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高解析度衍射仪
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最灵活、最全能的XRD解决方案,可理想地满足工业和学术界的研究、开发和质控要求。 D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪,带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下,对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。 应用范围: 定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析 X射线反射法、掠入射衍射(GID)、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析 残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射(WAXS) 总散射分析:Bragg衍射、对分布函数(PDF)、小角X射线散射(SAXS)
马尔文帕纳科新一代 X'Pert³ MRD 高分辨X射线衍射仪其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力,提供一体化解决方案来满足不同需求和应用: • 半导体和单晶晶圆:倒易空间探索、摇摆曲线分析 • 多晶固体和薄膜:织构分析、反射测量 • 超薄薄膜、纳米材料和非晶层:掠入射物相鉴定、面内衍射 • 非常温条件下的测量:随温度和时间变化的峰高 X'Pert3MRD 经过专门设计,符合现代材料研发实验室的要求。X'Pert3MRD 的开发重点考虑了薄膜应用的需要,因此提供了多种样品架,可容纳直径达 ...
D8 DISCOVER系列是市面上准确、功能强大和灵活的X射线衍射解决方案。从典型的粉末衍射到尖端材料研究,覆盖范围极广,它还支持通过最新技术进行定制,其中包括高性能X射线源、专用光学器件、专用样品台和多模式探测器。 D8 DISCOVER,即多用途X射线分析仪系列,支持所有基于X射线衍射和散射的材料研究应用,包括定性和定量相分析、结构分析、高分辨率X射线衍射、反射率测量、倒易空间扫描、掠入射衍射(面内GID)、掠入射小角X射线散射(GISAXS)、应力分析和织构分析以及微区衍射,具体取决于使用的附件。 无论面对何种应用,DIFFRAC.DAVINCI都会指引用户选择最佳的仪器配置。而DIFFRAC.SUITE软件包可通过精简的分析方法制定与执行,来对新手用户进行指导,同时以低调的方式为专家提供协助。借助强大的分析软件,那些希望获取最佳结果的人员,仅需按下按键,就可获得深入的分析结果。 ...
... TTRAX III 是世界上最强大的衍射仪。 采用 18 kW 旋转阳极 X 射线源,采用了 θ 几何形状,为要求苛刻的应用提供了完美的系统。 TTRAX 的高功率源对薄膜衍射和粉末样品中痕量相的测定都大有裨益。 TTRAX 采用十字光技术 (CBO) 和独立的平面内散射轴,提供尽可能广泛的测量几何形状,无需重新配置系统。 实验能力包括标准粉末衍射、一目入射衍射、平面内衍射、高分辨率衍射、X 射线反射率和小角度 X 射线散射 (SAXS)。 TTRAX III ...
... ADX-2500 X 射线衍射仪设计用于微观结构测量、测试和深入研究研究。 它提供了单晶、多晶和无晶样品的分析,以及其他类型的分析,如相位定性分析和定量分析、模式索引、单位细胞测定和细化等。 硬件和软件无缝结合,使仪器能够执行不同类型的分析。 该模型采用稳定的 X 射线发生器控制系统及其衍射角度测量精度,确保收集准确的数据。 ADX-2500 由 X 射线发生器、测角仪、记录单元和集成性能组成。 随附的软件可实现常规衍射数据处理任务,例如:自动峰值搜索、手动峰值搜索、积分强度、Kα1、α2 ...
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