空间成像显微镜

... 数字显微镜用于故障分析、质量保证和控制、研究和开发或取证。出色的光学技术、直观的操作和智能软件使用户能够获得可靠的结果。 大的变焦范围（16:1）允许在不同的放大倍数之间快速变化。物体领域是可变的，从0.18到35毫米，无需重新对焦。倾斜支架（-/+60°，使用适配器可达到90°）和旋转样品台（-/+180°）只需一只手就可以简单操作。高分辨率的1000万像素摄像头，可快速显示实时图像（每秒30幅）。用于二维和三维测量的智能软件，可重复的结果和报告的创建只需点击几下即可。 ...

倍率: 160 unit - 175,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 15 nm

... 桌面 SEM 经济、易用，具有可靠的自动化功能。 Thermo Scientific Phenom Pure 台式扫描电子显微镜（SEM）是从光学显微镜过渡到电子显微镜的理想工具。它是高分辨率成像的经济型解决方案，可提供同类产品中最佳的成像效果。 Phenom Pure 台式扫描电镜采用长寿命、高亮度的 CeB6 光源，可提供高质量的图像，并具有市场上最快的加载和成像时间。非常可靠的自动对焦和自动光源对准功能使其成为市场上最方便用户使用的系统。 永不丢失的导航 通过独特的永不丢失导航功能，用户可以随时了解样品的位置。光学和电子光学图像的概览可随时提供清晰的参考点。通过集成的电动平台，您可以快速浏览样品。 使用简便 用户只需经过 ...

倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 10 nm

... 用多功能台式扫描电镜进行部件清洁度分析。 用于部件清洁度分析的台式扫描电镜 Thermo Scientific Phenom ParticleX TC台式扫描电镜是一款多用途的台式扫描电镜，能在微观层面上实现技术清洁。 材料表征 作为高质量内部分析的多功能解决方案，Phenom ParticleX Desktop SEM使您有能力对材料进行快速表征、验证和分类，用快速、准确和可信的数据支持您的生产。该系统操作简单，学习迅速，为更多的用户打开了粒子和材料分析的大门。 主要特点 技术洁净度 随着（汽车）行业内对超出光镜范围的较小颗粒的分析需求不断增加，Phenom ...

倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。

空间分辨率: 1.2 nm

操作高效便捷 创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到理想的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平 高性能电子光学系统 • 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)＊ • 高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能，低至100 V成像 • 大束流(>200 nA): 便于高效微区分析 性能优异 • 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配备高灵敏度低真空探测器(UVD)＊ • ...

倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm

集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* • ...

测量MEMS系统的3D动态特性及形貌特性 表面形貌、动态特性分析及可视化是显微结构（如MEMS器件）测试和开发的关键。这对于验证有限元算法、确定串扰影响和测量表面形变等都至关重要。 MSA-600-M/V型的测量带宽高达25MHz，适用于MEMS、MEMS麦克风和其它微系统的振动测试。 全新研发的MSA-600-X/U型的测量带宽更是高达2.5GHz，尤其适用于高频MEMS谐振器、微声器件如SAW、BAW等振动测试。 ...

... 表面形态是许多高科技表面的重要特性，其特征可小至几纳米，表面粗糙度低于一纳米。Nanite 是对各种形状和尺寸的工件进行表面分析的首选工具。它可以进行纳米级精确测量，而且本身非常小巧，可以集成到几乎任何可以想象到的环境中。 纳米级定量表面分析 从纳米技术到数据存储和精密光学，各行各业都离不开精确的纳米级表面分析。Nanite 是揭示复杂纳米级表面细节（包括对各种应用至关重要的亚纳米粗糙度）的重要仪器。 样品限制 - 无 质量和流程控制通常需要对无法分割成较小部分的较大部件或组件进行分析。无论是处理较大的样品还是复杂的曲线，Nanite ...

... CoreAFM 在设计上将原子力显微镜的所有基本要素都整合到了一个易于使用的集成装置中：一个现代化的挠性导向扫描仪、一个 XYZ 样品平台、一个用于观察样品的摄像头、一个主动振动台和一个气流屏蔽。专门设计的 24 位控制器可确保对扫描过程进行精确、可靠的控制，并便于数据采集和分析。CoreAFM 系统具备使用原子力显微镜探索纳米世界所需的一切；只需连接控制器，插入电源和 USB，即可开始工作。 无缝扩展功能 CoreAFM 是一款用途广泛、功能强大的仪器，可以处理空气和液体环境中的各种应用。无论您需要执行基本测量还是高级测量，CoreAFM ...

... Nanosurf LensAFM 是一种原子力显微镜，可用于光学显微镜和轮廓仪分辨率达到极限的地方。它像普通物镜一样安装，从而扩展了这些仪器的分辨率和测量能力。LensAFM 不仅能提供三维表面形貌信息，还可用于分析测量样品的各种物理性质。 无缝集成 在越来越多的情况下，研究人员希望将光学和原子力显微镜技术结合起来。光学显微镜的易用性、筛选能力和最低的样品制备要求几乎是无与伦比的。然而，当 100 倍物镜的分辨率不足以检查超出仪器分辨率的微小特征时，LensAFM ...