光学干涉仪

XL-80系统快速、精确，而且非常轻便，因此它成为销量最好的激光校准系统丝毫不足为奇。XL-80采用先进的软件解决方案，具有优异的性能，可以帮助您显著提高企业效益。 雷尼绍设计、制造和提供激光系统已有超过25年的历史。XL-80正是多年设计和制造经验的结晶，具有真正领先的系统性能和操作优点。

RLD10发射头内含有干涉镜组、独特的多通道条纹检测系统、激光光闸和内置的激光准直辅助镜。提供0°和90°两种RLD10发射头型号。 特性与优点 双轴解决方案 — 双轴平面镜系统是XY平台应用的理想解决方案。 高分辨率 — 与角锥反射镜系统相比，平面镜系统还可用于要求更高分辨率的应用。 敏感环境 — 还提供低功率型号的平面镜干涉仪发射头。适合其功耗要求低于标准RLD额定值（即 < 2 W）的应用。

... 白光干涉仪IMS5600-DS用于最高精度的距离测量。该控制器提供具有智能评估的特殊校准，可实现亚纳米分辨率的绝对测量。该干涉仪用于具有最高精度要求的测量任务，例如，在电子和半导体生产中。对于真空应用，Micro-Epsilon提供特殊的传感器、电缆和馈通附件。这些传感器和电缆在很大程度上是无颗粒的，甚至可以在UHV中使用。 该系统提供绝对测量值，因此也可用于阶梯轮廓的距离测量。由于采用了绝对测量，阶梯的采样具有很高的信号稳定性。当对移动物体进行测量时，脚跟、台阶和凹陷的高度差异因此可以被可靠地检测出来。该测量系统具有亚纳米级的分辨率，相对于测量范围而言，具有较大的偏移距离。 通过对透明物体的多峰距离测量，可同时评估多达14个距离值。例如，可以确定玻璃和承载板之间的距离。然后，控制器可以根据距离值计算出玻璃厚度。 IMS5600-DS干涉仪可用于真空环境和洁净室中的测量任务，干涉仪的分辨率达到亚纳米范围。 ...

Verifire™ 干涉仪系统可快速可靠地测量光学元件、系统和组件的表面形状误差和透射波前。 Verifire™ 系统采用真正的激光菲索设计，建立在 ZYGO 在表面形貌计量方面无与伦比的经验的基础上。ZYGO 制造的 HeNe 激光源与 ZYGO 的专利采集算法和功能齐全的 Mx™ 计量软件相结合，实现了高精度的计量和易于使用的分析功能 车间里的可靠计量 近年来，光学计量技术取得了很大的进步。 在过去，人们需要小心翼翼地控制环境的影响，才能获得可靠的测量。 ...

为动态测量提供可靠的计量方案 DynaFiz 动态计量干涉仪 专为在振动频繁的环境中进行可靠的干涉测量而设计；其多功能性和灵活性足以满足广泛的应用需求，包括从高端望远镜测试到主动对准光学系统的实时相位反馈等需求。 DynaFiz® 的高光效光学设计与 ZYGO 高功率 HeNe 激光源相结合，可在“冻结”振动的高摄像机快门速度下运行。这种动态能力可在对于传统的相移技术来说过于恶劣的环境中提供可靠的计量。 全相干光学设计，可实现最高的光效率，提高动态性能 具有 ...

干涉仪的分辨率已达其上限。Verifire HD 和 Verifire HDX 干涉仪系统可对光学表面进行无与伦比的中空间频率表征。 仅仅在系统中增加更多的像素是不够的，我们需要严格的光学设计，才能确保干涉仪的像素限制性能，并捕捉最苛刻的应用所需的表面细节。 ZYGO 专有的干涉系统相位传递函数（ITF）表征方法确保了性能与预期相符，可提供您应用所需的功能。 ZYGO 的 Verifire HD 和 Verifire HDX 被设计和制造用于表征极致性能光学元件和系统的中频信息。 ...

... 自由孔径为 100 毫米的 VI-direct 干涉仪可以检测直径为 25 至 100 毫米的光学器件。供货范围包括一个波长为 632.8 nm 的氦氖激光器。 通过 USB 3 端口直接连接电脑，无需图像采集器 - 高分辨率（3088x2076 像素）数码相机 - 曝光时间短，对振动不敏感 - 多种光学和机械附件 - 可在垂直、水平和倾斜角度下使用，因此可根据客户要求进行布置 - 由于设计紧凑，干涉仪可以很好地集成到与应用相关的工作站中 - 使用 ...

... 微型干涉仪 VI-direct 将平面度测试范围扩展到最小直径领域。菲佐型干涉仪能够测量直径在 0.8 毫米到 3.6 毫米之间的光学部件的表面平面度。微型干涉仪 VI-direct 性价比高，可用于测试微型棱镜、激光晶体、光纤末端等光学部件。 - 通过 USB 3 端口直接连接电脑，无需图像采集器 - 高分辨率数码相机（3088x2076 像素） - 曝光时间短，对振动不敏感 - 多种光学和机械附件 - 可用于垂直、水平或倾斜方向。这使得该仪器在客户的特定应用中具有极高的通用性 ...

... 测量站 Interferometer VI-direct 28 SUL 可以快速检测球形表面的形状或半径偏差。可选择使用 INTOMATIK-S 软件对干涉图进行评估。 - 通过 USB 3 端口与视频微型计算机直接连接 - 高分辨率数码相机（3088x2076 像素） - 曝光时间短，对振动不敏感 - 半径测量显示单元 - 一组光圈挡块 - 样品支持 XY 移位 - 用于快速预对准的查找器模式 - 易于使用 - 使用 INTOMATIK-S ...

... 作为 NOVACAMTM 三维测量系统的核心部件，MICROCAMTM-3D/4D 干涉仪为光学扫描探头提供光源，并对测量结果进行光学和电子处理。 NOVACAM 干涉仪 MICROCAM-3D 和 MICROCAM-4D 提供以下功能： - 微米精度 3D 测量 - 粗糙度、几何形状（GD&T 参数）、厚度、振动、缺陷 - 快速采集率高达 100 kHz，即每秒可进行 100,000 次 3D 点测量 - 测量不受环境光线、空气扰动或光束切割的影响 - 模块化和多功能部署，基于光纤的光学测头可集成到运动平台、机器人、龙门架、坐标测量机和数控机床上。 - ...

... 三束激光干涉测量系统，可同时精确测量长度、俯仰角和偏航角 - 灵活的长度测量系统，精度最高 - 集成光束方向检测功能，易于操作和调整 - 可使用各种光学反射镜，如球面镜、平面镜反射镜等 - 测量反射镜的允许倾斜度可达 ± 12.5° - 结构紧凑 - 传感器头可选择铝、不锈钢或无缝钢管材质 - 光束距离：12 毫米 - 可提供 OEM 版本、OEM 软件和真空版本 - 通过可选的可调偏转镜实现光束偏转 - 通过可选接口扩展应用范围 - 广泛的触发选项 - 校准软件符合现行标准 工业和研究领域的许多应用都需要高精度的位移和角度同步测量。在固定三反射镜单元的滑块移动过程中，同时采集俯仰角、偏航角和长度测量值，可以快速、高精度地评估运动轴。快速、简便的传感器调整在这里尤为重要。 SP ...

... 用于高精度长度测量的激光干涉测量系统 - 灵活的高精度长度测量系统 - 集成光束方向检测功能，易于操作和调整 - 可使用各种光学反射镜，例如三面镜、球面镜、平面镜反射镜 - 允许测量反射镜倾斜最大 ± 22.5°。 - 结构紧凑、坚固耐用 - 传感器外壳具有防水溅保护装置 - 传感器头可选择铝、不锈钢或无缝钢管材质 - 符合政府标准 - 可提供 OEM 版本、OEM 软件和真空版本 - 通过可选接口扩展应用范围 - 广泛的触发选项 高精度和可靠的结果对于导轨、测量平台、显微镜和定位平台、三坐标测量机和机床以及多坐标测量的长度测量和校准至关重要。我们的通用型激光干涉仪 ...

... 带两束平行测量光束的高稳定性差分激光干涉仪 - 最高精度的差分长度或角度测量 - 通过差分测量将环境影响降至最低 - 热长期稳定传感器，温度灵敏度 < 20 nm/K - 可使用各种光学反射器，如球面、平面镜反射器 - 测量反射镜具有较大的倾斜不变性 - 标配不锈钢传感器头 - 光束距离：21 毫米 - 广泛的触发选项 - 为 Windows 和 Linux 下的 OEM 软件提供开放式接口 我们的超稳定差分激光干涉仪 SP 5000 DI 具有独特的热稳定性，因此是研发领域（如材料特性分析）长期测量的首选。 与标准干涉仪不同，差分式激光干涉仪的参考光束从传感器头引出，与测量光束平行。这一概念使得传感器可以放置在距离实际测量位置更远的地方，而不会明显影响测量的分辨率或稳定性。这种干涉仪的长度分辨率在亚纳米范围内，而且由于采用了差分原理，即使在正常的实验室条件下，也能达到相当的测量或光束长度。 如果使用倾斜不变反射器进行测量，长度测量范围可达数米。干涉测量系统采用模块化设计，因此可以根据不同的测量任务进行调整。 ...

... 高精度的非接触式位移测量 对于位移的高精度测量，SmarAct提供PICOSCALE干涉仪。 - 3个平行激光干涉仪在一台仪器上进行3D测量 - 测量带宽高达2.5 MHz（10 MHz采样率），分辨率低至1 pm1 - 可在大多数材料（塑料、玻璃、金属甚至水）上进行测量 - 多种传感器头可用于不同的应用和环境（包括真空和低温）。 - 可通过可选的模块扩展为一个完整的实验室测量和控制仪器 - 经过验证的性能，有100多个满意的客户 1 在频域中分析周期性位移时 应用实例 压电式扫描仪的高分辨率光学位移测量 样品的精确定位在各种应用中都是最重要的。虽然采用粘滑压电技术的定位系统提供了多种可能性，但在某些应用中，滑移行为是不可取的。在这种情况下，压电扫描器充分显示了它们的潜力。 在这种情况下，压电扫描器显示了它们的全部潜力，因为它们可以在几微米的范围内非常准确地定位一个样品。在这个应用说明中，压电式扫描仪的步骤得到了验证。在使用光学编码器作为传感器的闭环操作中，采用PICOSCALE干涉仪来揭示单纳米的步骤。 DeepL ...

... 控制器包含激光器、检测电子装置，并通过几个接口提供所有数据。 PICOSCALE干涉仪是一个强大的系统，用于非接触位移测量。PICOSCALE干涉仪控制器包含一个激光源和所有必要的电子元件，以评估光学信号。这些信号在传感器头中产生，通过光纤连接到控制器上。分光器将激光束分为参考光和测量光，分别从参考镜（通常在传感器头内）和目标上反射出来。由于采用了迈克尔逊原理，只需考虑极少的目标反射率问题。强大的固件模块、方便的软件和多功能的附件使得PICOSCALE干涉仪控制器可以轻松地集成到新的或已经存在的测量设置中。 输出信号 通道数 ...

... Teem Photonics公司已经开发并提供了一个新的紧凑、稳定和高性能的干涉仪系列，用于测量皮米级的位移和振动。 Teem Photonics的PicoMove干涉仪是基于单芯片集成的高稳定性架构，其测量结果具有内在的超低噪声。 对眼睛安全的1.55µm工作波长提供了与商业电信源的兼容性。 该传感器的设计还可以处理可见光波长，以方便光束对准。Teem提出了使用低热膨胀材料和UHV环境的封装选项。测量系统的电气部分（激光源、检测器）通过可靠的光纤尾纤进行远程控制。 ...