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Keithley PCT 参数化波形记录器配置 开发和使用 MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley 高功率参数化波形记录器系列的配置支持所有的设备类型和测试参数。 Keithley 参数化波形记录器配置包括检定工程师快速开发全面测试系统所需的一切。 特点 •完善的解决方案，价格实惠且性能优异 •可现场升级和重新配置，将 PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪 •可配置功率电平： o200V ...

... 世界上最先进的光散射仪器，用于对蛋白质、共轭物、大分子和纳米颗粒进行绝对表征。 DAW® HELEOS® II 是首屈一指的多角度静态光散射 (MALS) 探测器，用于对溶液中大分子和纳米颗粒的摩尔质量和尺寸进行绝对表征。 DAWN 提供最高的灵敏度、最广泛的分子量、大小和浓度，以及用于增强能力的多种配置和可选模块。 DAW 最常与凝胶渗透色谱（GPC-MALS）或尺寸排除色谱（SEC-MALS）或场流分馏法（FFF-MALS）结合使用，以确定质量、大小和成分的分布，而不依赖于参考标准柱校准。 ...

... 吸油数据系统符合ASTM D2414 OAN和D3493 COAN（碳黑），ASTM D6854（二氧化硅），以及ISO 4656的规定。 DABS是一个吸油系统，用于表征炭黑和白炭黑的结构，以及其他粉末材料的吸油情况，也称为DPB吸油量、DBP数或DOP数。 记录完整混合曲线的数据处理最初由HITEC卢森堡公司开发，此后不断进一步扩展，以满足日益增长的性能要求。三阶多项式的曲线拟合是最初开发的结果，在ASTM D2414中被作为 "程序B "引入。 主要特点 ...

... 顶点单传感器测量离子能量分布作为高宽比撞击等离子反应器内表面的函数。 这款独特的等离子体表征仪器还可以测量离子能量、离子通量和偏置电压。 离子击中特征底部的角度可以通过离子能量分布作为纵横比函数来确定，用户可以在等离子反应器中特定位置监测蚀刻轮廓的质量。 顶点单传感器测量等离子体表面上的高宽比、离子能量、离子通量、负离子和 Vdc 等函数的离子能量分布。 Vertex Single Sensor 正越来越多地应用于工业和研究领域，如等离子体蚀刻、离子束和等离子体溅射，用于等离子体表征和等离子体相互作用分析。 ...

... PID Eng&Tech（Micromeritics 公司）设计的一种新设备，可用于表征任何动态流动系统中的催化剂，而无需将其从反应器中排出。它是一种多功能设备，配备了所有必要的设备，一旦与任何动态流动系统连接，就可以进行热编程测试，也可以使用脉冲技术来表征任何异相催化剂在工作条件下活性相的分散情况。 当催化床发生任何反应时，该设备携带的检测器对分析气体热导率的任何变化都非常敏感。此外，它还包括自己的软件，用于跟踪探测器在发生反应时发出的信号，以及随后对反应产生的峰值进行整合和处理。 值得一提的是，对催化剂进行化学特征描述非常重要，因为如果不进行化学特征描述，就无法预测催化剂的活性，甚至无法在催化剂失活后对其进行现场特征描述，而无需将其从反应器中提取出来，从而避免了催化剂与大气的接触。 这种新设备可以在大气压至 ...

... 紧凑、经济、灵活。 用于开发和实验室环境的最先进的传感器系统水平测试。 S-TEST/2 台式设备 设计紧凑，功能广泛。 尽管设计紧凑，但SPEKTRA的S-TEST/2台式设备提供了完整的测试界面，使传感器开发者能够在产品开发阶段就对不同的技术要求作出灵活的反应，同时不断检查产品的正确功能和性能。 传感器的激励 处于市场顶端的能力。 结合不同的刺激，如加速度或压力，传感器可以在测试实验室和开发期间在几乎真实的现场条件下进行测试。由于与S-TEST实验室系统完全兼容，大规模生产的测试程序可以在开发阶段就准备好，从而缩短上市时间。 组件 许多组件 ...