固定式测厚仪

测量范围: 0.08 mm - 635 mm

38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可有效地适用于几乎各种超声测厚应用，而且与几乎各种双晶探头和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的非常精确的壁厚测量。 38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多性能强大又易于使用的测量功能，以及许多专用于某些特定应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以在非常潮湿或暴土扬沙的严酷环境中正常操作。其彩色透反VGA显示屏无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性。测厚仪的键区非常简洁，且符合人体工程学的要求，操作人员使用单手（左手或右手）操控键区，就可以轻松访问仪器的所有功能。 主要特性 • ...

测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz

... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象，最好用于普通表面的厚度测量，如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产，以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

测量范围: 2 mm
测量精度: 4 µm
测量宽度: 200 mm - 400 mm

... thicknessGAUGE C.C传感器系统使用共聚焦色度位移传感器进行厚度测量。这些传感器使测量工作具有出色的准确性和高测量率。此外，这种创新的测量技术可以测量反射和闪亮的表面，以及（半）透明的测量对象。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产，以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 具有记录和过程控制的功能。 文章数据库 生产档案 统计评估 返回生产的极限值监测（可选现场总线接口） 测量系统能力的验证 ...

测量范围: 8 mm
测量精度: 0.8 µm
测量频率: 100 Hz

... thicknessGAUGE C.LP传感器系统使用激光轮廓扫描仪进行厚度测量。这些扫描器在被测表面上投射出一条激光线。激光线可以补偿板带的倾斜，并实现轮廓的平均化。激光线测量技术使得测量结构性材料的厚度成为可能，如压花表面和穿孔板。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产，以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备，又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础，配备了智能传感器技术，被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包，用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式，如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线，测量几个纵向趋势，SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证，该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

测量范围: 20 µm - 1,250 µm

精密的不锈钢材质，经久耐用，可重复使用。可选择公制或者英制单位测量。 Elcometer 115 湿膜梳(不锈钢) 4个量程供选，最高1250μm(50mils)，精确度 ±5% 或 ±3µm (0.012mil) 取更大者。 每个湿膜梳有10个测量数值（阶齿 )。

测量范围: 5 µm - 1,200 µm

不锈钢制成，用线减蚀的，精确度±5％显示的值或 3μm(0.12mil)以较大者为准。有公制或英制可供选择 Elcometer 3238 长边湿膜梳(不锈钢) 每个湿膜梳有24个测量数值（阶齿），提供的湿膜厚度值更加精确.

测量范围: 50 µm - 800 µm

Elcometer 154 湿膜梳由ABS塑料制成，用来进行一次性的测量，并作为湿膜厚度记录，用于质保或满足客户要求。 同一片上有公制和英制两种，一边是 50至 800μm，另一边是 2 至 32mils。 500片一包，每片有16个测量值。

测厚仪GreCon THICKNESSCONTROL LT 采用激光束对硬性、柔性和潮湿材料的厚度进行进行非接触式测量。测量值涵盖材料的最边缘。根据要求，可以进行静态式测量，也可以在整个生产宽度上进行测量。横向测量允许测量最大数量的材料，并清楚地显示材料是否有变形。 优势概览 快速、早期地发现质量波动 无需添加材料进行打磨 生产变化后的优化潜力指示 用于生产控制的测量数据 测量方法 测厚仪 THICKNESSCONTROL LT 通过使用激光束进行非接触式测量来测量硬性、柔性和潮湿材料的材料厚度。 就测量原理而言，对精密辊筒的测量与差值测量是有区别的。当对精密辊筒进行测量时，材料只能从一侧扫描，而滚筒则在与零线相对应的另一侧。而差值测量则通过对物料两侧进行扫描并计算两个值来确定材料的厚度。厚度通过三角测量法计算取得。激光束被发送到材料表面，并由其旁边的摄像头观察识别。如果到板材的距离发生变化，观察角度也会发生变化，因此图像在传感器中的位置也会发生变化。可以根据图像的位置计算到测量值的距离。单个测量值通过偏移确定材料厚度。 之后，每个测量轨道都会在屏幕上以图形形式显示测量值。 可以适应节材生产 校准 THICKNESSCONTROL ...

测量范围: 0 mm - 80 mm

接触式在线厚度测量仪GreCon THICKNESSCONTROL RT 可测量面板材料的厚度，例如高密度纤维板、定向刨花板、刨花板以及其他材料，如皮革、生橡胶、塑料或绝缘纸。最小的板隙就足以进行自动校准。因此，在任何时候都能保证精确的测量值。 优势概览 通过减少砂光余量来降低生产成本 持续的质量控制和产品偏差的早期检测 由于可以在最小的面板间隙中进行快速自动校准，因此可以在高速生产中进行测量 稳定的框架、传感器高分辨率和优化布局可减少物理影响，实现高精度。 为闭合控制回路（例如压力机控制）提供测量值 通过集成板秤的重量来提供自动原始密度测定 智能、全面的数据收集，用于自我诊断、预测性维护和快速远程支持 通过模块化软件实现直观和用户友好的操作，该软件包括清晰的用户界面、全面的数据库、简单的配置管理、可配置的报告工具和导出功能 提供通信协议（OPC、ODBC、网关、数字I/O、OEM接口） 测量方法 测量值通过接触记录。提供不同的测量设置： 差分测量程序，测量头彼此相对布置 从两侧扫描被测材料。两个测量值相互偏移。因此，面板的振动或任何不平整都不会影响测量结果。自动校准使可重复性成为可能。如果被测材料的垂直位置发生变化或被测材料弯曲，那么在粗糙表面的情况下，这种测量是合理的。 以测量头和固定测量辊为基准平面的差分测量程序 被测材料从一侧扫描，另一侧的固定测量辊用作参考平面。该测量适用于可以平滑引入的非常薄的材料。

测量范围: 0 mm - 30 mm

... 测厚仪用于确定电线、电缆和软线的绝缘和护套材料的厚度。最大的喉深可以达到SOmm。 特点：表盘式，操作简便；PT-HY3120A为手持式；PT-HY3120B为台式； ...

测量范围: 0 mm - 10 mm

测量范围: 0 mm - 3 mm

... 自动高精度数字测厚仪 自动高精度数字测厚仪是集光学、机械、电子和算法于一体的高精度测厚仪。操作简便。测试结果以数字形式显示。可连接电脑进行自动控制。 适用标准 GB/T 6672、GB/ï 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM F2251、TAPPI T411、DI N 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS ...

... GH-D 电子测厚仪是 GBPI 研发团队根据 GB 和 ASTM 等标准要求和市场需求全新开发的高精度数字测厚仪。它集光、机、电、算于一体，操作简便，测量精度高。它具有数字显示功能，可连接电脑进行自动控制。 主要用于塑料薄膜、纸张等材料的厚度测量或对比测量。 测量标准 ISO 4593, ISO 534, ISO 3034, ASTM D645, ASTM F2251, ASTM D374, ASTM D1777, TAPPI T411, DIN 53105, ...

... 应用 — 薄膜和箔片测试、纸张和纸板测试、纺织和非织布测试、金属板测试、食品包装 测试性能 — 厚度 测试方法 — 表型接触方法 标准 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM 产品 特点 — 自动提升压脚 — 实时显示测试结果 — 最大值、最小值和平均值 — 自动统计和打印功能 — 带液晶的微型计算机控制 — RS 232 规格 -测试范围 0 〜 2 毫米（标准），0 〜 6 毫米，12 ...

测量范围: 0.3 µm - 30 µm
测量频率: 47 Hz - 63 Hz
测量宽度: 300 mm

... -快速和简单的层厚测量 -单层和多层系统的测量 -测量不受材料影响 -舒适的操作 -无需校准的精确测量 球形坑测试（Calotest）是一种成熟的测定层厚度的方法。通过一个旋转的钢球和研磨浆，一个球状的盖子通过涂层被研磨到样品的基础材料中。当用显微镜检查时，涂层/基体材料界面显示为一个圆，或者在多层涂层的情况下，显示为一个同心圆系统。涂层厚度可以通过这些圆的直径和研磨球的直径来计算。 这种纯粹的几何方法，即使是对微米级的涂层厚度，也能得到非常准确的结果。 评估和记录可以通过kaloSOFT软件和配备摄像头的显微镜进一步简化。 ...

测量范围: 0.3 µm - 30 µm
测量频率: 47 Hz - 63 Hz
重量: 8 kg

... -快速和简单的层厚测量 -可重复测量耐磨性和耐刮擦性 -测量层厚 -易于操作 -用于质量保证和涂层开发 -适用于硬涂层、油漆、塑料涂层 球坑测试（Calotest）是一种成熟的测定涂层厚度的方法。用一个旋转的钢球和磨料浆，将一个球状的盖子穿过涂层磨到样品的基底材料上。当用显微镜检查时，涂层/基体材料界面显示为一个圆，或者在多层涂层的情况下，显示为一个同心圆系统。涂层厚度可以通过这些圆的直径和研磨球的直径来计算。 这种纯粹的几何方法，即使是对微米级的涂层厚度，也能得到非常准确的结果。 评估和记录可以通过kaloSOFT软件和配备摄像头的显微镜进一步简化。 ...

测量范围: 10 nm - 50,000 nm
环境温度: 18 °C - 45 °C

... 紧凑型薄膜厚度监测仪是一种反射式分光光度计，使用一个小型反射探头，适用于从实验室层面到生产过程中的在线100%检测的所有情况。它有很好的可维护性，可用于纳入工艺设备和生产线管理。 可以同时测量多达9种类型的透明薄膜。 它可以作为各种多层薄膜工艺的在线或端点监测器。 紧凑的探头可以安装在加工工具内部的一个小空间里。它还可以通过EMA理论判断混合层的混合比例或多晶硅的结晶度。 ...

测量范围: 300 mm

... 晶圆测绘单元能够在高达300毫米的晶圆的整个表面上自动测绘膜厚。自动对准功能、自我校准功能和高平整度的晶圆夹头使得薄膜厚度测量高度可靠。该装置与紧凑型薄膜厚度监测仪结合使用。 它可以安装在半导体制造设备的装载口，在保持清洁的同时控制制造设备上的薄膜厚度。 1 可以对最大300毫米的晶圆进行自动膜厚测绘测量 2 自动对准功能 3 自动校准功能 4 通过采用高平整度的晶圆夹头，提高了在晶圆表面的测量可靠性 5 支持自动化 6 负载端口安装 ...

测量范围: 11, 34, 13 mm

... 成像膜厚监测仪是一种计量工具，可以直观地看到透明多层膜的膜厚分布。 通过使用光谱反射仪，它能以0.1纳米的厚度分辨率显示薄膜厚度分布。 观察薄膜厚度的均匀性 在显微镜视场内测量薄膜厚度/质量，显示三维分布情况 薄膜厚度分辨率： <0.1纳米 良好的厚度分辨率，相当于光谱分析工具。 波长可以从450nm到750nm选择，精度为1nm。 高速/多层测量，可达 9 层 由光谱反射仪进行平行处理 先进的应用 几百次重复的薄膜，如带通干扰滤波器和复合多层薄膜，如沟槽结构 利用有效介质近似法（EMA）进行亚微米级的图案密度估计 局部区域结晶度评估，如激光退火 ...

测量范围: 0 mm - 50 mm