手动测试座

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{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
手动测试座
手动测试座
Euclid Series

... 史密斯互连是设计和制造包装 (POP) 测试解决方案的领导者。 POP 测试的设计非常复杂,需要 IC 的顶部和底部同时接合。 用于手动测试的 Euclid 解决方案利用安装在处理器上的顶级接触器组件。 该组件包括一个 PCB,在顶部接触器的外围之外呈现一系列目标。 底部接触器采用弹簧探头架构,可将测试仪接口 PCB 的信号带到顶部 PCB,从而将测试仪的信号路由到封装顶部的存储器附件功能。 我们广泛的设计验证工具对 Euclid 产品的设计非常重要,因为必须在所有条件下对包装的每一侧进行校准;预测和核算热、应力和公差的影响。 ...

QFN测试座
QFN测试座
Kepler

... 用于外围集成电路的高性能磨擦触头技术 开普勒触头技术结合了悬臂触头的擦洗运动和弹簧探头的多功能性和模块化。该设计包括在设备向下冲程中的水平运动,以去除表面氧化物,提供稳定可靠的接触,并且不会对PCB造成损坏。 特点和优点 技术特点 -适用于测试LGA、QFN、QFP和其他变体 -刮擦动作可击穿器件焊盘上的表面氧化物 -信号路径短 -三温区插座设计,支持 -55 °C 至 +150 °C -可配置的设计灵活性,可集成到现有硬件设置中 -专为手动测试、台架测试和HVM生产测试而设计 -绝缘体外壳由高性能聚酰亚胺制成 -插座占地面积小 优点 -接触寿命长,磨损小,测试插入次数超过50万次 -为镀锡或镍钯焊盘提供可靠一致的接触,低一致的Cres -优异的信号完整性 -适用于广泛的测试应用 -与现有PCB插座尺寸和测试硬件相匹配,为客户节约成本 -可现场维修,易于清洁和维护 -低介电常数、低CLTE、优异的挠曲模量 -允许PCB上部元件靠近DUT放置,以获得更好的信号性能和更少的信号损耗 ...

研磨测试座
研磨测试座
M-L245-BK-T30-P

... 功率晶体管测试插座,定制间距 间距 高温 低放气 用于定制间距的高温耐热插座。 如果您想评估标准规格不支持的设备,您将不得不花费大量的时间和金钱。 但是,我们可以降低成本、缩短交货时间并进行小批量生产,因为我们备有 树脂外壳毛坯(无孔)。 支持各种封装和高温环境。 可用于测量评估、检查和安装等各种用途。 接触部分采用高可靠性的圆形引脚插座。 额定电流 接触电阻 绝缘电阻 温度范围 套管 - 黄铜,镍镀金 触点 - 高温铜合金,镍镀金 绝缘体 - 高温,热塑性塑料 绝缘体适用于定制或不规则间距。 仅绝缘体不出售。 ...

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JC CHERRY INC.
浸没式焊接测试座
浸没式焊接测试座
GU10 Series

... 用于石英振荡器、MEMS 等的测试和预烧插座 蛤壳、浸焊型 框架尺寸 10x16mm / 0.39x0.63" 专为手动器件设置而设计。 适用于特性评估测试。 标准插座阵容,可容纳 3225、5050 和 7050 等各种尺寸。 - 温度 -40 至 +150°C(典型值) - 可靠性高 - 具有成本竞争力 - 可定制,适合您的设备 目标器件类型: 石英晶体装置、石英振荡器、MEMS 设备、 声表面波滤波器、音叉谐振器等 ...

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高频测试座
高频测试座
GU10 Series

... 用于石英振荡器、MEMS 等的测试和预烧插座 蛤壳、高频类型 框架尺寸 10x16mm / 0.39x0.63" 专为手动设备设置而设计。 适用于特性评估测试。 使用浮动结构的超短探针、 适用于高频率。 - 温度 -40 至 +150°C(典型值) - 可靠性高 - 具有成本竞争力 - 可定制,适合您的设备 目标器件类型: 石英晶体装置、石英振荡器、MEMS 设备、 声表面波滤波器、音叉谐振器等 ...

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研磨测试座
研磨测试座
Image Sensor Sockets

... 大电流 高速接口 手动/搬运/烧入/批量生产 用于 CCD 和 CMOS 传感器的测试插座。 可定制各种封装,如 BGA、LGA、PGA。 使用我们的高可靠性弹簧探针、冲压引脚和插座引脚。 和插座引脚。 我们生产大电流测试插座、 我们生产大电流、高耐用性和高速接口的测试插座。 手动插座、处理插座和预烧插座。 图像传感器是一种半导体元件,可将通过镜头进入的光线转换为电信号。 近年来,CCD/CMOS 图像传感器的像素越来越高,功能也越来越强大。 我们根据各种设备规格(如 ...

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研磨测试座
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LGA Series

... 高可靠性图像传感器插座 用于 CCD 和 CMOS 评估板 - 与 SONY IMX 系列兼容 - 用于 CCD 和 CMOS 评估板 - 适用于 LGA、BGA、QFN -"间距 用于 LGA 器件测试、电路验证和开发的解决方案。 近年来,在对 CCD 和 CMOS 进行多样化检测时,无需将器件直接安装在 PC 板上。因此,在升级时无需更换 PC 板,从而降低了成本,并减少了每次更换主板时因融化焊料而对主板造成的损坏。 我们可以根据手动使用、处理机使用、预烧使用等各种类型进行定制设计。 此外,由于插座可直接连接到评估板上,因此可与机器视觉相机结合使用。 额定电流 温度范围 接触电阻 可接受的器件类型 ...

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手动测试座
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PGAxxxA-CMVS-Pxxx-xxx

... 用于 CCD 和 CMOS 评估板的高可靠性图像传感器插座 - 用于 CCD 和 CMOS 评估板 - 用于 PGA - 2.54mm/0.100", 1.27mm/0.050" 间距 用于 PGA 器件测试、电路验证和开发的解决方案。 近年来,CCD 和 CMOS 的检测越来越多样化,无需将器件直接安装在 PC 板上。因此,升级时无需更换 PC 板,从而降低了成本,并减少了每次更换主板时因焊料熔化而对主板造成的损坏。 我们可以根据各种类型(如手动使用、处理机使用、预烧使用)进行定制设计。 ...

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研磨测试座
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PGAxxxV-CMVS-Pxxx-xxx

... 高可靠性图像传感器真空插座 用于 CCD 和 CMOS 评估板 兼容 PGA 与真空环境兼容,除气率低。 该解决方案适用于 PGA 器件的检测、电路验证和开发、 和开发 PGA 设备。 减少对主板的损坏和 因升级而产生的更换需求。 兼容各种格式,如手动使用、 和预烧使用。 ...

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QFN测试座
QFN测试座
YED274

... 定制测试接触器,间距尺寸 ≥ 0.25 mm 手动或自动应用 接触力(典型值)介于 15 克至 35 克之间 性能卓越 高频功能 开尔文和非开尔文解决方案 适用于任何应用,如故障分析、ATE 和硅验证 配接周期 500,000 工作温度范围 -55 °C - 150 °C (初始)接触电阻 50 毫欧 额定电流 1.2 A 间距 0.25 ...

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