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DektakXT®探针式轮廓仪采用革命性的台式设计，可实现 4Å （0.4nm） 的无与伦比的重复性，扫描速度可提高 40%。探针式轮廓仪性能的这一重大里程碑是 Dektak® 五十多年创新和行业领导地位的顶峰。DektakXT 结合了行业第一的技术和设计，可提供极致的性能、易用性以及价值，实现从研发到质量控制的更好过程监控。DektakXT 的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学行业的关键尺寸的纳米级表面测量提供支持。 DektakXT ...
Bruker Handheld XRF Spectrometry
... 双面扫描 专用于螺纹工件 特点 1.双面轮廓扫描功能 使用 T 形测针扫描物体表面，获得物体轮廓，然后软件可根据轮廓计算二维尺寸和 GD & T。 2.螺纹扫描功能 可扫描普通螺纹环规/塞规、锥螺纹环规/塞规、普通环规/塞规、梯形螺纹、锯齿螺纹、多头螺纹工件、导螺杆等。然后，软件可以分析其综合参数，如内外直径、轮廓参数等。 ...
CP系列台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。 CP系列台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。 CP系列台阶仪具备极强的应用场景适应性，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。 ...
... 项目编号: SJ5718-PR 产品名称：轮廓测量机 X 轴测量范围：0~100 毫米 X 轴指示误差：±（0.6+0.02L/100）µm Z1 轴测量范围：±30 毫米 Z1 轴分辨率 0.1 微米 Z1 轴指示误差：±(0.6+|5H|/100)µm 扫描速度： 0.05~5mm/s 可调 生产商： Chotest Technology Inc：Chotest Technology Inc. 功能 1.表面轮廓评估：可评估半径、角度、距离、坐标、圆、圆截面，确定点、各交点、坐标轴、直线、垂直线、圆和圆截面，分析轮廓的直线度、圆度；更多功能： ...
适用于车间检测的、高精度表面粗糙度解决方案 完美结合了业界领先的技术指标和便捷的操作方式，具有极高的实用性。 Intra功能和特点 • 1 mm 和 2 mm量程配置 可用于精密加工和大部分车间应用的表面粗糙度测量。 • 水平驱动箱 50 mm行程 兼具精确性和便携性。 • <0.30 μm / 50 mm直线度误差 高精度驱动基准可测量大零件的波纹度和形状 • 0.5 μm水平数据采样间隔 可更加有效地测量小零件及其特征。测量时，启动长度和停 ...
TAYLOR HOBSON
该仪器拥有坚固耐用的外壳。实用中可做到长时间无需保养维护亦可保持精准。其灵活性、可靠性、易于适用等特点使Form Talysurf Intra 成为诸多行业中车间型精密仪器的典范。 诸如Ra等简单的粗糙度测量可以使用我们的Surtronic 系列产品。如果您需要更多层面的测量分析，更高层次的测量结果，Form Talysurf Intra 将是您最好的选择。该仪器完美的结合了业界领先的精确度和便捷的操作方式，具有极高的实用价值。 •垂直量程1mm 、相应分辨率16nm 可用于金属或其他材质轮廓线以及粗糙度的精密测量。 •可完成全程50mm ...
TAYLOR HOBSON
光学表面粗糙度和形状测量设备 泰勒•霍普森 Form Talysurf PGI 接触式光学轮廓仪可测量大矢高透镜、塑料透镜、小部件、直径可达 300 mm 的红外玻璃和晶体的表面粗糙度和形状，精度高，是光学器件制造商的首选仪器。 自1984年发布以来，Form Talysurf很快成为光学生产商测量非球面形状误差的首选测量仪。自此以后，全球范围上千家生产商开始使用该仪器，使其很快成为行业领域的最佳测量标准。 我们拥有专利技术的PGI (Phase ...
TAYLOR HOBSON
Tencor P-7探针式轮廓仪以成功领先市场的Tencor P-17台式探针式轮廓仪系统为基础。它涵盖了P-17的卓越测量性能，为台式探针式轮廓仪提供了出色的性价比。Tencor P-7探针式轮廓仪支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，扫描范围可达150mm，无需拼接。 特征 台阶高度：纳米级到1000微米 恒定力控制：0.03至15mg 样品的全直径扫描，无需拼接 视频：5MP高分辨率彩色相机 弧形校正：可消除探针的弧形运动引起的误差 软件：简单易用的软件界面 生产能力：全自动测量，具有测序、图形识别和SECS/GEM功能 应用 台阶高度：2D和3D台阶高度 纹理：2D和3D粗糙度和波纹度 形状：2D和3D翘曲、形状 应力：2D和3D薄膜应力 缺陷检测：2D和3D缺陷表面形貌 工业 高校、实验室和研究所 半导体和化合物半导体 LED：发光二极管 太阳能 MEMS：微机电系统 数据存储 汽车 医疗器械 更多内容：请联系我们并告诉我们您的需求
KLA Corporation
多功能轮廓测量仪可消除死角，测量光泽面 消除非接触的“无法测量”操作简单的轮廓测量仪。侧面和背面，都可用电动旋转单元测量。 •最快1 秒对整个面进行高精度3D 测量 •消除死角，光泽面也可测量 •一台应对图纸指示 3D 轮廓测量仪“VR-6000 系列”以非接触方式直接实现粗糙度仪、形状轮廓测量仪的测量。3D 轮廓测量仪以 0.1 µm 分辨率捕捉触针式无法充分测量的面整体形状。还新搭载了电动旋转单元。在旋转样品的同时进行测量，能够消除死角，再现真实的截面形状。可简单测量壁厚及凹陷尺寸。另外，采用 ...
... Panasonic UA3P 轮廓仪系列专为测量非球面透镜和模具、半导体晶片以及任何其他需要纳米级精度的精密部件而设计，测量范围可达 200mm x 200mm。不同型号的机器可满足您对光学和高纵横比测量的需求。 UA3P-300、UA3P-4 和 UA3P-5 都能为用户提供原子力显微镜技术的精度和坐标测量机的测量范围。我们的独特方法是在测针中使用原子力探针技术和基于氦氖激光的 XYZ 轴干涉定位技术。 将这项技术与坚固的花岗岩基座相结合，您就拥有了一个可以在工厂车间使用的坚固的计量系统，并且还能提供 ...
... 基于 55 年的表面测量创新和技术领先地位，Dektak Pro™ 为测针轮廓仪的性能设定了新标准。该系统以无与伦比的易用性提供最高质量的数据。 第 11 代 Dektak® 系统集以下优点于一身： 无与伦比的精度和优于 4 Å 的重复性 加快测量和分析速度 一套布鲁克独有的多功能性和易用性功能 只有 Dektak Pro 能够提供最新的测针轮廓测量技术和所需的可靠性，以支持您在未来的尖端研究和工业应用。 行业领先 测量和分析 确保每次都能获得准确、精确的数据。 独特的 直接驱动扫描平台和软件 加快获得结果的时间。 简化 软件和针尖交换 提供无与伦比的多功能性和易用性。 过去五十年来，布鲁克公司的 ...
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