电子显微镜

倍率: 2,000,000 unit
空间分辨率: 2, 10, 3 nm

... 台式场发射枪扫描电子显微镜，用于各学科的高质量成像。 场发射枪扫描电子显微镜 Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM 将场发射扫描电镜搬到了您的桌面上。Phenom Pharos G2 FEG-SEM 在图像质量方面优于许多落地式扫描电镜，同时提供更好的用户体验。Phenom Pharos G2 FEG-SEM 外形美观，所需培训时间短，让迄今为止还不认为扫描电子显微镜是现实选择的学术和工业实验室也能享受到 FEG ...

空间分辨率: 0.3 nm - 1.5 nm
重量: 500 g

... TEM和STEM成像或原子探针断层成像的样品制备。易于使用，具有先进的自动化功能。能够进行高质量的地下三维表征。 FIB样品制备 新的Thermo Scientific Helios 5 DualBeam建立在业界领先的Helios DualBeam系列的高性能成像和分析能力之上。它经过精心设计，以满足材料科学研究人员和工程师对广泛的聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）使用案例的需求--即使是对最具挑战性的样品。 Helios 5 DualBeam重新定义了具有高材料对比度的高分辨率成像标准；快速、简便、精确的高质量样品制备，用于（S）TEM成像和原子探针断层扫描（APT），以及高质量的次表面和三维表征。在Helios ...

倍率: 160 unit - 200,000 unit
空间分辨率: 0 nm - 10,000 nm

... 桌面 SEM 可通过故障分析和工艺改进实现高质量的钢铁制造。 钢铁制造领域的冶金学家和研究人员需要扫描电子显微镜（SEM）和能量色散 X 射线光谱（EDS）数据来进行失效分析和工艺改进。Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 是一款多用途台式扫描电子显微镜，可对钢中的非金属夹杂物进行失效分析和自动表征。 钢材夹杂物分析 这种多功能解决方案可对钢材样品进行高质量成像和元素分析，为当今高价值钢材的高效生产提供所需的数据。快速、简便的分析使您能够对客户提出的故障、失效等索赔做出快速反应，而自动钢中夹杂物分析则使您能够深入了解炼钢过程。 占地面积小 Phenom ...

空间分辨率: 0.7, 1.2 nm

蔡司GeminiSEM可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计，不仅操作更加简便，用途更加灵活多样，还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。 GeminiSEM 360是用于您分析测试平台的理想设备，为材料和生命科学、工业领域提供了至臻的功能性。凭借其Gemini 1电子光学镜筒，GeminiSEM 360可为各种应用和样品类型提供高分辨率成像及分析。 ...

EVO系列结合高性能扫描电子显微镜，为显微镜专家和新用户带来直观且易操作的使用体验。凭借丰富的选件，无论是在生命科学、材料科学，或是在日常工业质量保证和失效分析领域，EVO均可根据您的需求量身定制。 用于显微镜中心或工业质量保证实验室的多功能解决方案 获取真实样品的出色图像 使用六硼化镧（LaB6）发射体实现高图像质量 对非导电和未涂层样品进行出色的成像和分析 工作流自动化和数据完整性 轻松使用丰富功能 SmartSEM ...

将高分辨率场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）的成像和分析性能与新一代聚焦离子束（FIB）的加工能力相结合。无论在科研机构还是工业实验室，您都可以在多用户实验平台中工作。利用蔡司Crossbeam的模块化平台概念，根据日益增长的需求升级您的系统，例如使用LaserFIB进行大规模材料加工。在切割、成像或执行三维分析时，Crossbeam将提升您的FIB应用效率。 使您的SEM具备强大的洞察力 提升您的FIB样品制备效率 在您的FIB-SEM分析中体验出色的三维空间分辨率 使您的SEM具备强大的洞察力 ...

倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.9, 0.8 nm

超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700 随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。 超高分辨观察和超强分析能力 日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1 kV的低加速电压仍可进行高分辨观察，适应更多应用场景。同时，可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项，满足更多的观测需求。 先进的自动化功能* EM ...

倍率: 20 unit - 2,000,000 unit
空间分辨率: 0.7, 0.6 nm

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列 随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。 超高分辨成像 日立的高亮度电子源可保证了即使在超低着陆电压下，也可获得超高分辨的图像。 0.8 kV电压条件下观察RHO型沸石的实例。左图为颗粒整体的形貌,右图为放大图像，颗粒表面细微的台阶结构清晰可见。低电压观察对于减少电子束损伤和获取表面形状信息较为有效 高衬度的低加速电压背散射图像 3D ...

... 用于自动布氏内尔测量的数字显微镜 ISO 6506-ASTM E10 电子显微镜用于自动布氏压痕测量，具有直径 2.5 或 5 或 10 mm 的球 • 用户友好和紧凑型 • 自动光调节 • 测量精度和重复性 +/-1% v • 可安装 • 将数据和图像导出为 Jpg, Bmp, PDF, excel, txt, CSV • 创建和打印包含结果和统计数据的报告 • 远程数据网络, 校准, 服务和软件更新的互联网连接 软件 控制整个测量，避免设置错误或操作 ...

倍率: 300,000 unit
空间分辨率: 3, 4, 7 nm
重量: 480 kg

... CIQTEK SEM3200 是一款高性能钨丝扫描电子显微镜。它具有出色的图像质量、低真空模式兼容性、不同视场的高分辨率图像。景深大，图像立体感强。 扩展的可扩展性和功能 SEM SE\BSE\EDS\EDX\EBSD 等 光学导航 快速定位目标样品和感兴趣的区域 *大规模图像拼接 全自动选图和拼接，以显示大视场 图像混合（SE+BSE） 在一张图像中观察样品的成分和表面信息 *双阳极结构 在低电压下提高分辨率和成像质量 *低真空模式 在低真空条件下提供样品表面细节和形态，只需点击一下软件即可切换真空状态 ...

倍率: 1 unit - 2,500,000 unit
空间分辨率: 0.8 nm - 1,200 nm
重量: 950 kg

... CIQTEK SEM5000Pro 是一款高分辨率、功能丰富的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM，FEG SEM）。 先进的柱体设计、高压隧道技术（SuperTunnel）、低像差无泄漏磁性物镜设计，实现低电压高分辨率成像，同时可应用磁性样品。光学导航、先进的自动功能、精心设计的人机交互和优化的操作。 无论是否有经验，都能快速上手高分辨率拍摄任务。 低加速电压下的高分辨率成像。 电磁复合镜减少了像差，显著提高了低电压下的分辨率，并可观察磁性样品。 高压隧道技术（超级隧道），隧道中的电子可保持高能量，减少空间电荷效应，确保低电压分辨率。 无交叉的电子光学路径可有效减少系统畸变，提高分辨率。 水冷恒温物镜，确保物镜工作的稳定性、可靠性和可重复性。 磁偏转六孔可调光阑，自动切换光阑孔位，无需机械调节，实现高分辨率观测或大光束分析模式的快速切换。 ...

倍率: 1,000,000 unit
空间分辨率: 0.9 nm - 2.5 nm

... CIQTEK SEM4000Pro 是一款分析型场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度长寿命肖特基场发射电子枪。 SEM4000Pro 采用三级聚光器电子光学柱设计，束流高达 200 nA，在 EDS、EBSD、WDS 和其他分析应用中具有优势。该系统支持低真空模式以及高性能低真空二次电子探测器和可伸缩背散射电子探测器，有助于直接观察导电性差甚至不导电的样品。 - 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪 - 30 kV 时分辨率高达 0.9nm - 三级聚光透镜设计，束流可调范围宽，最大束流可达 ...