非接触式轮廓测量仪

业纳专为自动化应用环境设计了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统。通过智能硬件和软件接口，可以将这些系统灵活无缝地集成到您的自动化生产过程中。我们的系统提供高精密且可靠的测量结果– 即使在恶劣的生产环境下长期操作后，也可以做到这一点。 轴测量系统的测量周期只有几秒，令人印象深刻。这意味着您可以高效检测生产，并减少浪费。这些系统采用多种设计，因此可以水平或垂直装载。我们还针对特别大型和重型的轴提供了特殊的测量系统。如有必要，我们可以针对您的具体需求量身定制我们的系统。 我们的测量和评估软件具有全面的功能，并且提供了用于控制校正值的额外选项，还可以轻松集成在制造过程中。该程序易于理解且易于操作。 优点 • ...

形态参数和表面地形的三维和区域评价 TopMap Pro.Surf可快速确定大面积的形状偏差和表面形貌，并且具有极高的精度。TopMap Pro.Surf是一个高端光学表面轮廓仪系统，非常适合精密机械制造业的质量控制，无论是在线、在生产线上还是接近生产。TopMap Pro.Surf为所有表面表征任务提供定制的解决方案，只要评估表面参数，如平面度、台阶高度和平行度是基本的。其高空间分辨率和远心光学概念以及出色的测量速度使其成为生产层面上最可靠的非接触式传感器解决方案。 测量形状公差，如平面度、波浪度、台阶高度等。 Polytec白光干涉仪实现了区域性的三维测量，在一次拍摄中收集所有的表面细节。在44 ...

用于微观结构和粗糙度的紧凑型光学轮廓仪 TopMap Micro.View®是TopMap白光干涉仪系列的紧凑型测量系统，能够对表面结构细节、表面纹理和表面粗糙度参数进行可重复和高分辨率的检查和评估。通过集成CST连续扫描技术，Z轴100毫米的行程提供了完整的100毫米测量范围，垂直分辨率在纳米范围内。这款光学轮廓仪的特点是设计紧凑，集成了电子元件，使用方便，例如，通过自动寻焦功能，在生产环境和测试实验室中进行快速有效的测量。 + 粗糙度、纹理和微观结构的全面积和三维形貌分析 + ...

新一代光学表面轮廓仪 TopMap Micro.View+ 是新一代光学表面轮廓仪。 该模块化工作站专为模块化设计，可进行定制和特定于应用的配置。 MICRO.VIEW +提供了最详细的表面粗糙度，纹理和微观结构形貌分析。 结合3D数据和颜色信息结合起来，实现惊人的可视化和扩展分析，如缺陷的详细文档。 高分辨率500万像素相机提供了令人难以置信的工程表面3D数据可视化。 启用自动化且可投入生产线 编码和电动转塔确保了物镜之间的无缝过渡。 Micro.View+ ...

　　SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 二、产品功能 1.系统光源及寿命：双LED光源（白光和绿光），10万小时超长寿命，终身无需更换； 2.测量模式：垂直扫描干涉模式（VSI），相移干涉模式（PSI），结合VSI和PSI的自适应通用测量模式（USI） 3.多区域自动分析：自动获取图案化形貌区域的三维信息（高度、宽度、面积、体积、粗糙度、倾角等），同时具有自动统计分析功能。 4.一体化操作的测量与分析软件，操作无须进行切换界面，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能。 5.测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等自动化功能。 6.测量中提供拼接测量功能。 7.分析中提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能，其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。 8.分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能，其中粗糙度分析包括依据国际标准的ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数分析功能；几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等功能；结构分析包括孔洞体积和波谷深度等；频率分析包括纹理方向和频谱分析等功能；功能分析包括SK参数和体积参数等功能。 9.分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能，设置分析模板，结合测量中提供的自动测量和批量测量功能，可实现对小尺寸精密器件的批量测量并直接获取分析数据的功能。 三、应用领域 　　对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

　　SuperView W3白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。 SuperView W3白光干涉仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 ...

... 纳米三维光学表面轮廓仪 SuperView W1 产品型号： SuperView W1/W1-Pro 产品名称：纳米 3D 光学表面轮廓仪 标准视场角(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)毫米 测试对象的反射率：0.5 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.005 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台测量精度 0.3 % 平台测量重复性 0.08% 1σ SuperView W1 光学三维表面轮廓仪是对各种精密零件进行亚纳米级测量的理想仪器。它基于白光干涉技术原理，结合精密的 ...

Nexview™ NX2 三维光学轮廓仪专为最苛刻的应用而设计，集卓越的精度、先进的算法、应用灵活性和自动化于一身，是 ZYGO 最先进的相干扫描干涉测量（CSI）轮廓仪。 这种完全非接触式技术可在所有放大倍率下提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用同类技术更快、更精确地测量更多的表面类型，优化了投资回报率。Nexview NX2 应用范围广泛，可以测量几乎任何表面和材料的平整度、粗糙度和波纹、薄膜、台阶高度等，是一款名副其实的轮廓仪。 作为最新一代的旗舰产品，Nexview™ ...

... 生产就绪的三维光学轮廓仪系统 ZeGage Pro HR 三维光学轮廓仪 ZeGage™ Pro和ZeGage™ Pro HR三维光学轮廓仪为许多类型的表面的微观和纳米尺度的特征提供非接触式的测量和表征，确保在您的制造环境中进行质量控制和过程监控。 我们行业领先的ZeGage Pro系列为台式工业非接触式表面测量仪的性能、易用性、灵活性和精度设定了标准。基于ZYGO专有的CSI技术，ZeGage Pro提供创新技术，以实现精确、可靠、简单和自信的表面计量。 独家功能包括SureScan™技术，用于振动稳健的计量，Part ...

NewView™ 9000 三维光学表面轮廓仪在非接触式光学表面轮廓测量方面提供了强大的多功能性。该系统可以方便快捷地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶式表面。所有的测量都是无损、快速的，并且不需要准备样品。 该系统的核心是 ZYGO 的相干扫描干涉测量技术（CSI），它在所有放大倍率下都能提供亚纳米级的精度，并且能够比其他商用技术更快、更精确地测量更多的表面类型，可优化您的投资回报率。 高性能、高性价比和多功能性 灵活性是 ZYGO ...

Smart_Projector 224 快速工业级影像测量仪器 “智能轮廓检测仪可以自动、客观、可重复性的、简易、快速的进行零件尺寸测量” 操作简单，快速 意大利智测公司研制的智能轮廓检测仪是第一款用于实现零件全面的、自动的尺寸检测的仪器。可以便捷、快速的检测各类零件尺寸。 自动化，适于生产现场使用 是传统轮廓投影仪、卡尺等测量手段的革命性数字化换代产品，可以在几秒钟内检测大量数据，无须零件基准对齐、无须手动对焦，操作简单。该仪器内部没有运动部件，运行稳定。 测量准确 智能轮廓检测仪可以客观的、重复性的测量零件，简单的合格/不合格信号输出，操作员无法干涉测量结果，自动的输出多种报告格式，如Excel格式文件（csv，tsv，txt），打印格式文件（如pdf文件），或输出图像文件。 工业等级，结构紧凑 智能轮廓检测仪是一款高速、紧凑、稳定、易于操作、易于编程的仪器，适用于恶劣环境及检测任务繁重的工作环境。

Smart_Projector_Ruby 用于微小零件检测的影像轮廓测量仪 “This Smart_Projector_Ruby 是测量手表零件等微小零件的完美解决方案” 高精度高重复性 Smart_Projector_Ruby 是一款全自动轮廓检测仪，结合高精度、客观性、高重复性、友好操作界面等特点于一体，由意大利智测公司技术团队倾力打造。 结构紧凑，功能强大 使用独一无二的小视野，结合可以移动的X/Y轴，使得该仪器适合超高精度检测要求的零件检测，如手表零件，小型电子零件、微小机械零件的快速检测。 测量精确 无论是图像对焦中心或零件从一端移动到另一端，该仪器确保测量非常稳定。采用高精度的双反射光源，和高精度的光学镜头相接合，取保测量精确无误。 工业等级，结构紧凑 Smart_Projector_Ruby ...

简洁 . 灵动 . 强劲. Slynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D光学轮廓仪。它设计简洁、用途多样。Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌测量应用。Sensofar的核心专利是将3种测量方式融于一体，确保了其完美的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。 应用领域 - 汽车业 - 消费电子产品 - 能源行业 - 液晶显示屏 - ...

新型 S neox 在性能、功能、效 率和设计方面优于现有的 3D光 学轮廓仪，是Sensofar 的新一 代高端测量系统。 前所未有的速度 通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机，达到前所未有的速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以前快 5 倍。S neox 成为市场上速度最快的表面测量系统。 易于使用 Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 系统的诞生，我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。模块化设计的软件，使系统适应用户多样的需求。

超快的非接触式三维透镜轮廓测量仪 LUPHOScan SL 是大批量测量小透镜的理想选择，该系统的主要优势包括超快的测量速度及其测量透镜几何特征的能力。它可以测量光学表面和几何特征，如扣合面（坎合面）的圆度、平面镜片的平面度以及光学表面与这些特征的相对位置等。 世界上最快、最精确的非接触式3D手机镜头测量系统 LUPHOScan SL 适用于小透镜的大批量测量，主要优势包括超快的测量速度和透镜几何特征的测量能力。 设计和生产的独特优势 •超高重复精度 ...

用于测量非球面、自由曲面光学元件和透镜模具的非接触式三维形状/外形测量设备 LUPHOScan HD非接触式三维光学轮廓仪可对高偏差非球面和自由曲面等具有挑战性的表面的半径和不规则度进行最高精度的非接触式三维轮廓测量。LUPHOScan HD的稳定性是行业领先的，特别在一些严苛的环境下，也能保证对非球面和自由曲面进行超高精度地快速轮廓测量，新一代LUPHOScan HD三维轮廓仪是业界首款在高达 90°的采样斜率上精度优于 50 nm (3σ) 的仪器。 LUPHOScan ...

世界上功能最全的非接触式 3D 表面精密检测仪，适用于大口径的精加工光学工件的检测 LUPHOScan 850 HD被设计用于对非球面透镜、球面、平面和轻微自由曲面等旋转对称表面（光学器件）进行超高精密非接触式三维表面形状测量。该轮廓仪的主要优点包括测量速度快，对一些特殊的表面形状（如平顶或带有拐点的轮廓）具有高度灵活性。 Taylor Hobson一直在努力突破大型光学计量的极限。现在我们非常荣幸的宣布正式推出LUPHOScan 850 HD 大型光学工件精密检测仪 LUPHOScan ...

... NOVACAMTM OPTICAL 3D PROFILOMETERTM 系统以光纤为基础，提供以下功能 - 微米精度三维测量 - 尺寸几何 - GD&T 参数 - 粗糙度测量 - 缺陷检测 - 裂纹、划痕 - 半透明材料的厚度测量 - 可扫描难以触及的表面：侧视探头可扫描内孔 ID 和其他狭小空间，也可提供前视探头 - 基于光纤的测头易于与精密平台、第三方坐标测量机、数控机床或机器人集成，支持大批量连续流制造 - 完全可配置的自动检测。 值得注意的是，同一个测头可用于测量尺寸、粗糙度、缺陷和/或厚度。 测量 - ...