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测量容量: 0 mm - 300 mm
解析度: 1, 2 µm
... 带升降杆的精密指示千分尺，测量范围从0-25毫米到275-300毫米，显示范围达±70毫米或±140毫米，分辨率为1或2微米。 技术数据 - 误差限制符合DIN 863-3标准 - 测量面 Ø 8 mm - 硬质合金面的测量面 - 隔热装置 - 以木箱交付 详细说明 千分尺 - 测量范围25毫米 - 读数0,01毫米 - 主轴螺纹间距 0,5 mm - 顶针-Ø 21 mm - 顶针、套筒和读数部件 优点 - 在整个应用范围内几乎保持稳定的测量力 - ...
测量容量: 30 mm
解析度: 1 µm - 10 µm
... 用于测量齿轮齿宽的数字测微计，直接测量范围为30毫米，主轴螺纹间距为2毫米。 应用 - 用于测量外部齿轮的齿宽 技术数据 - 可切换的分辨率 10 µm, 1 µm, 0,5 µm; 0,0005", 0,00005", 0,00002" 。 - 主轴间距2.0毫米 - 主轴类型非旋转式 - 棘轮的测量力约为7N - 圆盘直径25毫米 - 7段显示器高度12毫米 - 接口 接近性（Sylvac） - 保护等级IP65 - 软件功能 MIN MAX, MIN-MAX ...
测量容量: 25, 50, 75, 100 mm
解析度: 5, 10, 15, 20 µm
... 一维光学测微仪采用 "阴影 "测量原理，将准直激光射向接收器。接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。光学千分尺是一种非接触式设备，除了能测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特征外，还能理想地测量电线、棒和其他圆柱体的直径。 -直通光束千分尺 -发射器和接收器之间的距离远 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 25 mm - 100 mm
解析度: 0.5 µm - 3 µm
... 二维光学千分尺 RF657R.2D 系列 2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。 光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光发射到接收器。 接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投射的阴影边缘。 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 5 mm - 100 mm
解析度: 0.3 µm - 5,000 µm
... RF656XY 系列 - 高精度双轴千分尺 一维光学千分尺采用 "阴影 "测量原理，将准直激光射向接收器。接收器内的探测器阵列可精确测量光束路径上物体投下的阴影边缘。光学千分尺是一种非接触式设备，除了能测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特征外，还能理想地测量电线、棒和其他圆柱体的直径。 ...
RIFTEK EUROPE
测量容量: 3 mm - 100 mm
... 影子激光测微仪有广泛的应用，包括在汽车工业中测量刹车盘的厚度和发动机气缸的直径，在航空航天工业中测量飞机部件的高度，在医疗行业中测量人体组织的厚度，以及在制造业中测量玻璃、塑料和金属片的厚度。 影子激光测微仪的主要优势之一是它的高精确度和准确度，可以进行分辨率高达几微米的测量。它还具有快速、易于使用和非破坏性的特点，使其成为各行各业质量控制和检验的理想工具。 总之，影子激光测微仪是在各种应用中进行准确和精确测量的不可或缺的工具，为质量控制和检查提供了一个非接触和非破坏性的解决方案。 ...
测量容量: 0.1 mm - 50 mm
解析度: 1 µm
- 可用于测量电线、电缆、钢棒的直径 也可以 - 用于测量钢带、铜带的宽度或厚度 - 在测量范围内 无论产品是否抖动都可准确测量 - 非接触物体 避免被测物受到外力产生变形 导致 - 测量不准确
测量容量: 0.03 mm - 32 mm
... WILLAE 是一款台式激光微分仪，专门用于离线检查拉伸或挤出产品的直径和卵形。 WIRELAL 使用双轴激光仪测量产品的直径和椭圆度，如：拉丝，黑色和有色铁，电缆，搪瓷线，光纤... -可测量的直径范围从 0,04 毫米到 32 毫米，分辨率高达 0.1 µm -它检查线材公差，将测量值与预设限值进行比较。 -打印测量报告。 -它执行基本的统计分析。 -测量数据存储在内存中，可以下载到远程 PC。 ...
测量容量: 6 mm - 300 mm
VEA光学测微仪有270多种型号，是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。 VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上，而不会有精度损失的风险，因为它们有一个简化的校准系统，使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余 VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商，通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。 • - 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量，其精度与计量实验室中的测量精度相同（20°±1°）。 • ...
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