实验室微量天平

范围: 2 lb
温度: 0 °C - 40 °C

... QCM200 石英晶体微天平可测量表面或表面附近或薄膜内过程的质量和粘度。该系统包括一个控制器、晶体振荡器电子元件、晶体支架、三块石英晶体和 Windows 软件。 仪器读取 5 MHz AT 切割石英晶体的谐振频率和电阻。谐振频率的变化是晶体表面沉积材料质量的线性函数。共振时的电阻随与晶体表面接触的材料（薄膜或液体）的粘度/弹性而变化。 作为重力测量仪器，QCM200 可以测量从微克到零点几纳米的质量。检测极限相当于亚单层原子。可轻松观察构象变化，如相变、膨胀和交联。 该仪器专为处理重负荷（高达 ...

范围: 2.1 g
最低重量: 0.3 mg
重复精度: 0.15, 0.2 µg

将称量带到新高度. 出色的 XPR 超微量天平，具有2.1g 最大称量，0.1 µg可读性，采用主动式温度控制系统，内置 GWP 认证，SmartView 终端和现代化用户界面。 确保获得有效结果 XPR 微量天平具有出色的称量性能，即使在具有挑战性的条件下也可进行微小样品称量。 操作安全 防风罩设计简化清洁过程。所有部件均可轻松地拆除。体积小，带有 SmartView 终端，能够节省宝贵的工作台空间。 过程高效 现代化的用户界面提供方便的功能，如内置结果记事本、存储不同的方法，并简化直接数据传输等。

范围: 0.8 g - 52 g
最低重量: 0.12 mg - 2.4 mg
重复精度: 0.6 µg - 4.5 µg

... 您是否需要一款不仅能准确测定重量，还能进行数字审计、响应您的语音命令并向您发送轻量级信息的天平？ 如果是这样，请了解一下 ELLIPSIS 系列天平的功能： 数字称重审核器 确保您的天平可随时使用。它可以实时补偿空气浮力。此外，它还能告知是否需要对天平进行检查或对天平的准确性和灵敏度进行定期审核。 10 英寸显示屏 更大的屏幕（10''）意味着可在同一位置显示更多信息。在新的 ELLIPSIS 终端上，您最多可以看到 3 个屏幕、小工具、图表、状态、备注和方便的测量历史记录。 无懈可击的用户验证 天平首次使用密码验证用户、 RFID卡、指纹识别器、面部识别机制或这些机制的任意组合来验证用户。 环境光--天平与用户交流的创新方式 灯光颜色将告诉您有关状态、处理结果、程序或警报的信息。 热点 在与其连接的任何设备上使用天平。可以是智能手机、平板电脑或计算机。 射频识别 ELLIPSIS ...

范围: 150 kg - 6,000 kg

... 产品特性 • 风罩带内置称重传感器保护装置 • 氢镍充电电池肯辛顿锁 • 各种接口（CD-300、IM-WOS） • 可连接各种打印机 • 紧凑型设计 • 实现红外传感器功能（无触摸键） ...