台式轮廓测量仪

形态参数和表面地形的三维和区域评价 TopMap Pro.Surf可快速确定大面积的形状偏差和表面形貌，并且具有极高的精度。TopMap Pro.Surf是一个高端光学表面轮廓仪系统，非常适合精密机械制造业的质量控制，无论是在线、在生产线上还是接近生产。TopMap Pro.Surf为所有表面表征任务提供定制的解决方案，只要评估表面参数，如平面度、台阶高度和平行度是基本的。其高空间分辨率和远心光学概念以及出色的测量速度使其成为生产层面上最可靠的非接触式传感器解决方案。 测量形状公差，如平面度、波浪度、台阶高度等。 Polytec白光干涉仪实现了区域性的三维测量，在一次拍摄中收集所有的表面细节。在44 ...

用于微观结构和粗糙度的紧凑型光学轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap白光干涉仪系列的紧凑型测量系统，能够对表面结构细节、表面纹理和表面粗糙度参数进行可重复和高分辨率的检查和评估。通过集成CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + 粗糙度、纹理和微观结构的全面积和三维形貌分析 + ...

表面细节、形状参数和粗糙度的综合光学三维测量 TopMap Pro.Surf+为所有表面表征要求提供定制解决方案，评估形状参数，如平面度、台阶高度、平行度和表面粗糙度。其空间分辨率和远心光学系统可到达深层区域，加上无与伦比的测量速度，显示了这种生产计量工具的高性能。 TopMap Pro.Surf+ 使用诸如平面度、台阶高度、平行度和粗糙度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之，空间分辨率、远心镜头和速度确实令人印象深刻。 白光干涉仪与色彩共焦技术的组合意味着不会忽略任何细节。几秒钟内就可完成 ...

... 1.表面轮廓评价。可以评价半径、角度、距离、坐标、圆、圆形截面，并确定各点、各相交点、坐标轴、直线、垂直线、圆、圆形截面，分析轮廓的直线度、圆度。 更多的功能。 (1)建立回归线和圆 (2)建立点、相交点、自由点、中心点、最高点和最低点 (3)建立坐标系 (4)计算半径、距离、角度、坐标和线性偏差 (5)比较实际值和名义值 (6)测量程序自动运行 2.SJ5701可以评估表面粗糙度。Ra, Rz, Rt, RS, RSm, Rp, Rv, Rq, Rt, ...

... SJ5720-OPT 系列在一次扫描后即可测量表面粗糙度和轮廓。此外，该系列还配有专门的软件模块，用于测量和分析大型非球面表面，因此是光学镜片行业理想的测量解决方案。 它还可用于大型曲面的轮廓和粗糙度测量，如轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片等。因此，它被广泛应用于精密加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。 特点 1.一次扫描后同时评估轮廓和粗糙度参数 2.高精度、高稳定性和高重复性 3.非球面光学软件模块 4.智能管理和先进的软件分析系统 5.扫描过程中的智能保护系统 6.灵活的手动控制 7.高稳定性隔振系统 ...

　　SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1.系统光源及寿命：双LED光源（白光和绿光），10万小时超长寿命，终身无需更换； 2.测量模式：垂直扫描干涉模式（VSI），相移干涉模式（PSI），结合VSI和PSI的自适应通用测量模式（USI） 3.多区域自动分析：自动获取图案化形貌区域的三维信息（高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等），同时具有自动统计分析功能。 4.一体化操作的测量与分析软件，操作无须进行切换界面，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能。 5.测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等自动化功能。 6.测量中提供拼接测量功能。 7.分析中提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能，其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。 8.分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能，其中粗糙度分析包括依据国际标准的ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数分析功能；几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等功能；结构分析包括孔洞体积和波谷深度等；频率分析包括纹理方向和频谱分析等功能；功能分析包括SK参数和体积参数等功能。 9.分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能，设置分析模板，结合测量中提供的自动测量和批量测量功能，可实现对小尺寸精密器件的批量测量并直接获取分析数据的功能。 三、应用领域 　　对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计，集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身，是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量（CSI）轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型，优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛，可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等，是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品，Nexview™ ...

... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征，确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术，ZeGage Pro提供创新技术，以实现精确、可靠、简单和自信的表面计量。 独家功能包括SureScan™技术，用于振动稳健的计量，Part ...

NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的，并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术（CSI），它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型，可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ZYGO ...

先进的表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量设备 泰勒•霍普森 的 Form Talysurf PGI NOVUS 是最先进的表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量系统，为产品设计和生产带来了独特的优势。该仪器具有领先的 20 mm 量程，分辨率为 0.2 nm，能够以同样的速度和精度测量上下表面的粗糙度、形状、波纹度、直径、夹角等。 该系统是轴承、喷油器等精密零件制造商的理想解决方案。通过 Metrology 4.0 软件，还可获得表面粗糙度、轮廓和形貌等的即时测量分析反馈。 最先进的表面粗糙度、轮廓、3D和直径测量系统 新型Form ...

... NOVACAMTM OPTICAL 3D PROFILOMETERTM 系统以光纤为基础，提供以下功能 - 微米精度三维测量 - 尺寸几何 - GD&T 参数 - 粗糙度测量 - 缺陷检测 - 裂纹、划痕 - 半透明材料的厚度测量 - 可扫描难以触及的表面：侧视探头可扫描内孔 ID 和其他狭小空间，也可提供前视探头 - 基于光纤的测头易于与精密平台、第三方坐标测量机、数控机床或机器人集成，支持大批量连续流制造 - 完全可配置的自动检测。 值得注意的是，同一个测头可用于测量尺寸、粗糙度、缺陷和/或厚度。 测量 - ...

S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。 解决方案 大面积 3D 光学测量系统 - 先进制造业 - 考古学与古生物学 - 消费类电子产品 - 医疗设备 - 模塑 - 光学 - 钟表业

新型 S neox 在性能、功能、效 率和设计方面优于现有的 3D光 学轮廓仪，是Sensofar 的新一 代高端测量系统。 前所未有的速度 通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机，达到前所未有的速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以前快 5 倍。S neox 成为市场上速度最快的表面测量系统。 易于使用 Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 系统的诞生，我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。模块化设计的软件，使系统适应用户多样的需求。

... 完全无障碍 S neox五轴三维光学轮廓仪将高精度旋转模块与S neox三维光学轮廓仪的先进检测和分析功能相结合。这就实现了在规定位置的自动三维表面测量，可以结合起来创建一个完整的三维体积测量。 ...