涂层厚度分析仪

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涂层厚度分析仪
涂层厚度分析仪
FT200 Series

日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术,可提供准确和精确的结果,坚固耐用,可以应对生产或实验室环境中的持续使用。 无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征,还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量,日立镀层 XRF 分析仪都能应对这些挑战,帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂,部件越来越小,我们的产品系列旨在应对未来的挑战,为您的投资提供永不过时的保障。 PCB ...

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Hitachi High-Tech Analytical Science
金属分析仪
金属分析仪
X-Strata920

日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术,可提供准确和精确的结果,坚固耐用,可以应对生产或实验室环境中的持续使用。 无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征,还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量,日立镀层 XRF 分析仪都能应对这些挑战,帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂,部件越来越小,我们的产品系列旨在应对未来的挑战,为您的投资提供永不过时的保障。 PCB ...

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Hitachi High-Tech Analytical Science
涂层厚度分析仪
涂层厚度分析仪
FT110A

日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术,可提供准确和精确的结果,坚固耐用,可以应对生产或实验室环境中的持续使用。 无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征,还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量,日立镀层 XRF 分析仪都能应对这些挑战,帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂,部件越来越小,我们的产品系列旨在应对未来的挑战,为您的投资提供永不过时的保障。 PCB ...

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Hitachi High-Tech Analytical Science
涂层厚度分析仪
涂层厚度分析仪
FT160 Series

日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术,可提供准确和精确的结果,坚固耐用,可以应对生产或实验室环境中的持续使用。 无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征,还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量,日立镀层 XRF 分析仪都能应对这些挑战,帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂,部件越来越小,我们的产品系列旨在应对未来的挑战,为您的投资提供永不过时的保障。 PCB ...

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金属分析仪
金属分析仪
EDX2000A

... EDX2000A 全自动微区膜厚分析仪是天睿公司专门开发的一款顶级照度膜厚测试仪。 最能体现其多年的 XRF 膜厚测量技术。与传统的镀层厚度分析仪相比,它不仅在传统电镀上表现更为出色,而且更能满足半导体、芯片、PCB 等行业对非接触式微区镀层厚度测试的需求。仪器外形美观大方,触感简洁。通过平台沿 X、Y 和 Z 轴的自动三维移动、双激光定位和安全保护系统,可实现对平面、凹凸面、拐角面和圆弧面等各种简单和复杂样品的快速聚焦和精确分析。 应用领域 电镀行业 电子通讯 汽车制造 磁性材料 航空航天新能源 五金和卫生洁具 电气设备 贵金属电镀 ...

多元素分析仪
多元素分析仪
IM Series

... IM 系列是采用红外吸收技术的多红外波长分析仪,用于测量产品水分、有机化合物、薄膜厚度、涂层厚度等,使用从近红外到红外区域的最多 10 个波长,可以进行各种成分测量。 此外,最多可以同时测量四个组件。 -支持多个接口。 -配备 RS-485(MODBUS)、以太网(局域网)和模拟输出。 -高速、高灵敏度、多重计算。 -通过输出更新间隔 28ms,实现高速和高灵敏度测量,以及理想的光学设计。 另外,对于每个校准曲线的单独设置,还有双色、三色比计算和多回归计算,这些计算将多分量变量因子考虑在内,并实现最佳条件设置。 ...

涂层厚度分析仪
涂层厚度分析仪
Terra980

镀层厚度测量在加工行业的表面处理环节中起着重要的作用,是确保产品达到优等质量的必要手段。镀层的厚度与生产成本密切相关,鉴于某些金属市场价格的波动,如果镀层太厚对于加工企业来说很容易造成损失。反之,镀层太薄则将无法达到性能指标或外观要求而造成返工或退货。基于X射线荧光(XRF)的镀层厚度测量是一种被广泛接受和被业界认可的分析技术。 新一代Terra980手持式XRF镀层厚度分析仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。无论是生产过程中对镀层厚度的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,Terra980都能够满足您的检测的需求。Terra980分析镀层厚度具有快速、准确、非破坏、非接触、可进行多层合金测量,高效率、高再现性等优点,可以帮助用户实现产品质量管理并节约成本。 使用优势 快速易用 实现镀层厚度及成分分析的秒级检测速度,体积小巧,便于携带; 高精确度 采用进口陶瓷封装微型X射线源和高性能半导体探测器,有效提高测试精度; 操作简单 直观用户见面,几乎不需要培训,配备大尺寸高清晰触摸显示屏; 智能操控 全自动智能控制,一键式测量; 一机多用 可在未知镀层成分时快速分析镀层厚度及组成,轻松针对标准镀层实现镀层分析标准化; 坚固耐用 坚固耐用、符合IP54标准,防水防振,可在恶劣环境下工作.

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AXR Scientific Instrument(Hangzhou) Co.,Ltd.
质量控制分析仪
质量控制分析仪

有快速、高精准度、轻便、易携带等优点,其可对大量金属合金进行现场检测和快速分类,为使用者提供迅速高效准确的数据信息,是钢铁冶炼、有色金属、精细化工、废料回收等领域 当遇到有大量的产品需要检验或下游客户要求产品全检测时,面对巨大的检测任务量,ARX Scientific公司推出在线的XRF分析仪,很好的满足了用户大批量产品在线实时检测需求,对生产线上的产品进行实时的、无遗漏的自动检测,并实时呈现化学元素成分信息和进行故障产品筛查,大大提升了检测效率,降低了人工成本。 性能特点 ——全天时、全天候(24/7)运行 ——可实现大批量生产、处理产品100%品质管控 ——经过配置,可提供通过/失败结果、准确的合金牌号,以及材料的化学成分信息 ——元素分析范围:K19-U92钾到铀,可分析含量范围:1ppm- ...

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AXR Scientific Instrument(Hangzhou) Co.,Ltd.
铬分析仪
铬分析仪

... 该手持式 XRF 分析仪是首款采用新型大尺寸高分辨率 LCD 和数字多通道数据处理器的便携式涂层厚度分析仪。它可以对大面积涂装产品进行膜厚分析。该仪器不仅体积小、重量轻,而且可以随身携带进行测量。这款 XRF 手持式分析仪还具有可与台式电脑媲美的卓越性能。 产品规格 XRF 手持式分析仪可同时检测钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、锗、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、铟、锡、锑、铪、钽、钨、铼、铂、金、铅、铋等元素。可根据客户要求定制。 XRF 手持式分析仪应用 金属建筑材料 重金属检测 汽车饰件 管道卫生洁具 电力电气 ...

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