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双轴千分尺
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
测量容量: 6, 40, 65 mm
二维高速投影尺寸测量仪 TM-3000 系列 特性 可同时测量多点的外径、高度差,因此可缩短单件产品生产时间。 可从获取的投影中同时测量最多16个部位的尺寸。 移动目标物也可无偏差测量 既是投影仪,又具备高速采样和位置补正功能,让在线测量更稳定。 可在现场稳定长期使用,因此可削减维护工时。 采用基恩士优异的光学设计,免除了驱动部分,且不会产生因浪涌噪声导致的劣化。
Keyence/基恩士
测量容量: 25 mm - 100 mm
解析度: 0.5 µm - 3 µm
... 二维光学千分尺 RF657R.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理,将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
测量容量: 15 mm - 60 mm
解析度: 0.5 µm - 3 µm
... 二维光学千分尺 RF657.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理,将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
测量容量: 1 mm - 1,575 mm
... 精度标准 如果您需要较大的直接读数范围,请选择 Labmicrometer 900 或 1600 型测量系统。该系统专为量具校准实验室和需要长距离精确内部和外部测量的车间环境而设计。 此外,Labmicrometer 还是理想的校准台和调整仪器,可精确校准内外比较测量量规、千分尺、卡规以及其他测量工具。常见应用包括测量端面/长度标准、长量块、插头/插针量规、螺纹量规和圆环/圆盘。 设置工作台测量应用: -端部标准件/棒规/球杆仪 -圆柱形设定规 -量规母机 -ID/OD ...
... XLS(ExacTum 激光扫描微分仪)系列激光仪代表了激光扫描微量仪的最新技术发展,具有创纪录的性能。 凭借其内置且功能强大的电子设备,XLS 微米可以作为独立的智能直径传感器使用。 当使用专用软件进行编程并完成外部显示单元和操作面板时,它们可以成为专用激光测量和控制系统的重中之手,用于对各种不同产品进行在线控制。 XLS 微米可通过标准以太网或 RS232 或 RS485 接口线直接连接到 PC、PLC 或 NC。 任何配备这种接口的电子装置都可以简单地获得准确和快速的直径读数:用户可以将测量数据输入到自己的程序中,以执行任何特定的任务。 ...
... 激光测距仪的双轴扫描激光测微仪范围从紧凑型 TLaser203™,其测量范围为 0.00158 微米(40 微米 2 毫米),到大型坚固耐用的激光测距仪 2120™,该激光测距可达 4.72 英寸(120 毫米)的零件,每秒扫描高达 8,000 次。 为什么我的应用需要双轴测量? 对于挤出管材的离线测量或量具引脚测量(也称为 go/no-go 插头计量器)等应用,质量或工艺工程师需要多个测量;使用双轴计,您无需旋转产品即可进行第二次测量。 同时执行两项测量。 ...
测量容量: 6 mm - 300 mm
VEA光学测微仪有270多种型号,是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。 VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上,而不会有精度损失的风险,因为它们有一个简化的校准系统,使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余 VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商,通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。 • - 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量,其精度与计量实验室中的测量精度相同(20°±1°)。 • ...
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