非接触式测厚仪

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激光测厚仪
激光测厚仪
thicknessGAUGE C.L

测量范围: 10 mm - 25 mm
测量精度: 2 µm - 5 µm
测量频率: 4 kHz - 4 kHz

... thicknessGAUGE C.L传感器系统使用激光三角测量传感器进行厚度测量。这些激光传感器能在高速下实现高测量率。thicknessGAUGE.laser系列以良好的性价比给人留下深刻印象,最好用于普通表面的厚度测量,如塑料、木材和金属。 thicknessGAUGE传感器系统可用于带材加工和板材生产,以连续测量单个工件的厚度。 在单个测量点上连续测量厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
thicknessGAUGE C.C

测量范围: 2 mm
测量精度: 4 µm
测量宽度: 200 mm - 400 mm

... thicknessGAUGE C.C传感器系统使用共聚焦色度位移传感器进行厚度测量。这些传感器使测量工作具有出色的准确性和高测量率。此外,这种创新的测量技术可以测量反射和闪亮的表面,以及(半)透明的测量对象。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产,以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 具有记录和过程控制的功能。 文章数据库 生产档案 统计评估 返回生产的极限值监测(可选现场总线接口) 测量系统能力的验证 ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
thicknessGAUGE C.LP

测量范围: 8 mm
测量精度: 0.8 µm
测量频率: 100 Hz

... thicknessGAUGE C.LP传感器系统使用激光轮廓扫描仪进行厚度测量。这些扫描器在被测表面上投射出一条激光线。激光线可以补偿板带的倾斜,并实现轮廓的平均化。激光线测量技术使得测量结构性材料的厚度成为可能,如压花表面和穿孔板。 厚度GAUGE传感器系统被用于带材加工和板材生产,以便在个别地方连续测量厚度。 为了连续测量各个测量点的厚度。这些系统的设计方式使其既可作为初始设备,又可用于现有设施的改造。这些传感器系统以高精度为基础,配备了智能传感器技术,被应用于各个行业。 强大的分析和控制软件。 thicknessGAUGE系统配备了一个多点触摸的软件包,用于 分析、展示和归档监测的生产数据。这个软件能够 不同的测量模式,如在任何位置的固定轨道厚度测量。 测量厚度曲线,测量几个纵向趋势,SPC 包和自动验证测量系统的能力。它可以确保轻松 它确保了对测量系统能力的简单和快速的验证,该系统可单独调整。 用于记录和过程控制的功能。 - ...

涂层测厚仪
涂层测厚仪
PosiTest® PC

测量范围: 20 µm - 100 µm
测量精度: 5 µm
分辨率: 1 µm

非接触式未固化粉末测厚仪 采用非接触式超声波技术测量未固化粉末涂料,预测固化厚度,价格实惠 • 开箱即可测量的专用独立装置 • 测量速度快达4倍*--移动线和摆动部件的理想选择 • 大多数粉末无需校准调整 • 可存储999个读数,并在屏幕上显示平均值。存储的读数可下载至PosiSoft桌面软件。 • 扫描模式连续测量--非常适合分析大面积区域 简单 • 开箱即可测量的专用独立装置 • 高达4倍的测量速度* - 是移动生产线和摆动部件的理想选择 • ...

激光测厚仪
激光测厚仪
Microtrack 3 series

测量范围: 4 mm - 40 mm

... 带数字厚度计算的非接触式激光测厚仪 Microtrak 3 测厚仪系统用于自动化金属、纤维板和水泥板板生产,QA/QC 将我们经过验证的非接触式激光三角测厚传感器与模块化控制器相结合,可以作为用于位移测量的独立解决方案或使用 PLC/PC 进行测量。 该控制器通过高速内部采样和数字厚度计算简化了厚度应用,从而减少了传统模拟求和方法经常遇到的误差。 控制器可在 0.00025 秒内检测超出范围的厚度条件,并通过数字输出引脚提供指示。 采用 密封膜键盘 彩色 ...

固定式厚度测量仪
固定式厚度测量仪
ECV Pro™

... ECV Pro 系统的设计从头开始,消除了数据中所有依赖于操作员的变化。 产品概 述 ECV Pro 系统是测量半导体层中有源载波浓度曲线的行业标准。 该系统新设计的数字电子元件消除了漂移,并显著提高了信噪比。 ECV Pro 系统的独特设计消除了数据中所有依赖于操作员的变化。 推出第一台原位摄像机 EcVision,使用户能够成像半导体/电解质接口。 它还提供了在蚀刻过程中的薄膜去除或缺陷揭示的新的见解。 ECV Pro 系统软件基于行业标准的 SEMI ...

便携式测厚仪
便携式测厚仪
LD5850

... 粉末标签测量固化前后粉末涂层的厚度,非接触性和无损性。 特定粉末、红外和光热技术的精密组合可测量粉末涂料的厚度,其预固化和固化状态是精确和可重复的。 节省粉末消耗! 节省返工和拒绝! 提高效率! 提高质量! 粉末标签是一种非接触式生产工具,专为油漆生产线而开发。 由于 PowderTag 的脉冲不需要垂直,并且具有较小的测量点,因此,PowderTag 非常适用于精确确定小型、弯曲或难以触及的物体上的层厚度。 即使在线框或小角落和边缘。 LED ...

固定式厚度测量仪
固定式厚度测量仪
AUREX MK

测量范围: 0.5 mm - 400 mm

... AUREX MK 是适用于 0.5 - 400 毫米管道尺寸的完整解决方案。它可以满足指定的壁厚、偏心率、直径和椭圆度公差要求。由于结合了高质量的电子设备和创新的测量方法,最多可评估 7 层 0.02 毫米的壁厚。 除了用于产品控制和可视化的标准测量外,还可选配 "快速规格检查 MK/AFM",以进行快速壁厚检查。由于 AUREX MK 在圆周上并不完全覆盖管材,因此这种壁厚检查可用于检测因生产的管材在整个圆周上抽动而造成的典型薄截面环。 无需进一步密封 ...

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iNOEX GmbH
固定式厚度测量仪
固定式厚度测量仪
METRIX FILM

... Metrix FILM 用于测量静态或动态薄膜或部件的厚度,可离线或在线测量。 用于非接触式厚度控制 METRIX FILM传感器是LVDT和气动传感器的独特组合。 它们可以进行非接触式测量,具有很高的精度和准确性,并兼容在线使用。 应用 METRIX FILM的应用包括塑料薄膜和橡胶条挤出生产线的厚度控制。它也适用于各种形式的产品(如板、膜、垫、片、粒)。 它与材料的颜色或亮度无关。 为什么它是独一无二的? 精确、准确的厚度测量。 低至微米级或更高,低R&R量规。 可变性测量 适用于各种形式(如板、膜、垫、片、颗粒),且与材料的颜色或亮度无关。 材料友好型控制 与非接触式气动传感器,可以保持材料的完整性。 在线测量选项 用于运动部件或薄膜的自动测量。 ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
INLINE.SECTOR F1

测量范围: 0.1 mm - 4 mm

在线软管壁厚 检测系统 INLINE.SECTOR F1 软管测试的未来。 MABRI.VISION INLINE.SECTOR F1 测试系统描述了塑料和硅胶软管质量控制的未来:无损和在生产周期中。 高效且在移动中。 360° 传感器创建横截面以检查半透明软管的内径和外径、壁厚和几何形状:直接在您的挤出生产线上。 创新——我们的激情! 测试过程必须完美地集成到生产过程中。 因此,MABRI.VISION 依靠创新的解决方案来支持您的检测过程。 节省材料。 MABRI.VISION ...

非接触式测厚仪
非接触式测厚仪
PosiTest PC

测量范围: 20 µm - 100 µm
测量精度: 5 µm
分辨率: 1 µm

... 使用非接触式超声波技术测量未固化的粉末涂料,预测固化厚度,价格合理。 - 专用的独立设备,开箱即可测量。 - 高达4倍的测量速度* - 是移动生产线和摆动部件的理想选择 - 对大多数粉末不需要校准调整 - 储存999个读数,屏幕上有平均数。存储的读数可以下载到PosiSoft桌面软件中 - 扫描模式连续进行测量--是分析大面积的理想选择 - 符合ASTM D7378标准 简单 - 专用的独立设备,开箱就可以测量。 - 高达4倍的测量速度* - 是移动线路和摆动部件的理想选择。 - ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
STG

... Vollmer 的辐射计无接触式测量仪可在安全距离内进行测量。它们的特点是其极其狭窄的设计:对于某些系统,C 框架宽度仅为 120 mm。 Vollmer 的 X 射线系统配备了数字检测器,这些检测器具有极低的噪声值。沃尔默为系统提供高品质陶瓷管和必要的冷却器。 同位素系统还配有数字探测器。沃尔默系统的一个特点是辐射源位于一个特殊的钨抽屉中,可以很容易地从仪表中删除。 合金补偿既可以使用校准板,也可以根据客户的化学合金分析,也可以在计算机上进行,也可以简单地使用一个小接触式厚度计来测量通过开始时的绝对厚度,并将此值传送到辐射测厚仪。 ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
Essair™ Reflex

... Essair™ Reflex ESSAIR™ REFLEX是电子系统公司的专利测量技术,是无接触直接测量厚度的理想选择。 主要特点 它不使用任何类型的放射源 直接的厚度测量,以微米或毫米表示 不与材料接触 自动校准系统 类别。传感器。 标签:涂料和层压,复合材料,纸张,PVC压延,板材和箔。 描述 ESSAIRTM REFLEX安装在配备有参考辊的扫描仪上,用于在反射模式下的测量,同一辊代表了确定测量值的零参考。用于柔性材料,保证其与参考辊的良好粘附性。 该传感器可以根据应用的具体需要进行个性化定制。 - ...

固定式测厚仪
固定式测厚仪
EddyCus® TF lab 2020MT

测量范围: 1 nm - 100,000 nm

... EddyCus® TF lab 2020MT - 非接触式单点金属厚度测试仪 EddyCus® TF lab 2020MT可以对透明和非透明层进行非接触金属厚度测量。测量是通过一个非接触式的涡流传感器实现的。它可以实时测量已知或(更确切地说)恒定电导率的材料的金属厚度。这种非接触式测试技术能够在很宽的厚度范围内进行精确测量,从几纳米的厚度开始,一直到厚金属片和板材的表征。该技术还能够表征被非相容材料覆盖的金属层。SURAGUS为非常薄的金属层以及非常厚的金属和普通合金提供特定的材料设置。该测量方法非常稳健,具有高重复性和高精确度。此外,它不需要任何光学透明度,也不需要应用物理接触。因此,它被广泛用于快速测试或系统性质量保证的应用。 软件和设备控制 - ...

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