金属加工光谱仪

波长: 119 nm - 766 nm
长度: 76 cm
宽度: 43 cm

OE720和OE750是突破性的OES金属分析仪。其涵盖了金属*元素的全部光谱，并具有同类产品中较低的检出限。 由于行业法规日益严格，供应链变得复杂以及更多地使用废料作为基础材料，因此铸造厂和金属制造商必须将杂质和痕量元素控制在最低ppm范围内。在过去，这一级别的OES对许多企业而言是遥不可及。日立分析仪器推出的OE系列可改变这一现状。 日立直读光谱仪可用于分析所有主要合金元素，并识别金属中含量较低的杂质、痕量元素和关心元素，OE750还覆盖了罕见的应用，例如铜中的氧气和钛中的氧气、氮气和氢气。 OE系列的测量速度快、可靠性高且运营成本低，可进行高性价比的日常分析和全面质量控制，其性能可与更大、更贵的光谱仪媲美。 *根据应用，有关更多详细信息，请索取我们的应用报告。

操作简单且直观 *和TM4000Plus搭配应用实例 *探测器内置型 (制造商: 德国Bruker nano GmbH) 特点 通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布 移动到指定位置，可实时确认其谱图 双屏显示 仅需选择图像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时，实时显示点分析、线分析结果等多种分析。 超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果 点分析 可根据点位置移动实时追踪谱图，轻松确认目标元素。 实时在线谱峰剥离面分布 分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素，并显示正确结果。

波长: 170 nm - 420 nm
长度: 650 mm
宽度: 610 mm

... 全新设计的金属分析仪再次为 Belec 树立了新的标准。全新的 Belec IN-SPECT 具有独特的双光谱仪光学系统，可确保无与伦比的性能，同时显著降低该类仪器的维护成本。 它既可用于铸造厂的传统熔炼控制，也可用于货物接收、回收或生产控制的常规质量保证。 Belec IN-SPECT 是一款真正的多功能仪器： 测量程序的数量几乎没有限制，几乎可以满足所有要求，而且价格极具吸引力。 采用最新的 7GSO 系统，性能卓越 (第七代光谱仪光学系统） 专为光谱应用开发的最新型探测器 结构紧凑 便于维护和操作的设计 检测限低 高精度 用户友好型软件 ...