干涉测量轮廓测量仪

用于微观结构和粗糙度的紧凑型光学轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap白光干涉仪系列的紧凑型测量系统，能够对表面结构细节、表面纹理和表面粗糙度参数进行可重复和高分辨率的检查和评估。通过集成CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + 粗糙度、纹理和微观结构的全面积和三维形貌分析 + ...

表面细节、形状参数和粗糙度的综合光学三维测量 TopMap Pro.Surf+为所有表面表征要求提供定制解决方案，评估形状参数，如平面度、台阶高度、平行度和表面粗糙度。其空间分辨率和远心光学系统可到达深层区域，加上无与伦比的测量速度，显示了这种生产计量工具的高性能。 TopMap Pro.Surf+ 使用诸如平面度、台阶高度、平行度和粗糙度等参数为所有表面特性要求提供定制解决方案。总之，空间分辨率、远心镜头和速度确实令人印象深刻。 白光干涉仪与色彩共焦技术的组合意味着不会忽略任何细节。几秒钟内就可完成 ...

Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计，集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身，是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量（CSI）轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型，优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛，可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等，是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品，Nexview™ ...

... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征，确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术，ZeGage Pro提供创新技术，以实现精确、可靠、简单和自信的表面计量。 独家功能包括SureScan™技术，用于振动稳健的计量，Part ...

NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的，并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术（CSI），它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型，可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ZYGO ...

... Nexview™ 650计量系统是一种检测工具，用于自动测量注塑模具、PCB、玻璃面板和其他需要扩展工作体积的样品，最大尺寸为650 x 650 mm。它提供各种表面特征的二维和三维测量，具有亚纳米的垂直精度和亚微米的横向精度。 强大的性能 相干扫描干涉仪（CSI）是Nexview™ 650系统的核心测量技术。 这种非接触式技术提供了高精度和高价值的表面计量优势，包括。 - 测量几乎所有类型的表面，从粗糙到超光滑，包括薄膜、陡坡和大台阶。 - 亚纳米级的测量精度与现场放大率无关 - ...

简洁 . 灵动 . 强劲. Slynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将3种测量方式融于一体，确保了其完美的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。 应用领域 - 汽车业 - 消费电子产品 - 能源行业 - 液晶显示屏 - ...

新一代 可集成 区域共聚焦 传感器 通过紧凑型设计和多功能性的完美结合，S mart 2 是市面上 独一无二的可集成的区域共聚焦传感器。 S mart 2 的设计非常易于集成，包括计算核心在内的所有电子设备都在测量头内部。这样的设计使得安装 Sensofar 系统从未如此简单：S mart 2 只有两个接口：网线和电源。 可集成头的形状经过精心设计，以改善系统的适配性。与早期型号相比，其设计更窄，进而允许集成头不会干扰到用户或制造操作。 S ...