紧凑型测厚仪

测量范围: 2 µm - 2,000 µm

Elcometer 121 涂层观测仪 有两种型号可选，用来测量一层或多层涂层的厚度。 Elcometer 121/4 标准及高级型涂层观测仪 这涂层观测仪有两种型号可选，标准型 (S)和高级型 (T) 标准型 (S)涂层观测仪可用于微观涂层检查和涂层厚度的破坏性测量。 高级型 (T)涂层观测仪拥有和S型相同的功能，并可用来配合十字划割附着力测试。 主要特点 • 紧凑方便，非常适合在狭窄区域测量涂层厚度 • 阳极氧化铝制成，经久耐用 • ...

测量范围: 15 µm - 1,500 µm
测量频率: 4,000 Hz

CHRocodile 2K 光学传感器利用红外光对不透明或不反光塑料的壁厚进行精确的非接触式测量。 优势 • 塑料壁厚测量 CHRocodile 2 K 光学传感器利用红外光对塑料产品进行单面非接触测量，例如薄膜、挤出吹塑薄膜、预成型品、聚酯瓶、泡罩和气球，包括在线和离线测量。 • 高精确度 高动态响应和出色的信噪比确保了在大距离公差范围内的精确测量结果。 • 紧凑型设计 传感器的紧凑设计使其能够集成到生产环境的狭小空间中。 • ...

测量范围: 0.01 µm - 1,000 µm
测量频率: 1 Hz - 100 Hz

Enovasense PS 借助易于集成的超紧凑型探头，对任何涂层材料的厚度进行精确的无损测量。 优势 • 轻型光热辐射测量传感器，占地面积小 Enovasense PS 传感器头重量仅为 150 g，尺寸为 35 x 35 x 64 mm，是在线检测应用中理想的轻量化、超紧凑型光热传感器。每个传感器头都有一个单独的控制器，可以集成到几乎任何狭小而紧凑的空间中。传感器头和控制器之间的电缆最长可达 20 米。此外，探头没有移动部件，使得集成无需任何维护。 • ...

测量范围: 0.6 mm - 50 mm
重量: 50 g
环境温度: -30 °C - 50 °C

... A1207 PenGauge 的集成式产品设计将仪器和传感器集成在一个封装中，真正实现了单手操作，是一款功能强大、使用简单的设备。 功能和优点 - 设计紧凑：探头和显示单元合二为一 - 再也不会弄断电缆！ - 在明亮的 LCD 显示屏上直接读取数字显示的厚度值 - 只需两个按键，操作简单明了 - 根据已知壁厚或已知材料速度进行校准 - 热插拔内置可更换式 7 MHz 双晶探头，适用于所有标准应用，或可选配 4 MHz 单晶探头，扩大测量范围 ...

测量范围: 0.7 mm - 300 mm
重量: 200 g
环境温度: -30 °C - 55 °C

... 紧凑型超声波测厚仪的通用型号设置和使用都非常简单，而且价格实惠。它设计用于在 0.7 至 300 毫米的厚度范围内快速、高效地测量各种钢铁物体的厚度，包括小直径管道（20 毫米以上）。 由于它采用了带集成电缆的紧凑型独立集成传感器，因此非常适合在难以触及的地方进行厚度测量，该传感器也是基本组件的一部分。 它支持使用 AKS LLC 生产的频率为 4、5 和 10 MHz 的全系列分离式集成传感器。 它体积小、重量轻（仅 160 克），便于在高处使用，也便于储存和运输。 由于内置锂聚合物电池，测厚仪的电池寿命很长（至少 ...

测量范围: 10 nm - 50,000 nm
环境温度: 18 °C - 45 °C

... 紧凑型薄膜厚度监测仪是一种反射式分光光度计，使用一个小型反射探头，适用于从实验室层面到生产过程中的在线100%检测的所有情况。它有很好的可维护性，可用于纳入工艺设备和生产线管理。 可以同时测量多达9种类型的透明薄膜。 它可以作为各种多层薄膜工艺的在线或端点监测器。 紧凑的探头可以安装在加工工具内部的一个小空间里。它还可以通过EMA理论判断混合层的混合比例或多晶硅的结晶度。 ...

测量范围: 950 nm - 1,650 nm

... 红外线片材厚度监测仪测量半透明片材的厚度，如电池隔膜、低反射涂层，如黑色抗蚀剂和硅。它可以用于从实验室水平到生产中的在线100%检测的所有应用。红外吸收系统由一个紧凑的镜面探头和一个透射式光学系统组成，可以同时测量多个参数，如100多个波长的薄膜厚度、密度和成分。 1 测量半透明片、低反射膜、硅等的厚度，这在光学干涉仪中是很难做到的 2 紧凑的探头 通过采用一个30毫米的小反射探头，它可以安装在设备或生产线的小空间里。此外，由于探头只用一根光缆与主体连接，因此具有良好的耐环境性。 3 ...