光学测量系统

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几何特征测量系统
几何特征测量系统
Dynamic 9D LADAR

自动化非接触式光学尺寸计量的新标准 API 9D激光雷达采用了光频域干涉测量技术(OFCI – Optical Frequency Chirping Interferometry),是全球首款基于激光干涉、且可实现非接触测量的激光雷达设备,拥有极高的测量精度、以及超凡的测量效率,可迅速捕获工件尺寸及表面几何数据。 功能大幅优于常规激光雷达 基于OFCI技术的9D激光雷达,其灵敏度较常规激光雷达提升超过100倍,故而可提供较常规激光雷达更高的测量精度和更佳的测量效率。9D激光雷达提供微米级别的测量精度、20kHz的数据采集速率,并在测量时不易受到外部环境的影响,有效避免了常规激光雷达使用中受材料反射率影响大、入射角度范围有限、易受环境噪声影响等问题。 设计紧凑,应用灵活 9D激光雷达设计紧凑、小巧轻盈,主机重量仅为10.4千克,可轻松加载于机器人、导轨、或龙门三坐标测量机,并实施自动测量。

闪存测量机
闪存测量机
T200

... T 系列闪光灯测量机 一触式检测,大视野测量 0.1 μm 分辨率/精密透镜 特点 无需定位工件。 在几秒钟内完成同步测量 在几秒钟内即可完成对视野内多达几十个到几百个产品的测量,大大减少了测量工作所需的资源。 准确检测和测量边缘。 自动再现测量所需的照明条件。 易于理解,因为整个部件都清晰可见。 检测稳定,无需微调。 规格 - 摄像头:2000 万像素 CCD - 镜头: 双侧远心镜头 - 测量速度:≤3 秒(100 尺寸内) - 工作距离:280 毫米 - ...

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Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
闪存测量机
闪存测量机
FMV500

... 规格 - XY 轴移动范围:430 毫米 x 330 毫米 - Z 轴移动范围:200 毫米 - 摄像头:2000 万像素黑白摄像头 - 分辨率:0.1 微米 - 一次可测量的最大位置数:500 - 一次可测量的最大部件数:200 件 功能 - 自动测试:一键放置和测量,自动识别测量位置,自动测试,自动判断结果 YES 或 NO - 任意放置产品:支持任意放置,可搜索测量目标 - 扫描功能:扫描读取检测报告上的二维码,读取设置文件,避免程序出错 - 数据存储:自动保存测量结果和检测日期/时间/批号信息 - ...

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Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
闪存测量机
闪存测量机
FMV800

... 规格 - XY 轴移动范围:600 毫米 x 800 毫米 - Z 轴移动范围:200 毫米 - 摄像头:2000 万像素黑白摄像头 - 分辨率:0.1 微米 - 一次可测量的最大位置数:500 - 一次可测量的最大部件数:200 件 功能 - 自动测试:一键放置和测量,自动识别测量位置,自动测试,自动判断结果是或否 - 任意放置产品:支持任意放置,可搜索测量目标 - 扫描功能:扫描读取检测报告上的二维码,读取设置文件,避免程序出错 - 数据存储:自动保存测量结果和检测日期/时间/批号信息 - ...

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Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
视频测量机
视频测量机
VERTEX

... "三维数控测量机,实现了快速和准确的三维控制,结合了视觉、触摸探头、激光和粗糙度" 顶点是MicroVu视频测量机,在几秒钟内完成自动控制,精度达到微米级。 经过不断发展,这些机器可以集成雷尼绍的触发式测头、三角激光器、白光传感器、非接触式粗糙度模块和一个旋转轴。用户可以从一种测量技术切换到另一种,始终使用同一个Inspec软件界面。 XY方向(毫米):250 x 160 à 315 x 315 Z轴(mm):160 à 250 ...

非接触型测量机
非接触型测量机
EXCEL

... GANTRY CNC: EXCEL MACHINE Excel是一种三维非接触式龙门测量机,可在几秒钟内进行自动检查,精度达到微米级。 这些机器不断发展,可以集成雷尼绍触摸式测头、三角激光、白光传感器、非接触式粗糙度模块和旋转轴。用户可以从一种测量技术切换到另一种测量技术,并始终使用同一个Inspec软件界面。 Excel 航线 XY (mm)500 x 400 à 2500 x 1600。 路线Z(mm)160 à 400 ...

弧形切割测量系统
弧形切割测量系统
CV series

... ConturoMatic CV系统是经典的轮廓测量设备,拥有智能功能和合理的自动化。 它们提供了一个强大而可靠的轮廓测量系统所需要的一切。 CV系统使您能够在整个测量范围内动态地跟踪一个轮廓,最大可达280 x 350米。 此外,由于尖端的位置被精确和可重复地定义为几分之一毫米,即使在最小的孔中也可以进行安全和自动测量。 CV120 / CV300 测量范围X(毫米):直到300 测量范围Z(毫米):直到100 负载能力直到:75 kgs ...

光学测量机
光学测量机
OptiMe

... OptiMe是一个新的光学测量系统系列,以立体视觉和摄影测量为基础,由两台高分辨率数码相机、一台结构光投影仪和一台运行自有数据采集和处理软件的电脑组成。 根据相机的位置和采用的镜头,测量范围可以从几平方厘米到几平方米不等,并且可以通过标记将几个部分重叠的扫描组合起来,或者仅仅根据物体的形状来进一步增加。 OptiMe有两种操作模式。 主动模式:将一连串的结构光图案照在物体上,由相机读取。通过这种方式,OptiMe可以扫描由数百万个点组成的密集云,并获得表面的三维表示,即使它是完全光滑的,缺乏任何明显的特征。云层可以转换为网格,并以多种格式导出,包括STL和PLY。这种模式对于逆向工程--获得物理模型的CAD表示--和质量控制--都很有用,例如验证车身的形状是否与CAD模型相符。 被动模式:如果需要测量表面的边缘(包括口袋、边缘和孔),而不是测量表面本身,非结构化的光线足以使这些细节被相机读取。 在这两种情况下,OptiMe的精度范围为0.01毫米或更好,用于较小的部分,用于较宽的领域,用于0.2毫米。光学系统拥有比触摸测量机高得多的吞吐量(如在单位时间内获得的点的数量),这使得测量速度更快;没有接触也避免了对表面的任何可能损害。 ...

光学测量系统
光学测量系统
C-OptiMe

... Fratelli Rotondi很高兴地宣布,作为Homberger机器人公司协作测量的首选集成商,建立了协作测量的新伙伴关系。 该公司现在是协作式机器人专业公司网络的一部分,其目的是实现希望在其生产中使用这项新技术的最终客户的满意度。 两家历史悠久的现代公司在创建协作式计量系统方面建立了重要的伙伴关系。 Homberger Robotica公司和Fratelli Rotondi公司的技术整合,保证了客户在加快检测和测量过程中的新应用。 请访问我们的网站 ...

长度测量系统
长度测量系统
MELOS 530

... 用于透镜和光学系统的测量组合 MELOS 530 是舒适、快速测定有效焦距、后焦距、半径和楔角的最佳解决方案。 正焦距测量 测量负有效焦距 测量 BFL 测量凸半径和凹半径 楔角和平行度测试 - 不同测量模式之间的快速切换。通过改进设计,无需费时更换测量系统。 - 在独立显示单元上直接读取测量结果。负焦距和正焦距测量所需的所有计算均由显示单元完成。测量结果可存储在表格中,并传输到计算机中,以便日后记录。在测量过程中,集成的帮助功能可为用户提供支持。即使是没有经验的用户也能快速熟悉仪器的使用。 ...

晶圆边缘测量系统
晶圆边缘测量系统
WATOM 200/300mm

... 自动晶圆边缘轮廓仪 WATOM 200/300mm 晶圆边缘测量 - 精确无误 半导体工业中使用的图案越来越小,这就要求使用越来越先进的高质量材料。为了应对晶圆质量的稳步提高,KoCoS 光学测量公司开发了 WATOM,这是一种晶圆边缘和凹槽轮廓测量工具,预示着一个极其精确的晶圆几何形状测量新时代的到来。 WATOM LS 的专利测量方法利用光截面传感器精确测量晶片边缘的轮廓,包括凹槽内的轮廓。使用 CMOS 相机拍摄边缘轮廓产生的激光线。然后使用 KoCoS ...

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KoCoS Messtechnik AG
3D测量系统
3D测量系统
LOTOS LS

... LOTOS - 三维测量和检测 LOTOS 自动测量系统可快速、精确地测量任何测量对象的完整内外轮廓或单个区域,而不论其形状如何,并检测其是否存在缺陷。三维非接触式测量是通过光学测量传感器进行的,精度在微米范围内。 测量结果是测量对象的三维模型。功能强大的直观软件可快速评估测量结果。 非常坚固耐用的单机系统,配有集成操作触摸屏和高性能评估单元,可实现最高的测量和评估速度。 符合人体工程学的设计使系统极易维护和保养。此外,LOTOS LS 测量系统还提供多种连接选项,因此可以通过读码器等外围设备快速轻松地进行扩展。 ...

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KoCoS Messtechnik AG
晶圆边缘测量系统
晶圆边缘测量系统
WATOM 150/200mm

... 自动晶圆边缘轮廓仪 WATOM 150/200mm 晶圆边缘测量 - 可靠的投影技术 WATOM CCD 采用轮廓投影技术替代 LS 技术,为要求不高的轮廓测量提供理想的解决方案,特别是在不需要缺口测量的情况下。CMOS 摄像机通过远心光源捕捉晶片边缘的轮廓图像。 WATOM 采用模块化设计,可与现代半导体制造工艺中的各种自动化解决方案相结合,无论是手动装载单个晶圆还是采用自动材料处理系统 (AMHS)。 ...

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KoCoS Messtechnik AG
直径测量系统
直径测量系统
RF096-440/1440-2000 Series

... 大型物体内表面检测机 大型物件的内表面在运行过程中会受到磨损。为防止事故发生,必须定期监测磨损程度。迄今为止,这种控制是通过手动测量仪器进行的,但这种测量非常耗时,技术也不先进,无法提供所需的可靠信息。 自动激光系统的设计目的是获得大型物体内表面的完整三维模型,并以高分辨率和高精度进行磨损计算。 内径测量范围,毫米:440...1440 内径测量误差,毫米:±0.5 扫描分辨率,点/转:2008 线性位移误差,毫米:±0.1 最大采样频率,赫兹:9400 ...

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RIFTEK EUROPE
厚度测量系统
厚度测量系统
RF160.20

... 用于在线板材厚度测量的激光系统 RF160.20 该系统是指非接触式激光厚度测量设备,用于精确测量胶带、板材、板材、橡胶板等片状材料的厚度。它是一个独立的软件和硬件系统,包含激光传感器、控制模块和指示装置。 系统参数可根据特定任务进行更改。 厚度测量范围(毫米):10 或 25 毫米,也可定制 厚度测量精度,um:±3 或 ±7 ...

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RIFTEK EUROPE
几何特征测量系统
几何特征测量系统
RF038

... 该系统设计用于非接触式测量热物体(主要是圆形和矩形物体)的几何参数。 测量方法 - 非接触式激光扫描。 主要参数: - 测量范围,毫米:16 ... 170 - 精度,毫米:±0.3 - 到物体的标称距离,毫米:1900 ...

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RIFTEK EUROPE
角向测量系统
角向测量系统
Prism Checker

为了成功的应用到各种行业中,生厂商对棱镜的制造加工精度和公差要求愈加严格。大多数高精度棱镜是通过小批次生产,每批次的形状、大小和表面数量都有所不同。 泰勒霍普森棱镜和多面体自动测量系统能够为光学棱镜、多面棱体、楔子和角规提供稳定的角度测量结果。 •多面棱体自动测量,精度高于1秒 •Y轴棱锥体精度 ± 1 sec •使用误差分离技术的X轴面精度 ± 0.5 sec

光学测量系统
光学测量系统
TUBEINSPECT™

... NOVACAMTM TUBEINSPECTTM 系统是一种模块化、非接触式光学测量系统,可对管材、圆筒或料筒的内部和外部进行微米级精度的三维测量。其小口径侧视探头可深入管材内部,获取管材内部的完整几何形状。 - 可测量钢管内径(ID)和外径(OD)的所有尺寸细节,包括下切、倒角、螺纹、膛线、O 型环槽、花键、接地和边缘断裂等 - 实现完全可配置的自动检测 - 可测量尺寸或表面缺陷,如气孔、裂纹和划痕 - 可测量半透明涂层的尺寸、粗糙度和厚度。 在这段视频中,TUBEINSPECT ...

长度测量系统
长度测量系统
RASACHECK AT/AR

同心度测量系统
同心度测量系统
LMS-5

... LMS-5 激光车床校准系统是一种激光车床校准装置。该系统可对各种车床进行全面鉴定。测量以激光束位置检测为基础。激光束源是一个光纤尾纤和强度稳定的激光二极管。我们设计了光束检测算法,并将其应用到光学探测器中,以确保整个测量系统具有无与伦比的精确度。测量结果显示在计算机上,可用于机器校准和调整以及生成报告。 车床测量系统 LMS-5 可以提供从轴向定位、主轴位移到垂直度的各种测量。整个系统结构紧凑,重量轻。操作也非常简单。没有电线,软件简单易用,功能强大,无需花费额外的时间和精力即可快速获得结果。该设备有一个可选底座,可用于数控机床的垂直度测量。 ...

角向测量系统
角向测量系统

... 它主要用于测量液体与固体的接触角,即液体与固体的润湿性。它还可以测量作为外相的液体的接触角。该仪器可以测量各种液体对各种材料的接触角。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学工程、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医学生物等领域,接触角测量已成为评估表面性质的重要仪器。 ...

光学测量机
光学测量机
Ti-3

... TI-3是最新版本的系统,用于精确和自动测量冲头尺寸,也用于模孔磨损评估,它是基于光学测量领域的最新技术发展。 测量机的基本参数: -无论刀具的复杂程度如何,都能实现全自动测量 -非接触式测量,冲头的分辨率为0.001毫米 -非接触和触觉的磨损测量,分辨率为0.001毫米的模具 -带自动对焦和500万像素分辨率的摄像头,带照明器,功率和波长可控 -专用的、内置的测量机控制器,带有USB2.0通信接口 软件的基本特性: -以.NET框架4.5技术编码的开放式架构的应用程序。 -能够在任何装有Windows ...

放电测量系统
放电测量系统
TQ-F

... 排水量的测量是通过成熟的示踪剂稀释法进行的,特别适用于大水量的测量。该系统可以部署在湍急的河流、小溪或没有或不知道横断面数据的水域。它使用一种荧光材料作为示踪剂。在插入已知数量的示踪剂材料后,两个光学荧光探针会自动确定排放量。这种方式可以保证高可信度和准确的结果。 特点和优势 - 简单、可移动的放电测量 - 即使不了解情况,也能得到可靠的结果,并且不受横断面的影响 - 适用于快速流动、湍流的水体,或进入受限的地方 - 特别适用于几立方米/秒的水量 - ...

双折射测量系统
双折射测量系统
Exicor® OIA

... Hinds™ Instruments Exicor® OIA是主要的双折射测量系统,用于评估正常和斜入射角的透镜、平行面光学器件和曲面光学器件。该系统建立在Hinds Instruments获奖的基于Exicor双折射测量技术的光弹性调制器(PEM)上。这个新一代的双折射测量系统为行业提供了分析和开发下一代光刻镜头、镜坯和高价值贵重光学器件的新能力。 该系统利用PEMs来调制光束的偏振状态,并利用先进的检测和解调电子技术来测量光学器件如何改变偏振状态。这导致测量一个偏振状态相对于另一个偏振状态的90°的光延迟。双折射和快轴方向,以及理论上的残余应力,都可以通过这些数据进行评估。 Hinds仪器和Exicor斜入射角技术已被平版印刷透镜毛坯和成品透镜的世界领导者选中,用于评估研究和生产中的光学双折射。我们的系统是没有人可以超越的! 标准功能。 - ...

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Hinds Instruments
扭矩测量系统
扭矩测量系统
T-Sense®

... T-Sense® 扭矩测量系统的使用意味着效率提高、过载保护和防止击穿成本。 例如,在航运业,其应用在某些情况下导致燃料节省 5%。 T-Sense® 测量系统基于光学位移技术,可安装在螺旋桨或驱动轴周围。 我们介绍:T-S ense® T-Sense® 是一种智能设计的光学扭矩测量系统,可以在无需工程或调试的情况下由船员或船厂安装在轴周围。 功能 随着 PEM4 推进效率监视器,VAF 仪器开发了一个全新的监控系统,基于多年的经验和成熟的技术,但现代用户友好的电子产品。 ...

角向测量系统
角向测量系统
CAM-PLUS

... 该设备使用方便,可快速测量各种基底(包括纸张、薄膜和其他薄材料)的接触角。只需将一滴水滴在样品上,然后在获得专利的 "半角 "屏幕上查看即可。ChemInstruments CAM-Plus 接触角测试仪具有可靠的表面能测量和多种易用功能,是理想的测试仪器。获得专利的 "半角 "测量方法消除了与切线角度测量方法相关的困难。凭借简单、可靠和一致的功能,各种类型的涂层操作都能快速确定表面能测量值。 - 轻松测定 "半角 - 独立于操作员的一致测量 - 从 10 到 ...

长度测量系统
长度测量系统
Planar P17.12

... - 快速和自动地检查零件 - 超快的逆向工程 - 集成SPC - 最广泛的模型范围 - 三维扫描插件 - 相机 - 工业化的超高分辨率专业安装在密封的外壳中 点阵激光高度测量装置(可选)- III R级精密激光器 计算机处理器 - 英特尔四核 屏幕 - 20英寸平面屏幕或更好 周边设备 - 键盘和光学鼠标 操作软件 - Windows 10 - 64位 专有的InspecVision软件 - 检测、SPC、报告、逆向工程 数据线 - USB2或USB3 电脑柜(可选) ...

放电测量系统
放电测量系统
SampleProtect

样品保护系统使用端对端的方法来保护敏感样品免受偶然静电放电损伤。其主要特点包括: • 可在我们所有产品和新的实验测量样品杆的非常宽范围的温度区间下使用 • 高质量测量级电缆 • 低噪声 样品保护系统使用端对端的方法来保护敏感样品免受偶然静电放电(ESD)损伤,该系统包括安装在机箱上的样品保护开关单元(SPSU),通过测量级线缆和样品杆,与含有等电位插头附加插座的样品座相连接。 样品座可从样品杆上拆卸,每个样品杆可容纳多种类型的样品座,同时每种样品座可在不同类型的样品杆之间兼容使用,甚至是HelioxVT或KelvinoxJT ...

光学测量系统
光学测量系统

Process Lens是一款集高精度、高灵活性、具备5D检测系统的SPI,得益于它的智能算法,Process Lens可以针对不同的测量内容,进行准确的检测。 • 创新:采用800万或2000万(标准版和高清版)数字可控微镜的DLP芯片进行莫尔图案投射 • 快速可靠:与传统SPI系统相比,最多可缩短70%的检查时间,最多可减少80%的误报率 • 高精度:分辨率可达10μm,速度和精度不与Process Lens互斥 • 测量:可测对象包含锡膏、红胶、异物、灰尘等,能在检测视场内,自动过滤干扰被测主体的噪点 由于Process ...

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ASM Assembly Systems
坐标测量机
坐标测量机
FlatScope®

对制造和测量室有高精度要求的快速光学二维测量。 FlatScope有一个创新的设计原理,图像处理传感器位于玻璃板下,用于支撑测量对象。因此,所有的工件都能清晰地成像,而不需要耗费时间的聚焦。有了FlatLight,在整个测量范围内都可以实现均匀的远心物体照明,并且通过轮廓图像处理,可以提供轮廓和元素滤光片,实现过程可靠的测量。应用的领域是测量较大的二维工件,如金属箔、印刷电路板、激光和精细冲裁件。 • 自动对准放置在测量台上的工件,AutoAlign ,并可通过专利的Raster ...

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WERTH MESSTECHNIK
临界尺寸测量系统
临界尺寸测量系统
SpectraShape™ series

光学临界尺寸(CD)和形状量测系统 SpectraShape™11k尺寸量测系统用于全面表征和监控finFET的关键尺寸(CD)及其三维形状、垂直堆叠的NAND和DRAM结构以及前沿设计节点上集成电路的其他复杂功能。利用光学技术和专利算法的先进性突破,SpectraShape 11k可以识别关键器件的参数(关键尺寸、高k和金属栅极凹槽、侧壁角度、光刻胶高度、硬掩模高度、间距偏移)的细微变化。SpectraShape 11k配备了经过改进的工作台和全新的测量模块,可实现高产量运转,能够在线快速识别制程中的问题,从而帮助晶圆厂加快产量提升并实现稳定的生产。 主要应用 在线制程监测,图形控制,制程窗口扩展,制程窗口控制,高级制程控制(APC),工程分析 相关产品 AcuShape®:先进的建模软件,解析来自SpectraShape系统的信号,从而有助于加快构建强大的3D形状模型的过程。 SpectraShape ...

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KLA Corporation
视频测量系统
视频测量系统
iNEXIV VMA-6555

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程,为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型,带有宽视场光学器件和接触式探头接口,是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量(选配) 能够测量不可见特征的尺寸和角度,例如零件侧面的孔。

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Nikon Metrology
光学测量系统
光学测量系统
TM-X5000 series

在线智能尺寸检测,更快、更准 实现准确、高速的在线测量 • 瞬间完成测量 • 擅于应对目标物的错位 • 利用丰富的工具轻松设定 可以对投影图像进行多个位置准确稳定的测量以及异物、缺陷等检测。 可以在不停止工作的情况下进行高速测量,同时保证整个视野范围的高精度。 从直径为6毫米的小型超高精度型号,到直径为120毫米的超宽视野型号,共有4种型号可供选择,请根据测量对象的尺寸选择合适的型号。 在发射侧和接收侧均采用远心光学系统的W远心光学系统,可清晰拍摄边缘,并在目标物发生位置偏移时,确保测量精度不变。 可以在±20 ...

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KEYENCE/基恩士
位置测量系统
位置测量系统
YRTCM

... 配有 SRM 测量电子装置的测量系统轴承,用于增量磁阻角度测量 极高的加工质量,提高机床电驱动轴的可用性 您将受益匪浅: 极高的定位精度和加工质量 机床利用率高 初始运行时间极短 安装空间要求低 机床中心空间宽敞 极高的加工质量 YRTCM/YRTSM 测量系统轴承可直接在机床轴上进行精确、可靠的角度测量,从而实现极高的加工质量和机床的高可用性。 与所有机床控制系统电子兼容 SRM 角测量技术采用通用、成熟的电子接口(类似于 ...

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Schaeffler Technologies AG & Co. KG
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