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测量容量: 0.3 mm - 40 mm
解析度: 10 nm
... OptoCONTROL 2700 高性能 LED 千分尺可为高要求的测量任务提供无与伦比的精度。可以高精度测量厚度、间隙、边缘和区段。可对 0.3 毫米以下的小物体进行精确测量。LED 精密测微计的线性度≤ 1 µm，数字分辨率为 10 nm。它可用于半导体生产、汽车工业、航空航天和医疗技术等领域。 其决定性优势在于远心光学系统，可显著优化测量精度。测量物体被均匀照亮，即使测量物体有角度或倾斜，实时倾斜校正也能确保获得极其精确的测量结果。因此无需对测量物体进行正交校准。 无论是高反射物体（如滚筒） ...
测量容量: 40 µm - 30,000 µm
超高速度、高精度数字测微计 LS-9000 系列 在现场旁边设置“离线测量”设备进行“在线测置” 在抗振动、倾斜等任何情况下 发挥优秀的处理能力 特性 在工件振动的环境下也可准确测量 具备超快的采样速度，即使目标物振动也可确实拍摄，进行准确测量。 倾斜工件也可稳定测量 由于内置可识别目标物倾斜的监控CMOS，因此能根据角度自动补正测量值，进行准确测量。 可在现场稳定长期使用，因此能削减维护工时 采用优异光学系统，除了没有驱动部分以外，还可实现各种耐环境设定。
Keyence/基恩士
测量容量: 25 mm - 100 mm
解析度: 0.5 µm - 3 µm
... 二维光学千分尺 RF657R.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
测量容量: 8 mm - 40 mm
解析度: 1.5 µm - 4.5 µm
... 二维光学千分尺 RF657.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
测量容量: 0.01 mm - 30 mm
在抗振动、倾斜等各种情况下发挥卓越的处理能力 高精度测微计，16000/秒的高速采样，配置特殊监控CMOS，产品倾斜也能实现高速高精度测量。最大光幕宽度120mm 在工件振动的环境下也可准确测量 具备超快的采样速度，即使目标物振动也可确实拍摄，进行准确测量。 倾斜工件也可稳定测量 由于内置可识别目标物倾斜的监控CMOS，因此能根据角度自动补正测量值，进行准确测量。 可在现场稳定长期使用，因此能削减维护工时 采用优异光学系统，除了没有驱动部分以外，还可实现各种耐环境设定。 可支持各种需求的测量头产品阵容 新增2轴型和大直径型的测量头
测量容量: 5 mm - 100 mm
... 气刀窗口保护 千分尺用于非接触式测量和检查物体的直径、间隙、位移和边缘位置。 -应用领域 精确测量、同步应用、快速测量过程、用于狭小安装空间的微型产品。 -测量原理 测微计的工作原理是所谓的 "影子 "原理。测微计由发射器1和接收器2两部分组成。 LED 3的辐射由透镜4准直。将物体5置于准直光束区域内，CCD光电探测器阵列6扫描形成的阴影图像。处理器7根据阴影边界的位置计算物体的位置（大小）。 ...
... 应用领域 激光显微仪设计用于非接触式测量和控制技术物体的位置和尺寸（直径、厚度、间隙），以及测量液体和散装材料的水平。 LCE25 模型。 操作原理 微米操作基于所谓的 “阴影” 原则。 该微米由两个块 — 发射器，1 和接收器，2. 半导体激光器的辐射 3 由透镜 4. 与对象, 5 放置在准直光束区域, 形成阴影图像的扫描与 CCD 光探测器阵列 6. 处理器 7 从阴影边框（边框）的位置计算对象的位置（大小） ...
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