电子工业光谱仪

波长: 435 nm - 11,440 nm
长度: 840.8 mm
宽度: 393 mm

... Andor Shamrock SR-750 基于 Czerny-Turner 光学设计。Shamrock 可作为预对准探测器/光谱仪选件，实现软件、电子设备、光学器件和探测器的无缝集成。此外，还有一个快速、交互式的图形软件界面，可以完全控制光谱仪的所有功能。 - 预对准、预校准探测器和光谱仪 - USB 2.0 接口 - 电动分度式三光栅转塔 - 双探测器输出 - 多轨增强选项 Shamrock 750 是 Shamrock 系列中分辨率最高的产品，也非常适合需要多轨功能的应用。 这种坚固耐用的平台具有全面的光耦合附件和光栅，与安道尔市场领先的 ...

FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中最好的X射線螢光測量儀器。 和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測量的，這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕鬆便捷，為了優化您的任務的測量條件，配有可互換的準直器和過濾器作為標準配置。 對測量任務的要求越高，探測器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導體探測器。 矽PIN二極體是一種中階檢測器，非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用於檢查硬質材料塗層。 與矽PIN二極體相比，高品質的矽漂移檢測器（SDD）具備更好的能量解析度。如此配備的XDAL光譜儀可用於解決電子行業中的複雜測量任務：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素（如金和鉑）的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用於ENIG和ENEPIG應用的品質控制 對於特別棘手的挑戰，Fischer還提供含有超大探測器表面的SDD。該探測器的優勢在於它能夠可靠地測量奈米級的鍍層，並進行微量分析。使用這些XDAL設備，您可以測試用於高可靠性應用的焊料中的鉛含量，從而避免錫鬚。

波长: 185 nm - 900 nm

AA2200系列产品是皖仪科技开发的第四代原子吸收光谱仪，秉承“品质皖仪、服务皖仪”的企业精神及皖仪人一直坚持的完美设计的传统理念。AA2200系列是一款全自动的光谱仪，随着技术不断夯实提升，使性能和稳定性上了新的台阶。优异的灵活配置及丰富的可扩展性，匹配强大的“Atomlab”软件，满足各行各业的需求。 优异的性能 1.全反射双光束分光系统、全新镜片镀膜工艺的提升、优化的第四代消象差Czerny-turner型光路设计及一体化光学平台设计等多重技术组合，带来了极高的光通量的同时提供了低增益、高信噪比的优异性能，极大提升了灵敏度和稳定性。 2.氘灯扣除背景方式，选取高强度的原装进口连续光源氘灯对400nm以下元素进行背景校正； 3.自吸收扣除背景方式，不受波长和原子化器类型限制对元素进行背景校正； 4.狭缝5档可调，0.1、0.2、0.4、1、2nm自动选择优化，有利于寻找到各元素的最佳狭缝；波长一键归零，智能优化； 5.自动智能的原子化器切换技术，无须人工干预，一键切换，自动对准。快速便捷实现多种原子化器瞬间转换； 6.六灯座同时预热，配有自动对准功能 7.自动气路控制系统，带有全面安全互锁功能 8.优异的灵活配置和可扩展性 全面的火焰安全联锁装置为您的实验保驾护航 1.实时监测空气、乙炔、笑气的气体压力，压力不足时禁止点火，燃烧中出现压力缺失时候自动关闭火焰；乙炔在压力过大时也一样禁止点火及自动关闭火焰，防止出现安全隐患。 2.液封组件实时监测液封罐中的液面，当液面缺失的情况下禁止点火或者关闭火焰，防止回火隐患出现； 3.火焰燃烧状态实时监测，异常情况火焰自动关闭气体阀 4.专用的乙炔报警装置实时监测气体泄露情况，杜绝安全隐患； 5.气路上配备了缓冲保护罐在出现异常或断电时保证系统以正常的顺序关闭关火； 优异的石墨炉系统 1.先进的石墨炉控温采用高灵敏度光敏元件和数字化的温度控制方式相配合，控温精度达到（准确数值） 2.一键温度校准，消除不同石墨管中的差异，保证灵敏度的一致性； 3.温度编程最高达到3000℃，满足复杂样品的分析； 4.升温速率可达3000℃/S，；内外双气路的保护对仪器的稳定性及可靠性提供了有力的保障； 5.可编程的升温程序，可以对每一步的升温参数进行精确控制； 6.富集技术实现样品预浓缩，对于极低浓度样品分析进行多次的富集浓缩，替代繁琐而耗时的样品萃取富集过程，突破了检出极限； 7.各元素均有默认的方法测试条件参数，您所需的只是选择元素及测试方法，方便快捷一键设定。 连续流动氢化物发生器HVG-A： 1.与原子吸收分光光度计联用测试一些元素中能够容易和氢原子形成气态的金属氢化物，测定元素As ...

波长: 200 nm - 1,100 nm

... 分辨率优于0.05纳米! 增加的光路提供了比普通HR型号2倍的分辨率 紫外可见光和近红外/WDM选项 装置可堆叠，用于大范围分析 800纳米以上的最佳分辨率 我们新的HR-X高分辨光谱仪系列包括我们分辨率最高的光谱仪，在紫外、可见光和近红外波长范围内有许多型号。 与我们的标准HR和BLUE-Wave系列相比，我们的HR-X外壳有2倍和4倍的光路，提供双倍和四倍的潜在光学分辨能力。这种改进确实减少了范围，增加了物理尺寸；但是，HR-X高分辨光谱仪提供了任何模块化光谱仪中可能的最佳分辨率，没有移动部件。应用包括可调谐激光器/LED和其他来源的激光波长监测和表征，如来自等离子体、LIBS或其他高功率光学发射的元素排放。另外，通过布拉格光栅技术实现温度、压力和位置的光学感应。 坚固耐用--可拆卸的光谱仪组件和控制电子装置被保护在一个坚固的金属外壳内，适用于便携式、工艺、实验室和现场应用。 板载存储器具有预设的校准和光谱仪设置，以及快照存储器，可提供来自2048年高灵敏度CCD的瞬时光谱图像。 高速电子接口可以直接连接到计算机的USB端口，进行高速数据传输。 ...

... 电子设备分析仪 EDA 407 专为满足电子设备行业对小型密封电子元件的产品监控和质量控制日益增长的要求而设计。 用 于电子设备湿度分析的高性能四极杆质谱仪具有定制样品支架和断裂室，可单独调节各种尺寸的设备。 小型密封电子元件的湿度分析用 于电子设备质量控制的高性能四极杆质谱仪检测 容量 10-500 µl 水的极限电子设备的外壳从 ppm 到 100% 全自动数据分析 ...

长度: 355 mm
宽度: 265 mm
高度: 160 mm

... ATP8900型傅立叶变换红外光谱仪采用高性能价格比，考虑到用户的应用习惯，广泛适用于医药、化工、食品、石化、宝石、高分子、半导体、材料科学等领域。它可以附加各种透射、漫反射、衰减全反射（ATR）、非接触外反射等附件。无论他们是应用于大学、科学研究，还是工业领域的QA/QC应用分析，ATP8900都将是您理想的机型。 ATP8900 FT-IR光谱仪采用新型磁悬浮平面镜，由电磁驱动，三维激光控制，数字化连续自动调节，DPS可控，自动优化系统能量，无需手动调节。 ATP8900配置了智能化的湿度自动提醒功能，可以减少操作人员的维护工作。电子湿度可直观地以数字显示，提醒用户更换干燥剂，以避免操作中的潜在风险。 ATP8900适合测量粉末、液体，操作简单，只需几步就可以完成测试。 智能化的人机交互设计，易于操作的软件使专家或非专家都能快速学会操作。 Inteferometer：新型磁悬浮平面镜，电磁驱动，三维激光控制，数字化连续自动调节，DPS可控，自动优化系统能量，无需手动调节。 分光镜：高质量的KBr亚晶锗涂层。 ...

波长: 185 nm - 1,100 nm

... 一台强大而灵活的光谱仪，适合在您的手掌上使用 完美的通用解决方案 改进的光学设计--同类中最好的! 用户可更换狭缝和光学过滤器 紫外-可见-近红外 (185-1100 nm) 光纤光谱仪 包括LightScan软件 FLEX是我们新系列光谱仪中的第一款产品。所有光学元件都精确地组装在一个坚固、紧凑、轻巧的工作台中，使FLEX光谱仪在整个工作波长范围内具有更高的灵敏度、更强的峰值对称性和更低的杂散光，使该系列光谱仪成为通用的、最普通的光谱应用的完美解决方案。 用户可更换狭缝和滤光片、电源状态指示器和触发功能等功能为您的光谱设置提供了简便性和灵活性。FLEX有即用型（用于更常见的应用）和用户定制型（用于更特殊的应用）两种配置，包括标准型和改进型分辨率版本。 完美的通用解决方案，适用于光谱应用 FLEX结构紧凑，设计灵活，在提高灵敏度的同时，能够提供出色的性能，并能集成到大多数通用的光谱设置中。 极低杂散光的最佳光学器件 对于有吸光度/透光度测量需求的用户，FLEX是完美的解决方案。光学和机械设计的同时优化，使FLEX具有非常低的杂散光比例（在整个操作光谱范围内低于0.1%）。 ...

波长: 532 nm - 960 nm
长度: 248, 277 mm
宽度: 200, 215 mm

Zolix Instruments 的 Omni-λ 系列成像光谱仪和单色仪是需要最高质量数据的研究人员的专业标准。 Zolix 光谱仪和单色仪具有非常灵活的设计，可以针对从 UV 到 NIR 的广泛应用和光谱范围进行配置。 Wavelength Opto-Electronic 是 Zolix 品牌光谱仪在中国的授权经销商 东南亚. 高性能拉曼光谱仪 Zolix 结合体相位全息 (VPH) 光栅、波长优化光学器件和深冷 CCD 相机，自豪地展示了最先进的 ...