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激光功率管理 CMOS 传感器的饱和点和损伤阈值都较低。 激光光束采样 BA 系列光衰减器在两个正交光楔上采用菲涅尔反射，以去除一小部分输入光束。保留入射光束偏振状态和辐照度。 多种可能用途 • 同时监控功率和光束剖面 • 不具有背面反射的偏振不敏感分束器 • 用于我们的能量或功率探测器的光学传感器 • 针对诸如 M6 系列与 PH 系列高灵敏度探测器的衰减器
Gentec Electro-Optics
高分辨率 兆像素的分辨率即使是准确分析测量极小的光束也能够游刃有余:4.2兆像素的分辨率(BEAMAGE-4M) 大孔径 • 11.3 x 11.3 mm(BEAMAGE-4M, BEAMAGE-4M-IR) • 20.5 x 20.5 mm(BEAMAGE-4M-FOCUS) 提供IR涂层处理 BEAMAGE-4M-IR产品经过荧光剂处理，用于IR波长（1495－1595纳米） 符合ISO标准 D4σ直径清晰度、质心、椭圆率、和定向符合国际标准ISO ...
Gentec Electro-Optics
光束分析相机带有荧光涂层，用于 IR 波长（1495-1595 纳米）。 高分辨率 兆像素的分辨率即使是准确分析测量极小的光束也能够游刃有余:4.2兆像素的分辨率(BEAMAGE-4M) 大孔径 • 11.3 x 11.3 mm(BEAMAGE-4M, BEAMAGE-4M-IR) • 20.5 x 20.5 mm(BEAMAGE-4M-FOCUS) 提供IR涂层处理 BEAMAGE-4M-IR产品经过荧光剂处理，用于IR波长（1495－1595纳米） 符合ISO标准 D4σ直径清晰度、质心、椭圆率、和定向符合国际标准ISO ...
Gentec Electro-Optics
带有光纤圆锥的光束剖面摄像机，可以投射更大光束。 高分辨率 兆像素的分辨率即使是准确分析测量极小的光束也能够游刃有余:4.2兆像素的分辨率(BEAMAGE-4M) 大孔径 • 11.3 x 11.3 mm(BEAMAGE-4M, BEAMAGE-4M-IR) • 20.5 x 20.5 mm(BEAMAGE-4M-FOCUS) 提供IR涂层处理 BEAMAGE-4M-IR产品经过荧光剂处理，用于IR波长（1495－1595纳米） 符合ISO标准 D4σ直径清晰度、质心、椭圆率、和定向符合国际标准ISO ...
Gentec Electro-Optics
针对千瓦级980-1080nm波段长激光的非接触式激光光束轮廓分析仪 描述: 获得专利的BeamWatch非接触式轮廓分析仪通过测量瑞利散射，精确捕获和分析波长范围为980nm - 1080nm的多千瓦工业激光。该分析仪包括全穿透光束测量技术、无运动部件、轻便紧凑型设计等特征，非常适合于多千瓦工业激光进行全面分析。 光束腰尺寸最小55um 功率级范围为1kW至100kW以上 千兆以太网接口 包含BeamWatch终端用户或技术员分析软件
Ophir Optronics
用于自动化制造的光束轮廓分析系统 描述: BeamWatch Integrated是一种全自动激光测量系统，设计用于对工业生产线上的关键激光束参数测量进行整合。BeamWatch Integrated基于BeamWatch专利的非接触式仿形原理，可实时提供所有关键激光束参数的非接触式同步测量，同时其内置功率计可传输绝对功率读数。 测量功率不超过10 kW（根据要求可达30 kW）的聚焦光束的所有关键激光束参数 实测激光参数包括： 光束腰（焦点）的宽度和位置 焦点转移 质心 M2 ...
Ophir Optronics
描述: BeamWatch AM是一种集成激光测量系统，设计用于测量激光增材制造系统的关键激光束参数。 BeamWatch AM能够沿相机视场（FOV）中的光束散焦线同时测量多个轮廓。以视频速率进行实时测量。ֺ包括： • 光束腰（焦点）的宽度和位置 • 焦点漂移 • 质心 • M2 或 K值 • 发散 • 光束参数产品 • 瑞利长度 • 绝对功率 实时性能还能够在激光启动期间测量动态焦移。BeamWatch AM测量技术的理论基础是，当光束通过介质传播时，空气中的氧和氮分子会让激光发生瑞利散射。这种散射光的测量为沿观察视图方向的激光束提供了等效狭缝扫描。利用传统相机和图像捕获系统来测量散射光。BeamWatch ...
Ophir Optronics
配合相机使用，完成近场激光光束轮廓分析 描述: 该近场轮廓分析还可与相机轮廓分析仪一起使用，对小光束进行分析，并包括一台用以将光束成像于相机探测器阵列显微物镜。该技术扩大相机测量范围，能测量因为探测器阵列像素尺寸的原因通常无法测量的小光束。在光纤波导分析、镜头特性分析和分析50m光束的其它应用中进行近场轮廓分析。
Ophir Optronics
... 传感面积更大的紧凑型 CCD 激光光束轮廓仪 用于激光光束分析的完整系统，由一个 2/3" CCD 摄像机头、一套装在外壳中的 3 个彩色滤光片（ND8,2xN16）、一个 USB 2.0 附件、光盘软件和手提箱组成。 BeamOn 2/3" CCD 系统是一种光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲激光束。其 2/3" CCD 传感器的有效面积为 8.5mmX6.35mm，像素尺寸为 11.6µmx11.2µm，可覆盖更大的光束尺寸。 它可以测量激光光束参数，如：光束宽度、形状、位置、功率和强度曲线。 BeamOn ...
Duma Optronics
... PRIMES MicroSpotMonitor-Compact (MSM-C) 是专为微处理器系统开发的，它以紧凑和模块化的测量系统扩展了基于摄像头的聚焦分析系统产品系列。 专为微处理设备而优化 MicroSpotMonitor-Compact (MSM-C) 专门针对微处理系统中有限的安装空间进行了优化。带有电子设备、衰减器和功率吸收器的摄像机外壳尺寸约为 230 x 120 x 60 毫米（长 x 宽 x 高）。该紧凑型设备没有自己的运动轴。 激光束通过测量光学元件放大，经两个分光镜衰减，然后通过偏转镜成像到 ...
... CAM SQUARED M2 测量系统 "CAM SQUARED "是 Imagine Optic 的最新产品，可提供精确可靠的激光光束质量分析，其 M 平方计算速度和简便性创下了其他系统的新纪录。 ISO 11146 标准要求至少有 10 个观测平面的强度分布，并从中计算出 M 平方因子。这些观测平面通常使用沿光轴移动的相机获取。Imagine Optic 提出了一种创新方法，只需一次拍摄即可获得所需的完整数据集。 最适合简单快速的激光质量测试 + ...
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