双轴测量系统

... VX8000系列闪光测量机基于视觉测量原理，采用精密的图像分析算法，配备高景深的双远心光学镜头，通过一键式操作实现快速尺寸测量。VX8000系列适用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、连接器、接插件、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗设备、手表、刀具等领域的精确尺寸测量。 应用 VisionX软件提供了多达80种提取分析工具，包括【特征提取】（如最大点、中心线、弧线、峰值等）、【附件工具】（如任意点&线&圆、拟合直线、拟合圆、切线、内切圆等）、【智能标签】、【形状公差】、特殊【应用工具】（如间距距离、间距角度、槽、螺纹、圆十字、下角、圆角等）。 测量结果及其主要统计值（如平均值、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpk等）将被自动记录和归档。操作人员可以选择不同的过滤条件来提取历史数据。 分层统计 趋势图显示测量值的规律性趋势，如测量值的单调性和周期性变化，可用于监测生产设备的生产过程的异常情况。 ...

... VX8000系列闪光测量机基于视觉测量原理，采用精密的图像分析算法，配备高景深的双远心光学镜头，通过一键式操作实现快速尺寸测量。VX8000系列适用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、连接器、接插件、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗设备、手表、刀具等领域的精确尺寸测量。 应用 VisionX软件提供了多达80种提取分析工具，包括【特征提取】（如最大点、中心线、弧线、峰值等）、【附件工具】（如任意点&线&圆、拟合直线、拟合圆、切线、内切圆等）、【智能标签】、【形状公差】、特殊【应用工具】（如间距距离、间距角度、槽、螺纹、圆十字、下角、圆角等）。 测量结果及其主要统计值（如平均值、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpk等）将被自动记录和归档。操作人员可以选择不同的过滤条件来提取历史数据。 分层统计 趋势图显示测量值的规律性趋势，如测量值的单调性和周期性变化，可用于监测生产设备的生产过程的异常情况。 ...

... 1.表面轮廓评价。可以评价半径、角度、距离、坐标、圆、圆形截面，并确定各点、各相交点、坐标轴、直线、垂直线、圆、圆形截面，分析轮廓的直线度、圆度。 更多的功能。 (1)建立回归线和圆 (2)建立点、相交点、自由点、中心点、最高点和最低点 (3)建立坐标系 (4)计算半径、距离、角度、坐标和线性偏差 (5)比较实际值和名义值 (6)测量程序自动运行 2.支持CNC自动模式；支持SPC统计和分析 3.支持导入CAD文件并对CAD轮廓进行注释。 4.支持导入PDF型材数据。 5.可将测试数据导出到Word、Excel、AutoCAD（可选）。 6.输出多种报告格式，并支持用户自定义报告，或自定义报告(可选) 7.可按对象类型、制造商、制造号、检验员、提交机构、设备号、检验日期或生效日期等查询和管理检验记录。 8.可一次性打印数据库中多个选定的试验记录或试验证书 9.用户友好的软件 10.数据备份和恢复 ...

... 快速精确测量 - 简单直观 如今，任何员工都能操作您的测量设备吗？ 我们将向您展示！配备 M3 的新型 V-CAD 60 将紧凑、便携、精确的测量设备与简单直观的 M3 测量软件界面相结合，只需动动手指即可完成测量！V-CAD 60 完全满足您的需求。只需将工件放置在图像区域的任意位置，轻触多点触控平板电脑的屏幕即可开始测量，几秒钟内就能获得最终测量结果和相关报告--快速、简单、可重复，精度堪称同类产品中的佼佼者。V-CAD 60 现在还配备了屡获殊荣的 SAPHIR ...

你们生产微型零件吗？ 比如制表零件、牙科植入物和精密机械？ 选择分辨率最高的光学测量机。 我们为微小的工件设计了Metrios HD和Metrios高清CROSS。 小零件和微型部件的完美解决方案。 固定平台还是滑动平台？下载规格并选择量程。

... METRIOS 332 多功能一体机 满足您对光学车间测量机的所有需求 X-Y 测量范围 300x300 mm，工件通道宽 200 mm。 平台最大承重 25 公斤。 宽视场传感器检测平台上的工件，并以最快速度进行测量。 超高倍率传感器可检测 X-Y-Z 轴上的点，即使是最微小的细节。 更全面的新型照明系统可屏蔽环境光线，即使在最难测量的表面上也能确保测量结果。 ...

... G 系列自动视频测量系统 自动批量测量，解放双手 G 系列是需要视觉和触觉测量的各种工业检测应用的理想之选。 特点 高精度自动测量、自动镜头、高精度自动变倍。 空气轴承导轨，无磨损，精密研磨导螺杆，高速无间隙，灵敏可靠，定位准确，运动精度高。 Joystick 控制自动功能：自动对焦、自动测边、灯光自动调节、自动切换比例，确保高效测量。 软件操作方便，符合国际显微办公软件操作习惯。 四轴自动循环控制。 高分辨率彩色摄像头。 数控程序高度可编辑。 高精度花岗岩底座、工作平台、支柱，确保长期稳定性。 规格 - ...

... 规格 - XY 轴移动范围：430 毫米 x 330 毫米 - Z 轴移动范围：200 毫米 - 摄像头：2000 万像素黑白摄像头 - 分辨率：0.1 微米 - 一次可测量的最大位置数：500 - 一次可测量的最大部件数：200 件 功能 - 自动测试：一键放置和测量，自动识别测量位置，自动测试，自动判断结果 YES 或 NO - 任意放置产品：支持任意放置，可搜索测量目标 - 扫描功能：扫描读取检测报告上的二维码，读取设置文件，避免程序出错 - 数据存储：自动保存测量结果和检测日期/时间/批号信息 - ...

... 规格 - XY 轴移动范围：600 毫米 x 800 毫米 - Z 轴移动范围：200 毫米 - 摄像头：2000 万像素黑白摄像头 - 分辨率：0.1 微米 - 一次可测量的最大位置数：500 - 一次可测量的最大部件数：200 件 功能 - 自动测试：一键放置和测量，自动识别测量位置，自动测试，自动判断结果是或否 - 任意放置产品：支持任意放置，可搜索测量目标 - 扫描功能：扫描读取检测报告上的二维码，读取设置文件，避免程序出错 - 数据存储：自动保存测量结果和检测日期/时间/批号信息 - ...

... 面对半导体产业链上游的原材料生产企业，自主研发的光谱共聚焦测量系统用于检测半导体原片和外延片的尺寸和平整度。 产品优势。 应用范围广 用于各种材料和抛光条件的4-8英寸原片、基片和外延片的检测 测量精度高 厚度范围。0-1mm 测量精度：± 1 μ M 重复精度：0.2 μ m 测量时间短 测量时间。30s/PCS(根据客户的检测轨迹) ...