高精度测量系统

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厚度测量系统
厚度测量系统
C640

... C640测厚仪是一款高精度机械接触法测厚仪,可用于薄膜、薄板、纸张、瓦楞纸板、纺织品、无纺布、固体保温材料等的测厚。可选装自动取样器,是为多点连续测厚而设计的。 专业人员 Labthink兰光C640测厚仪经过创新研发,采用高精度位移传感器,辅以科学的结构和专业的控制技术,使C640在稳定性、重复性注1和准确性上有了很大的提高。 - 仪器符合机械接触法的标准。压脚可自动升降,最大限度地减少人为操作造成的误差。 - 可根据需要设定接触时间和测试速度。可定制多种接触面积和压力,满足各种试验条件的要求。 - ...

坐标测量系统
坐标测量系统
metroVoxel

高精度三维测量与分析,实现内部无损分析和全尺寸测量。 工业测量正从以往传统的外部测量,向内部无损分析及全尺寸测量转变。X射线CT技术凭借断层成像并配合先进的测量分析软件,在无损情况下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、材料构成及缺损状况。计量型CT是具有高测量精度的CT系统,也被称为X射线三坐标测量系统,借助三英精密的metroVoxel计量CT技术,您只需一次扫描,就可以成功获得内部和外部所有的结构并进行尺寸测量。 特点与优势 ●配备光栅尺闭环控制系统 ●花岗岩基座,保证温度稳定性 ●更少的运动轴数,确保长期的高精度

石膏板测量系统
石膏板测量系统
3DGipsumB

... 3DGipsumB.用于石膏板尺寸测量的系统 基于二维激光扫描仪和点式三角测量传感器的交钥匙解决方案,用于石膏板几何参数的连续非接触式测量。 测量的参数。 - 任何类型的边缘全貌,两个相邻表面的长度各为100毫米 - 边缘角度 - 边缘宽度 - 肩部 - 锥度宽度 - 锥度深度 - 厚度简介 - 板宽 - 抬高 当石膏板在传送带上移动时,它们被系统的传感器连续测量。 来自传感器的信息在一台中央电脑上用所提供的软件(以下简称软件)进行处理。如果参数值超出了公差范围,中央电脑和附加的操作终端的屏幕上会显示相应的警告。 ...

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RIFTEK EUROPE
直径测量系统
直径测量系统
RF096-440/1440-2000 Series

... 大型物体内表面检测机 大型物件的内表面在运行过程中会受到磨损。为防止事故发生,必须定期监测磨损程度。迄今为止,这种控制是通过手动测量仪器进行的,但这种测量非常耗时,技术也不先进,无法提供所需的可靠信息。 自动激光系统的设计目的是获得大型物体内表面的完整三维模型,并以高分辨率和高精度进行磨损计算。 内径测量范围,毫米:440...1440 内径测量误差,毫米:±0.5 扫描分辨率,点/转:2008 线性位移误差,毫米:±0.1 最大采样频率,赫兹:9400 ...

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RIFTEK EUROPE
直径测量系统
直径测量系统
RF096-18/30-155/307-НН

... 该设备专为非接触式扫描和测量管道内径而设计。测量参数:内径、椭圆度、圆度。 手持式内径测量仪 RF096-18/30-155/307-НН 内径测量范围,毫米:18...30 内径测量误差,毫米:±0.05 指示不精确度,毫米:0.01 空间分辨率,点/转700 从管端开始的测量深度,毫米:155...307 测量时间,不大于,秒: 2 测量参数:直径(最小、最大、平均)、椭圆度、圆度 ...

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RIFTEK EUROPE
圆角测量机
圆角测量机
Talyrond® 595H PRO

Talyrond® 595H PRO 的所有轴都经过精密加工,加强了软件自动更正功能,让Talyrond® 595H PRO拥有了无可比拟的直线度和圆度精确度。调心和调平操作台配有高分辨率电机,进一步加强了精度和全自动设置目标功能。 该系统配有的Talymin 6传感器测量能力能够达到纳米级别,同时自动横臂机制能够提供无以伦比的多功能化确保能够测量最难以达到的部分。Talyrond® 595H PRO配置的主动抗振控制托架确保了不受外界环境影响的测量环境,保证测量环境接近生产过程。 •全自动轴臂横向和纵向机制 •轴臂、立柱和主轴校准自动校准 •自动传感器校准 •高精度空气轴承主轴精度± ...

电子测量系统
电子测量系统
JP-820

... JP820动态不平衡测量系统是上海建平公司开发的具有多种功能和高测量精度的电子测量系统。它能适应各种单/双平面和软/硬轴承平衡机,并能方便灵活地与各种速度传感器和压电传感器连接。该系统适应范围广,效率高,数据通用性强,可通过标准接口输出数据。 功能特点 1.丰富的扩展性 2.多账户管理 3.多语言显示 4.直观的界面,引导式操作 5.垂直/水平、单面、双面、三面动态和静态平衡测量 6.记录多组转子参数,一键切换 7.历史记录可以自定义和导出 8.报告打印、标签打印 9.远程协助 ...

自动测量系统
自动测量系统
JP-580

JP-580电测系统,可适应各种单双面及软硬支承平衡机,并可方便灵活的配接各种速度传感器,压电传感器。 JP-580电测箱采用研华工业主机,17寸液晶屏 ,Windows XP操作系统,运行速度快,可靠性高,防尘防震性能强,能适应各种工业环境。数据通用性强,并可以通过标准接口将数据输出。 技术参数 转速范围:120-12000r/min 小分辨率:0.001mg 短测量时间: 3s 测量动态范围1:100000 产品特点 - 测量方式多样化,动、静平衡,支承方式多达10种,加去重、正反转可灵活定制。 - ...

全自动测量系统
全自动测量系统
JP-800

1.配置 人机界面 linux操作系统 2.功能特性 触屏操作 人机界面友好,操作更便捷。 多账户管理 设有【管理员】,【检修员】,【操作员】账号和密码 可根据不同的角色,建立不同的账户和密码和权限。开通对应的功能,方便人员和设备的管理。 多语言显示 8种语言选择 可选择中文,英文 阿拉伯语,葡萄牙语 法语 ,泰语 ,西班牙,俄语 界面直观 测量值显示是数字和矢量图形的组合,矢量图形能快速感观不平衡的数量级和角度方位。 系统参数有提示信息,包括参数定义和设置范围。便于用户快速入门 自动判断转子是否合格,有颜色提示及合格数量不合格数量平衡总数量统计功能 定标方式灵活多样化,过程也有向导指示,定标界面专业化更便于维护 单,双,三面动平衡测量 测量有双面动平衡、单面静平衡以及三面平衡方式可供选择。可配备自动定位,光针指示等功能。 单面静平衡测量 双面动平衡测量 三面动静平衡测量 ...

光学测量机
光学测量机
Ti-3

... TI-3是最新版本的系统,用于精确和自动测量冲头尺寸,也用于模孔磨损评估,它是基于光学测量领域的最新技术发展。 测量机的基本参数: -无论刀具的复杂程度如何,都能实现全自动测量 -非接触式测量,冲头的分辨率为0.001毫米 -非接触和触觉的磨损测量,分辨率为0.001毫米的模具 -带自动对焦和500万像素分辨率的摄像头,带照明器,功率和波长可控 -专用的、内置的测量机控制器,带有USB2.0通信接口 软件的基本特性: -以.NET框架4.5技术编码的开放式架构的应用程序。 -能够在任何装有Windows ...

几何特征测量机
几何特征测量机
KNM series

分析式测量机 KNM 2X/5X/9X 设计用于高精度测量齿部、齿部刀具和轴对称工件。所有的导向装置和花岗岩底板都具有极高的耐久性并具有同样低的膨胀系数。空气轴承具有防摩擦性能,可确保完美且无磨损的导向且不会有短轴误差。底板下方的气动弹簧元件可以 安全地屏蔽冲击和振动,不需要特殊的地基。 回转台的无铁芯直线电机和扭矩电机确保了极高的位置精度和行线可靠性。尽管设计紧凑,但宽大的移动区域确保了每种形状相对于基圆的切向滚动。根据要求的不同,可以使用不同的扫描探测系统。开关柜无需进行搭建。

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KAPP NILES
光学测量机
光学测量机
OptiMe

... OptiMe是一个新的光学测量系统系列,以立体视觉和摄影测量为基础,由两台高分辨率数码相机、一台结构光投影仪和一台运行自有数据采集和处理软件的电脑组成。 根据相机的位置和采用的镜头,测量范围可以从几平方厘米到几平方米不等,并且可以通过标记将几个部分重叠的扫描组合起来,或者仅仅根据物体的形状来进一步增加。 OptiMe有两种操作模式。 主动模式:将一连串的结构光图案照在物体上,由相机读取。通过这种方式,OptiMe可以扫描由数百万个点组成的密集云,并获得表面的三维表示,即使它是完全光滑的,缺乏任何明显的特征。云层可以转换为网格,并以多种格式导出,包括STL和PLY。这种模式对于逆向工程--获得物理模型的CAD表示--和质量控制--都很有用,例如验证车身的形状是否与CAD模型相符。 被动模式:如果需要测量表面的边缘(包括口袋、边缘和孔),而不是测量表面本身,非结构化的光线足以使这些细节被相机读取。 在这两种情况下,OptiMe的精度范围为0.01毫米或更好,用于较小的部分,用于较宽的领域,用于0.2毫米。光学系统拥有比触摸测量机高得多的吞吐量(如在单位时间内获得的点的数量),这使得测量速度更快;没有接触也避免了对表面的任何可能损害。 ...

坐标测量机
坐标测量机
FlatScope®

对制造和测量室有高精度要求的快速光学二维测量。 FlatScope有一个创新的设计原理,图像处理传感器位于玻璃板下,用于支撑测量对象。因此,所有的工件都能清晰地成像,而不需要耗费时间的聚焦。有了FlatLight,在整个测量范围内都可以实现均匀的远心物体照明,并且通过轮廓图像处理,可以提供轮廓和元素滤光片,实现过程可靠的测量。应用的领域是测量较大的二维工件,如金属箔、印刷电路板、激光和精细冲裁件。 • 自动对准放置在测量台上的工件,AutoAlign ,并可通过专利的Raster ...

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WERTH MESSTECHNIK
厚度测量系统
厚度测量系统
SpectraFilm™

薄膜量测系统 SpectraFilm™ F1薄膜测量系统可以为各种薄膜层提供高精度薄膜测量,从而在7nm一下的逻辑和领先内存设计节点上协助实现严格的工艺允许误差。高亮度光源驱动光谱椭偏仪技术,信号足以精确测量带隙并且可以比电子测试提早数周了解电性能。新的FoG™(光栅上的薄膜)算法可以在类似器件的光栅结构上实现薄膜测量,从而进一步提高测量值与器件的相关性。随着产量的提高,SpectraFilm F1能够支持产率提升,并且测量更多与先进设备制造技术相关的薄膜层。 主要应用 带隙监控,工程分析,在线工艺监控,设备监控,工艺设备匹配 相关产品 SpectraFilm ...

位置测量系统
位置测量系统
APDIS series

尼康的APDIS激光雷达为车间带来绝对、精确和快速的测量,从而实现汽车车身车间的真正过程控制,并实现质量4.0。 APDIS MV430E提供迄今为止所有激光雷达中最快的特征测量速度,可以在生产线节拍时间内检测关键特征,或采用抽样策略覆盖一组车身的更多特征,以实现真正的过程控制 提高生产效率 了解APDIS增强型MV430E系统如何成为有史以来最快的激光雷达 质量控制的革新 了解APDIS激光雷达如何为汽车质量控制带来变革 与CAD直接比较 在全自动机器人测量解决方案中使用APDIS系统,引入了一种创新的白车身(BIW)检测方法。 机器人独立精度 机器人定位激光雷达,对所需特征提供实时图像;然后,激光雷达通过测量夹具上的定位工具球自动重新对准零件。 提高检验生产效率 APDIS激光雷达解决方案的测量速度是传统CMM的6倍以上,可大大提高测量效率。

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Nikon Metrology
光学测量系统
光学测量系统
TM-X5000 series

在线智能尺寸检测,更快、更准 实现准确、高速的在线测量 • 瞬间完成测量 • 擅于应对目标物的错位 • 利用丰富的工具轻松设定 可以对投影图像进行多个位置准确稳定的测量以及异物、缺陷等检测。 可以在不停止工作的情况下进行高速测量,同时保证整个视野范围的高精度。 从直径为6毫米的小型超高精度型号,到直径为120毫米的超宽视野型号,共有4种型号可供选择,请根据测量对象的尺寸选择合适的型号。 在发射侧和接收侧均采用远心光学系统的W远心光学系统,可清晰拍摄边缘,并在目标物发生位置偏移时,确保测量精度不变。 可以在±20 ...

位置测量系统
位置测量系统
YRTCM

... 配有 SRM 测量电子装置的测量系统轴承,用于增量磁阻角度测量 极高的加工质量,提高机床电驱动轴的可用性 您将受益匪浅: 极高的定位精度和加工质量 机床利用率高 初始运行时间极短 安装空间要求低 机床中心空间宽敞 极高的加工质量 YRTCM/YRTSM 测量系统轴承可直接在机床轴上进行精确、可靠的角度测量,从而实现极高的加工质量和机床的高可用性。 与所有机床控制系统电子兼容 SRM 角测量技术采用通用、成熟的电子接口(类似于 ...

粗糙度测量系统
粗糙度测量系统
InfiniteFocusG6

... 尺寸计量和表面粗糙度测量在一个系统中的应用 InfiniteFocusG6 InfiniteFocusG6是一款精确、快速、通用的光学三维测量仪器,可测量微米和亚微米范围内的公差。零部件的测量以面积为基础,分辨率高,不受尺寸、材料、几何形状、重量和表面处理的影响。一些经过验证的新功能将粗糙度测量系统的功能(Ra、Rq、Rz/Sa、Sq、Sz)与坐标测量机的特性相结合。 InfiniteFocusG6代表了。 - 无与伦比的测量性能 - 突破性的用户体验 - ...

视频测量机
视频测量机
VMQ

- TZTEK10,1三倍率镜头 - 最高测量糈度0,7gm,最大视野82×55m - 采用双远心镜头,全视野无畸变 - 可加装光谱测头、同轴光、辅助环形光源、手柄等 - 自动图像配准功能,一键定位,无需专用定位夹具 - 精准闪测,效率提升可达20倍 - 可对工件多任务并行检测,极大提高测量效率 - 配置了丰富的外部接囗,可以定制集成到生产线,实现快速 - 在线检测

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TZTEK Technology Co.,ltd
涂层厚度测量系统
涂层厚度测量系统
TERASCOPE®

無與倫比的太赫茲自動測量技術 有機和介電單層和多層塗層厚度測量以及材料分析與太赫茲波的自動化測量解決方案 可用性取決於地區和國家 優點 • 市場領先的測量性能:最高6 THz的頻寬*,實現最高精度和重複性 • 專利的清潔追蹤技術:持續的乾燥空氣清潔,確保純淨的測量結果 • 3D掃描儀:即使在圓形表面和複雜幾何形狀上也能實現高精度定位 • 比任何振動更快。多虧了獨特的1.6 kHz*高採樣率,即使在惡劣環境中也能獲得精確的測量結果 • 易於集成:為機器人和控制系統設計的硬件和軟件 • ...

电磁场测量系统
电磁场测量系统
SG Evo

SG Evo是一款用于进行天线球面近场测试和OTA测试的多探头阵列测试系统。其设计目的是测试5G大规模MIMO BTS、卫星及地面终端天线等大型、重型天线。SG Evo能够以前所未有的速度给出精准的天线性能测试结果。SG Evo的拱桥采用过采样定位技术, 因此在过采样时不需要倾斜被测设备 (DUT), 从而避免了DUT和方位角定位器的重力偏转, 即使是在测试重型DUT时也是如此。此外, SG Evo还能通过配备多个平行接收器大幅缩短测量时间, 尤其是在测试大量频率或者具有众多潜在天线波束状态的设备时。 旋转的拱桥结构 ...

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MVG
高速测量系统
高速测量系统
ZeroTouch® ZTM

... 高速、非接触式测量和检测平台,比传统的三坐标测量机更快地处理复杂的几何形状。 提高精度 ZeroTouch采用独特的5轴结构和一流的传感器,提高了测量质量。 提高吞吐量 ZeroTouch可在几分钟内捕捉复杂的尺寸测量。 垫资生产 ZeroTouch可同时快速执行多项测量。 ZeroTouch是一个强大的非接触式测量平台,它可以快速捕捉数百万个数据点,创建一个高精度的3D点云,从而实现对复杂零件几何形状的快速测量,并以低GRR对最复杂的零件进行精确检测。 最小化堆栈误差 ZeroTouch独特的平面空气轴承设计将公差堆叠误差降至最低。通过为精密级提供极其平滑的高速运动,这种近乎零摩擦的设计确保了更稳定的性能,最大限度地减少了机械磨损,提高了GRR。 高级分析集成 通过业界公认的分析软件,可以通过比较点云扫描与标称CAD模型和GD&T控制来分析零件。统计过程控制(SPC)数据可以驱动警告,以降低变异性和废品率。 图形化零件检测规划 图形化、菜单驱动的零件检测计划工具,消除了对专业编程的需求。通过从MES中调用程序或通过可选的条码阅读器,可以轻松启动计划。 特点和优势 - ...

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DWFRITZ Metrology
激光测量系统
激光测量系统
LC52-DIGILOG

配备 3D 测头的激光测量系统,用于调整和监控整个车铣组合机床的刀具区域。凭借最新的 DIGILOG 技术、高端的激光光学系统和适配的 3D 测头实现无以伦比的快速、精确和可靠。 LC52-DIGILOG —— 适合所有刀具的多面手。将两种测量技术的优势紧凑地集合在一部设备中。 全世界最先进的激光测量系统 •高度动态地测量所有刀具特征 •无接触测量所有刀具类型、形状和刀具材料 •识别到几何形状的变化,例如:刀刃上的磨损 •通过集成在工艺中的温度补偿始终达到良好的零件精度 •可靠地补偿主轴偏移和同心度误差 •自动转动检查识别出劣质的刀架和脏污 •无人化、自动化的运行模式

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Blum-Novotest
视频测量机
视频测量机
FVA-S series

FVA-S是集影像、操控、工艺及配置等为一体的,性能优异的高端光学影像测量仪。豪华硬件配置,强大而丰富的软件功能,为企业带来高可靠性的测量解决方案。广泛应用于军工企业、计量院所、科研机构等行业。 技术特点 1. 超高精度测量,全闭环四轴自动控制 2. 采用德国FRIEDRICH公司典型结构 3. 原装进口核心部件,实验室级环境下精密装配 4. 精密花岗石底座及立柱,保证机械稳定性 5. 配置美国NAVITAR光学镜头,可实现全自动连续变焦,任意变倍测量而无需校正 6. ...

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Wuxi Frederick Measurement and Control Instrument Co., Ltd.
同心度测量系统
同心度测量系统

... 可通过使用量具对不同的轴承直径进行调整。 用于旋转对称部件的高精度同心度测量,如轴、滚子和管子。JFA精密滚子座的结构设计是为了适应非常重的工件。这些精密仪器也可以与尾座对或带反尾座的主轴头结合使用。 结构--刚性的滚子支撑结构 主体由铸铁或钢制成。辊架是由钢制成的。高精度轧制轴承辊的运行精度可达0.002毫米。带有精磨的硬化钢T型螺母。精密的辊子块可以用量具进行调节。它们可以被定位并夹在T形导向和表面板的夹持槽中。 结构 - 浮动辊子支撑结构 辊子支撑结构垂直于工件轴线,是浮动的。其余的执行方式如上所述。如果工件的长度和重量需要两个以上的轴承支撑,就会使用这些精密的滚子块。这使得工件在旋转到0-360°时,可以按照轴承的同心度向侧面移动。同心度的缺陷是可以测量的。工件的偏移被消除了。 调整轴承直径与最终尺寸 借助于测量块,可以根据已知的直径预先调整滚轮挡圈,这样,不同外径的工件也可以高度精确地对准理想轴线,并与之相等。 ...

自主测量系统
自主测量系统
ibaMAQS

... 模块化测量系统 - 同步精确地采集和分析信号 通过 ibaMAQS 模块化系统,iba 提高了测量技术领域的标准。这种灵活的系统可为用户提供特定的解决方案,并具有可扩展性,可完美胜任苛刻的任务。 - 用于采集和处理测量信号的模块化系统 - 采集不同类型的数据,如传感器、机器、振动、能量数据等。 - 分散、本地和同步数据采集 - 与 ibaNet 实现高精度同步 - 适用于从机器上直接采集 - 快速更换模块,DIN 导轨安装 - 在最终状态下,可根据需要组合各种模块 - ...

平面度测量系统
平面度测量系统
ProTwist

... ProTwist µLevel 40 是专为专业工人设计的差分测量系统。在 µm/m 精度方面,我们提供最高的稳定性(6µm/4h)、精确度(<1+A x 2%)和重复性(1µm/m)。当测量系统安装在机器顶部时,可通过附带的外部显示屏轻松对准机器支脚。此外,您还可以同时测量滚动和俯仰误差。 ...

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Status Pro Maschinenmesstechnik GmbH
霍尔效应测量系统
霍尔效应测量系统
DX

... 霍尔效应测量系统用于测量什么? 霍尔效应测量系统用于测量霍尔元件的散装载流子浓度、片状载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁阻等。 霍尔效应测量系统的工作原理: 霍尔效应是指在导体上产生的电位差(霍尔电压),该电位差与导体中的电流和垂直于电流的外加磁场成反比。霍尔效应由埃德温-霍尔于 1879 年发现。 霍尔效应的本质:当固体材料中的载流子在外加磁场中运动时,由于洛伦兹力的作用,运动轨迹发生偏移,材料两侧发生电荷积累,形成垂直于电流方向的电场;最后,载流子的洛伦兹力与电场斥力相平衡,从而在两侧形成稳定的电位差,即霍尔电压。 霍尔效应测量系统的可测试材料: 半导体材料:SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTe ...

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Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd.
3D测量机
3D测量机
INSIGHT500

... 用法: INSIGHT系列自动大行程适用于所有应用领域的二维坐标测量。3D也是如此。广泛应用于LCD、LED显示屏、触摸屏、手机平板、大型玻璃制品、汽车零部件、大型PCB、电影、电视、五金、模具、仪器、塑胶、精密电子、精密机械等领域。 特点: 高精度的大理石底座、台面和立柱,确保高度的稳定性和刚性。 HIWIN高精度直线导轨和TBI研磨级滚珠丝杠。 松下全闭环伺服电机,速度可调节。 RSF高精度非接触光栅尺,分辨率为0.0005mm。 可编程5环8区环形面灯,满足不同角度的照明需求。 全自动变焦镜头,更换放大倍数时无需重新校准,节省校准时间,避免人为错误。 可选雷尼绍接触式测头,用于高度、深度和其他三维测量。 可选THK直线导轨和滚珠螺杆 可选的KEYENCE激光位移传感器,用于粗糙度、平面度表面测量。 可选的光谱共聚焦传感器,用于测量小而敏感的表面。 ...

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Leader Precision Instrument Co. Ltd
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