光电子式光谱仪

... 一个多技术的超高压表面科学系统选项，提供XPS、UPS、AES、SAM、ISS和LEIS，安装在Hiden SIMS工作站上。 X射线光电子能谱是一种高度互补的技术，提供原子组成和化学状态结合的信息。XPS可以用来量化高浓度，因此是为灵敏度更高的SIMS技术提供校准点的理想选择。 UHV表面科学 海登SIMS工作站的两部分室是专门为安装XPS升级而设计的，使用了SPECS®的最先进的部件，并与倾斜的样品架一起，允许在同一个UHV平台上同时使用XPS和SIMS技术，而不会有任何影响。 PHOIBOS ...

... 它是一款高规格的欧杰电子能谱仪，配有半球形分析器，可对纳米到微米区域的化学键状态进行高通量分析，还配有场发射电子枪，也可用于 EPMA，因为它可以提供大而稳定的电流。 高精度微心试样台使得以前无法进行的绝缘体分析成为可能。它与浮动式离子枪相结合，可以处理金属和绝缘材料等任何试样，从而获得成分信息和化学信息。 特点 - 高灵敏度、高分辨率分析仪 采用能量分辨率可变的分析仪，可以在高分辨率模式下进行化学键状态分析，以及在高灵敏度模式下进行高速绘图。 - 肖特基场发射电子枪 这种电子枪既能实现 ...

... JPS-9030 配备了全新设计的用户界面，进一步提高了操作性，同时还首次采用了精致、新颖、时尚的外观设计。 功能特点 - 根据应用优化深度剖面 新开发的考夫曼型蚀刻离子源的蚀刻速率从 1 nm/min 到 100 nm/min（SiO2 当量）不等，并可进行多种设置。从要求精度的测量到要求速度的制程，它都能提供适合任何应用的深度剖面。考夫曼型蚀刻离子源安装在试样交换室上，可有效防止测量室受到污染。 - 新开发的软件更加易于使用 SpecSurf 2.0 ...

... 最终成像 XPS 分辨率：500 nm /100 nm（实验室/同步）采用 PEEM 技术简单的样品导航 小点光谱像 差校正能量滤波器 高功率单色 X 射线源 ARUPS 与 FOC US GmbH 合作创建NanoESCA 提供了无与伦比的 XPS 横向分辨率（在实验室条件下实现小于 500 nm）的化学状态映射。 该仪器可以分析最小的样品结构，提供超出其他高横向分辨率技术（如扫描螺旋和 TOF SIMS）的极限范围的化学状态信息。 采用 在二次电子状态下工作的 ...

... 特高压双子座电子柱： 最高空间分辨率最 小的电子束点尺寸 独特的低能性能高 效 SEM，带镜内 SED NanoSam 电子分析仪： 可变能量分辨率 极佳灵敏度、多通道检测 样品处理： 柔性样品大小 可变样品温度 (50-500K) 样品倾斜 60 NanoSam 实验室是分析小结构的终极工具. 由特高压双子座电子柱的独特性能驱动，在扫描螺旋显微镜 (SAM) 中保证了无与伦比的分辨率低于 5 nm，SEM 中的分辨率高于 3 nm。 与其他 Auger ...

... 60° 宽角模式 30° 高色散角模式 40 mm 工作距离 强度优化的传输模式 角度分辨动能范围最高达 10,000 eV < 1.8 meV 的能量分辨率在 UPS 实时图像校正中得到保证 EW4000 开辟了新的科学方向。 我们之前的光谱仪对 ARPES 来说是一场革命，EW4000 更进一步。 从 UPS 通过 XPS 到 HAXPES 的全系列平行角检测范围扩大到 60°，为高传输测量以及新型站立波和 XPD 实验提供了极大的可能性。 EW4000 ...

波长: 185 nm - 1,100 nm

... 一台强大而灵活的光谱仪，适合在您的手掌上使用 完美的通用解决方案 改进的光学设计--同类中最好的! 用户可更换狭缝和光学过滤器 紫外-可见-近红外 (185-1100 nm) 光纤光谱仪 包括LightScan软件 FLEX是我们新系列光谱仪中的第一款产品。所有光学元件都精确地组装在一个坚固、紧凑、轻巧的工作台中，使FLEX光谱仪在整个工作波长范围内具有更高的灵敏度、更强的峰值对称性和更低的杂散光，使该系列光谱仪成为通用的、最普通的光谱应用的完美解决方案。 用户可更换狭缝和滤光片、电源状态指示器和触发功能等功能为您的光谱设置提供了简便性和灵活性。FLEX有即用型（用于更常见的应用）和用户定制型（用于更特殊的应用）两种配置，包括标准型和改进型分辨率版本。 完美的通用解决方案，适用于光谱应用 FLEX结构紧凑，设计灵活，在提高灵敏度的同时，能够提供出色的性能，并能集成到大多数通用的光谱设置中。 极低杂散光的最佳光学器件 对于有吸光度/透光度测量需求的用户，FLEX是完美的解决方案。光学和机械设计的同时优化，使FLEX具有非常低的杂散光比例（在整个操作光谱范围内低于0.1%）。 ...

波长: 185 nm - 1,100 nm

... 当速度和灵敏度 结合在一个 小型光学工作台 是低光照度应用的理想选择 用户可更换的狭缝和光学滤光片 快速采集--每秒可达2587张光谱 包括LightScan软件 除了FLEX系列的出色性能和灵活性外，FLEX+系列是一种更合理的解决方案，适用于需要高性能和宽动态范围的低光照度应用，如低辐射荧光测量。滨松背负式CCD探测器具有1毫米高度的像素元件，可提供更高的灵敏度，并提供高量子效率（最大约80%），具有很好的信噪比。 高灵敏度与快速采集（每秒高达2587个光谱）相结合，以及电源状态指示器、用户可更换的狭缝和光学滤光片或即插即用操作等功能，使包含该系统的所有设置变得简单而多样。FLEX+光谱仪有即用型（适用于更常见的应用）和用户定制型（适用于更特殊的应用）两种配置，适用于窄紫外可见光和可见光-近红外范围以及扩展紫外可见光-近红外范围。 带有PLUS的通用解决方案 FLEX+是FLEX系列的全套产品，但具有额外的灵敏度和速度，因此该光谱仪是需要快速和更灵敏的光检测的用户的理想选择。 低光照度应用的理想解决方案 FLEX+上使用的滨松背照式CCD探测器有很大的性能优势，如低暗计数。探测器上1毫米高度的像素元素为低光照度应用提供了更高的灵敏度。 ...