光学测量系统

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平面度测量机
平面度测量机
Tropel® FlatMaster®

... Tropel® FlatMaster® 为精密组件制造商提供行业领先的表面形状测量性能。 我们的非接触式光学技术在几秒钟内记录整个表面。 FlatMaster® 提供 5 纳米分辨率和 50 纳米(2.0 μ”)的标准精度。 它可以快速准确地测量各种表面的平坦度、线轮廓、半径和其他表面参数。 FlatMaster® 的多种标准版本可用于优化不同元件尺寸范围内的精度。 FlatMaster® 40、100 和 200 分别测量不超过 40 毫米、100 毫米和 ...

厚度测量系统
厚度测量系统

... 面对半导体产业链上游的原材料生产企业,自主研发的光谱共聚焦测量系统用于检测半导体原片和外延片的尺寸和平整度。 产品优势。 应用范围广 用于各种材料和抛光条件的4-8英寸原片、基片和外延片的检测 测量精度高 厚度范围。0-1mm 测量精度:± 1 μ M 重复精度:0.2 μ m 测量时间短 测量时间。30s/PCS(根据客户的检测轨迹) ...

水平调节仪测量系统
水平调节仪测量系统
PowerCEMS100

... 高性能、面向未来的排放测量 CEMS PowerCEMS100 连续排放监控系统(CEMS)是经济上和技术上完美的提取测量任务解决方案。该一体化系统由高质量的标准组件和部件组成,采用模块化系统设计,可满足特定应用的要求。分析仪模块或气体调节器的改装既简单又便宜。创新的 PowerCEMS100 系统通过了欧洲标准 EN 15267-1/-3 和 EN 14181 的认证,可为排放测量和过程应用提供面向未来的解决方案。 优点 面向未来的投资,因为系统可轻松适应未来需求 调试简便,测量系统可在现场获得主管当局的无故障批准 电气组件和分析组件明确分开,易于维护 采用 ...

灯光测量系统
灯光测量系统
TRA 100 series

... TRA 100是一种透射测量适配器,可用于测定各种材料在正常入射光下的光谱透射特性。这种附件适配器的一些应用包括玻璃和光学滤光片的表征。 所有Instrument Systems公司的光谱仪都与TRA 100兼容。它可以通过两种方式连接到光谱仪上并耦合透射光。一是用多模光纤和SMA连接器,二是用光纤束。 为TRA 100提供光源有两种选择。第一个选择是固定在测头上的紧凑型10W卤素灯。第二种是光纤连接器,与Instrument Systems公司的LS 100或LS ...

形状测量系统
形状测量系统
Swift PRO

Hawk Duo 是精密工程师的绝佳解决方案,系统功能强大,既具备光学测量显微镜的可靠性和准确性,又具备数字视频测量的实用性和可重复性。 对于任何有精确自动测量要求的精密工程应用而言,它都是完美的工具。 轻松达到精度 Hawk Duo 配备了可进行粗略和精细运动控制的精密测量镜台,以及放大倍数更高的物镜,用于精确测量极小特征。 高生产率和高生产量 该产品能够同步执行检测和测量,让工作环境的生产率迈上新的台阶,同时该产品即使在手动模式下也可以快速移动镜台,帮助您更快完成测量任务。 ...

形状测量系统
形状测量系统
LVC series

全自动 三坐标测量系统 英国工业显微镜有限公司的 LVC400 和 LVC200 全自动三坐标测量系统,性能出众、简单易用,功能强大而全面,可以满足最严苛制造环境的要求。此系统的最大测量范围高达 400mm x 300mm x 200mm,是测量大部件的理想之选,也可同样轻松用于小部件的批量测量。 快速实惠的测量 电动测量平台和电动变倍镜头相配合,让系统自动移动,缩短测量时间,减少操作人员的不适感。不仅如此,多位置电动变倍镜头允许在测量程序中设置变更放大倍数,无需采用耗时的手动调整。 应用范围 凭借丰富的功能套件和令人难以置信的亲民价格,LVC系列成为了精密工程、铸造、塑料加工、电子和医疗设备制造等领域广泛应用的理想测量解决方案。 复杂零件接触式测量 使用选配接触式测头,轻松测量复杂特征和3D外形,还可搭配测头模块更换架,用于存放多个测头模块并实现自动更换。 大型部件和多个小型部件。 LVC400配备 ...

温度测量系统
温度测量系统
ContiPressureCheck™

... ContiPressureCheck™能立即检测到轮胎压力和温度的任何变化。 ContiPressureCheck™是一个直接安装在轮胎内部的测量系统。如果充气压力下降,轮胎在滚动时可能会受到更大的压力,导致轮胎发热,从而损坏轮胎,甚至导致爆胎的发生。ContiPressureCheck™使用轮胎内部的传感器持续监测充气压力和轮胎温度,以防止这种情况发生。 更多信息 ContiPressureCheck™适用于哪些车辆? ContiPressureCheck™具有高度的兼容性和通用性。 可以加装在许多类型的车辆上 无线电技术*允许在几乎所有的车辆尺寸和拖车上使用 适用于充气轮胎,轮胎充气压力从1.8巴到11.9巴。 ContiPressureCheck需要不同的组件和零件来实现轮胎的智能化。 ContiPressureCheck可以很容易地与您的车辆相连接。请看不同的可能性。 ...

光学测量系统
光学测量系统
NMH-02

... 光学内壁测量系统(光学径向扫描孔内壁数字化仪(ORBID) 即将推出 奥博雷开发的 "ORBID "是一种 OCT 内周表面测量仪器,可通过近红外光的光学干涉实现孔隙内周表面的可视化。 这项独特的发明得益于我们的微型电机技术和光通信技术。它结合了我们世界上最小的 φ0.9 毫米电机和我们的专利光学成像探头,并配备了我们的专利倾斜校正算法。它具有以下新功能:(1) 可测量小至 φ1.1mm 的内径;(2) 可同时测量内径、圆度和形状;(3) 重复性精度可达 σ=0.2μm;(4) ...

温度测量系统
温度测量系统
HUMY series

... 固体水分是一个重要参数,对产品质量有很大影响,并能从根本上提高生产的经济效益。HUMY 3019 在许多工艺中都有成功应用,如制糖、烟草、谷物、麦芽、面粉、煤炭、沙子、木屑、干食品、化肥、粉末、颜料、塑料颗粒等。特别适合安装在输送带、螺旋输送机、筒仓、漏斗等地方。在批处理过程中也可以进行在线湿度测量。测量时,在高频范围内测量固体的相对介电常数和高频衰退。测量过程简便,校准时间短,精度高达 0.1%。测量探头以数字方式传输数据。除了温度和老化漂移自动补偿、数字和警报退出之外,系统监控本身还集成了数据记录器。设备通过两个模拟输出口输出测量值,并可通过两个数字输入口或 ...

平面度测量系统
平面度测量系统

... 对于要求平面度小于 100 微米的任何表面,市场上都有利用 XY 工作台的 Z 轴光学检测系统。这些系统的价格不菲(接近 3 万美元),尤其是当目标零件尺寸大于 12 英寸(300 毫米)时。 一般来说,在制造过程中,磨削后的表面重复性好,可能不需要 100% 的检测。应用多点平面度检测板,通过 32 个点的空间阵列来突出已知的与完美平面的最大偏差,可以实现更低成本的解决方案,但却能获得 90% 的空间平面度结果。 通过将非接触式传感器多路复用解决方案应用于位置良好的传感器阵列,并使用 ...

干涉测量测量系统
干涉测量测量系统
202864

水平调节仪测量系统
水平调节仪测量系统
DischargeApp

... 高科技、低成本、用户友好的可扩展放电测量技术。 在一分钟内用智能手机测量水位、水面速度和排水量。 在1小时内建立一个测量站 计算是在智能手机上用DischargeApp完成的,不需要网络覆盖。 无错误的数据传输到云端 使用DischargeWeb进行直观的可视化、分析和管理。 效益 创新技术。低成本、高科技的智能手机应用,可快速、准确地测量水位、表面速度和体积流量或排放量。 多功能:DischargeApp可以测量任何类型的开放渠道和溪流的流量,如自然河流、灌溉沟渠或下水道网络,在不同的流量条件下。 快速。一个站点可以在1小时内建立起来。执行一次测量只需不到一分钟。 可靠的测量。每次测量都向用户提供水位、水面速度和排水量。所得的排水量是通过考虑水体表面的整个速度场计算出来的,这极大地提高了测量的准确性。 可升级。一旦建立了一个站点,其他用户就可以进行测量,从而可以收集更多的数据。 非侵入式。DischargeApp从水面的结构中提取速度信息。它不依赖于任何化学或粒子追踪器。这也使得这种测量技术在洪水事件中的使用是安全的,因为在洪水事件中,通过进入水面进行测量是非常危险的。 证明图像。每一次测量都会有图片证明。 ...

温度测量系统
温度测量系统
MSX-E3701

... 用于长度测量的 MSX-E3701 / MSX-E3700 以太网系统有 8/16 个输入端,用于电感式传感器(半桥、LVDT、Mahr 或 Knaebel)和 1 个 24 V 数字输出端,带比较逻辑。该系统专为恶劣工业环境下的动态长度测量而开发。它采用坚固的标准金属外壳,防护等级为 IP 40 (MSX-E3700) 或 IP 65 (MSX-E3701),温度范围为 -40°C 至 +85°C。ARM®9 32 位处理器可对采集值进行计算。开发模式允许对应用进行个性化定制。通过同步连接,可将多个 ...

重量测量系统
重量测量系统
LU-DT-ASC-K

... 带有内容物称重功能的不锈钢容器单元。 底座带有一个基座,用于安装搅拌器。 装置内容 不锈钢容器、移动底座、称重传感器、控制面板 结合 "称重 "功能,可以有多种用途。 测量送入搅拌器的物料量 与一个自动阀结合,可以喂入和排出固定数量的原料。 与自动阀和搅拌器相结合,可用于测量固定数量的送入、搅拌和排出的搅拌物料。 重量是由连接在支架上的称重传感器测量的。测量结果可以在控制面板显示器上检查。 其规格是这样的:即使容器因搅拌等而摇晃,也不可能出现测量误差。 容器为镜面板型,具有良好的搅拌效率。 容器和底座是可分离的,只有容器可以被拆下清洗。 照片仅是一个图像。实际规格将根据客户的使用情况来设计。 ...

托盘高度测量系统
托盘高度测量系统
CN.1000

... 托盘尺寸测量系统 全自动托盘尺寸测量系统,用于检测传送带上的托盘。多合一:尺寸测量+称重+图像采集+条形码扫描。既可作为独立解决方案,也可作为托盘输送系统的组成部分。通过条形码扫描仪扫描的装运条形码识别托盘。数据在本地数据库中处理,可与上层 IT 系统通信。 规格 - 测量能力:规则或不规则的非透明物体 - 最小物体尺寸:200x200x200 毫米 - 最大物体尺寸:2000x1350x2500 毫米(可根据客户需求调整) - 测量精度+/- 30 毫米 - ...

容量测量系统
容量测量系统
MGAprime Q

... 便携式自动测量系统(PAMS)适合作为QAL2和AST范围内校准和验证固定式AMS的标准参考方法,符合EN 14181标准 基本-设备 - 附带免费的MRU校准证书,TÜV证书 - 带有HPI气体采样探针头,为低尘气体滤芯集成加热器、 配有3米长的加热特氟隆采样管,用户可自行设定分析仪的温度调节、 使用K型(NiCrNi)热电偶测量气体温度 探头包括低尘气体滤芯和一根Ø12 x 300mm的可更换探管 - 包括10% H3PO4的APE加酸系统(磷酸应在当地采购或参见耗材/询问MRU)。 - ...

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MRU – Messgeräte für Rauchgase und Umweltschutz
光学测量系统
光学测量系统
C12562-04

Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C12562 是一款紧凑、节省空间的非接触式薄膜膜厚测量系统,可根据需要轻松安装在设备中。在半导体行业,因为硅穿孔技术的流行,硅厚度的测量至关重要;在薄膜生产行业,粘合层薄膜越来越薄,以满足产品规格。因此,这些行业现在需要更高的厚度测量精度,测量范围从 1 μm 到 300 μm。C12562 允许在 500 nm 至 300 μm 的宽厚度范围内进行精确测量,包括薄膜涂层和薄膜基板厚度以及总厚度。C12562 还提供高达 ...

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HAMAMATSU/滨松公司
容量测量系统
容量测量系统
9751

... 体积测量系统 - 光栅框架(发射机/接收机原理)。 - 纳入带状缺口 - 立方体和不规则物体 - 可根据OIML R129进行核查。 - 动态获取 特点 基于光栅的9751体积测量系统解决了物体测量领域的高要求应用。基于光栅,它可以精确测定物体的最小包络立方体,无论其表面状况如何。特别是透明和铝箔包裹的物体,可以可靠地测量。 - 比9750更便宜的替代产品 - 光栅框架(发射机/接收机原理)。 - 纳入带状缺口 - 立方体和不规则物体 - 物品尺寸最小为长50×宽50×高5毫米,最大为长5毫米。长50 ...

激光测量系统
激光测量系统
STA-CAC

... 在晶体生产过程中,由于材料纯度、生产工艺等原因,晶体的光吸收均匀性会受到影响,从而影响晶体效率;吸收电磁波后,电磁波能量转化为热能,引起材料内部温度变化,使晶体内部吸热不均匀,产生较大变形。因此,研究激光晶体材料的光吸收系数对激光输出和频率转换效率的影响具有重要的指导意义和实用价值。 利用双光路差分原理,实时监测样品通过前后的激光功率,旋转样品达到最佳测试点,从而得到激光晶体的吸收系数。 - 双光路设计可实时监测激光功率,确保测试结果的准确性 ...

直径测量系统
直径测量系统
3E TECH+

... 使用 Wohlhaupter® 3ETECH+ 外置数字读数模块提高生产率和质量。3ETECH+ 可与现有的所有镗头和镗刀架对接,这些镗头和镗刀架都有值得信赖的 3ETECH 接口,可在机床上轻松调整直径。兼容的镗刀包括 VarioBore、538 (537) 大直径精加工刀盒、465 (464) 平衡精镗头、420 (410) 非平衡精镗头、ES-Bore 精镗刀夹和专用镗刀。 如果您有特别独特或困难的应用,请致电我们的应用工程团队。 优势 - 快速轻松地进行微米级精确直径调整 - ...

位置测量系统
位置测量系统

描述:【保温杯视觉测温系统】采用红外热成像图、进行多模态融合和图像的精确配准,根据不同的温度成像效应判定不良品,然后利用机械手进行不良品分拣。 数据参数:识别率大于99%,误检率小于1%,20万次/月的测温量,处理速度小于20s/个

光学测量系统
光学测量系统
Prism

Prism 是一種先進的鑽孔系統,大大提高了快速準確的殘餘應力測量能力。 與傳統的應變片鑽孔系統一樣,該儀器測量由鑽孔引起的零件表面的變化,並確定先前存在的殘餘應力。然而,避免了耗時的應變計應用,並分析了孔周圍的大塊區域,而不是僅從幾個區域得到的平均值。棱鏡使用電子散斑干涉術(ESPI)測量表面畸變。只需最少的樣品製備。 棱鏡系統利用從樣品表面漫反射的鐳射光學測量表面畸變。棱鏡軟體管理測量,收集資料,分析結果和資料品質。 主要優點 • 少量準備: ...

长度测量系统
长度测量系统
MSS series

... MSS系列测量系统的特点 点 易于安装 dot 节省空间 点 成本效益高且可靠 点 防尘 点 导轨范围。尺寸20~55 dot 单件长度:4m 最大 ...

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