较高的工艺可靠性。 ...

定向测量系统
定向测量系统
YX-2 series

... YX-2 系列 X 射线定向仪器采用 X 射线衍射原理,将光、机械、电力设计合并为一个精密单元,可快速测量自然和人造晶体(蓝宝石、压电晶体、光学晶体、半导体晶体)的表面,如果与 切割机也可用于晶体定向切割。 现在,该仪器已成为制造晶体组件的必要设备。 它已被广泛应用于晶体材料的研发、制造企业,尤其适用于研究实验室、学校、公司。 特点: X 射线晶体定向仪器操作简单,不需要太专业的认可或技术,数字显示屏测量角度便于观察。 ...

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Liaodong Radioactive Instrument
X射线测量系统
X射线测量系统
PREXISION

... 普雷西昂 PREXISION是一种测量传感器(X-Soft),X射线低发射,是最流行和有效的薄膜和片材控制方法之一。 主要特点 高保护容器,坚固而紧凑,适用于任何类型的工业应用,甚至在危险环境中。 使用低发射的辐射 高精度标准,可靠且使用简单。 配备微处理器:测量处理和转换,在通过 "Profibus "进行数据传输时提供支持。 类别。传感器。 标签:Biax挤压, 吹膜, 流延膜, 非织造布, ...

X射线测量系统
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Xstress Robot

Xstress 機器人通過x光衍射對大小複雜的零件進行應力測量簡單靈活。 • 無損的 • 精確的6軸工業機器人(可選額外的軸) • 複雜零件(如渦輪葉片)的自動繪圖是可能的 • 易於更換x光管(鉻、銅、鈷、鐵、釩、鈦、錳),可測量不同的材料 • 三個標準測量距離: 50、75和100毫米 • 兩個NMOS位置敏感探測器 • 暫態可調2θ角 • 運行測量和計算殘餘應力和殘餘奧氏體含量的XTronic軟體(可選) • ...

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