集成电路的测试系统

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加速老化测试系统
加速老化测试系统
LDBI

普赛斯多路大功率激光器老化系统专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力 强,并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能,为大功率半导体激光 器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案。 ●单抽屉最多支持16路,最多8抽屉 ●各通道互相独立 ●电流回读,同步自动测 ...

集成电路的测试系统
集成电路的测试系统
BAT-NEDQ-04-V010

... 该设备旨在快速评估1s和2s电池的单总线锂离子电池保护板的基本功能和保护功能,利用IC罗盘美国TI系列(如BQ27742,BQ277410,BQ28z610,BQ27541,BQ27545,BQ2753X)。 与大量的气体测量仪IC兼容,具有高精度和快速测试的特点。 具有很高的精度,使其成为我们挑剔的客户的理想选择。 IC通信测试 HDQ/Voltage电压测试 空载/负载电压测试 静态电流消耗测试 传导/识别热敏电阻测试 过电压/过放电测试 过温保护测试 电容测试 过电流保护测试 短路保护测试 故障分析 低电压预充电测试 低温预充电测试 气体检测仪IC过电压二次保护测试 0Ω电阻测试 ...

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Fujian Nebula Electronics Co., Ltd.
集成电路的测试系统
集成电路的测试系统
BAT-NEZ-04-V006

... 这是一个PCM集成测试系统,适用于评估笔记本电脑锂离子电池中PCM的基本和保护特性。它主要用于下载参数、校准和测试德州仪器的气体测量仪IC(BQ20Z45、BQ20Z75、BQ28Z610、BQ3050、BQ3055、BQ3060、BQ40320、BQ40Z55、BQ40Z50、BQ30Z55、BQ34Z100、BQ9000、BQ40Z551、BQ27546、BQ27742和BQ27741)的保护功能。 具有独立的、多通道的模块化设计,便于维护和更换,以及各种数据报告功能。 独立通道同时并行测试,快速且节省人力资源 ...

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电子工业测试系统
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JH200

... 目标设备。智能IC / AP / CIS, DDl, ETC / RF 200 MHz DIGITAL DPS PMU ANALOG synchronous POWER HVDPS * option RF * OPTION取决于客户选择 256Site / 512Site / 1024Site / 2048Site ...

电子工业测试系统
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STS8200

... 模拟IC测试仪-STS8200 系统特点。 - 主机最多可以有26个插槽 - 专注于模拟、线性、PMIC和功率IC领域 - 全浮动V/I源,带每引脚16位数字转换器和AWG。 - 高电压V/I源和高功率V/I源为选件 - 带AWG和数字化仪的AC源/表 - 多通道高分辨率时间测量单元 - 最多32个数字通道,每通道5Mhz测试速率。 - 图形调试工具 - 多达16个站点 真正的多站点测试能力 - 支持乒乓模式、TWIN模式和多任务功能。 - ...

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Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
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STS8300

... PMIC测试仪-STS8300 系统特点 "ALL-in-One",所有模拟V/ls、VI源和数字通道都在测试头中。 专注于高引脚数PMIC,高并行模拟IC测试。 超过500个模拟通道 超过32个站点并行测试,采用硬对接方案。 ...

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