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高解析度分光辐射计
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
波长: 805 nm - 1,006 nm
CAS 140CT-HR – 最适合在实验室和生产中精准测量激光二极管 高分辨率 CAS 140CT-HR 光谱仪基于 Instrument Systems 成功的 CAS 140CT 系列阵列光谱仪。它专为评估窄带发射源(激光器/VCSEL)而开发,以较短的测量时间提供极高的光谱分辨率。 具有冷却性能的 CCD 探测器支持复杂的光谱测量,并且具有极短的光脉冲、低暗电流和低噪声。由于 CAS 140CT-HR 可延长积分时间,因此还适合测量极弱的光源。 和 ...
Instrument Systems
波长: 805 nm - 982 nm
高分辨率 CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR 光谱仪基于 Instrument Systems 的 CAS 120 系列阵列光谱仪。专门开发用于精准测量价格敏感型大批量生产中的窄带发射源(激光器/VCSEL)。 CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR 能在较短的测量时间内提供极高的光谱分辨率,因此适用于极短光脉冲的高要求光谱测量。 和 Instrument Systems 的所有 CAS 型号一样,CAS 120-HR/B-HR ...
Instrument Systems
波长: 902 nm - 982 nm
... Instrument Systems 的高分辨率光谱辐射计 CAS125-HR 兼具高分辨率和极短的测量时间。因此,它非常适合在窄带光源(如激光/VCSEL)生产线上进行时间紧迫的循环测量。 温度稳定的 CMOS 传感器 CMOS 传感器配有专门开发的读出电子元件,测量时间可短至 10 µs。因此,即使是很短的窄带光脉冲也能测量。此外,还提供 "配方模式",可将数千次测量组合成一个测量系列。这使得高效的制造工艺成为可能。传感器的集成温度稳定功能可确保暗电流特性不受环境条件的影响。 最大光谱分辨率 CAS ...
Instrument Systems
波长: 350 nm - 2,500 nm
8 nm SWIR 分辨率特别适用于地质研究和大气研究 ASD FieldSpec® 4 Hi-Res 是一款设计用于为各种遥感应用提供更快、更准确的光谱数据测量结果的高分辨率光谱辐射仪。 ASD FieldSpec® 4 Hi-Res 光谱辐射仪的 3 nm VNIR、8 nm SWIR 光谱分辨率可在全范围太阳辐照光谱 (350 – 2500 nm) 内提供稳定可靠的光谱性能。 SWIR 范围 (1000 – 2500 nm) 内的增强光谱分辨率特别适合检测和识别具有窄光谱特征和更长波长的化合物,如蚀变矿物和用于大气分析的气体。 此外,8 ...
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