刀架测量系统

... 加工中心的动态过程中测量（IPM）。 100%的安全性 - 全过程控制 - 增加优良零件 与传统的过程中检查相比，废品率最高可减少50%。 测量已经完成。 - 使用正确的测量工具 - 没有外部影响 DIATEST IPM - 过程中的动态和静态测量! IPM是一种用于加工中心的带无线电的测量系统。该系统包括一个 - DIATEST内径测量仪（BMD）。 - 一个无线电模块。 两者都被永久地安装在刀架上（例如HSK）。 它通过无线电将测量数据传输到PC上，例如。 始终如一的高质量 ...

iNEXIV VMA系列具有大视场、长工作距离和宽XYZ行程，为各种3D部件的自动测量提供超强适用性。 通过宽视场进行各种测量应用 iNEXIV VMA系列提供3大类机型，带有宽视场光学器件和接触式探头接口，是使用视觉和接触式测量的各种工业测量、检查和质量控制应用的理想选择。 长工作距离 73.5 mm长工作距离。最适用于高度变化大、凸台高、细孔、深孔等的深度测量。 接触式测量（选配） 能够测量不可见特征的尺寸和角度，例如零件侧面的孔。

能够进行高速/高分辨率3D检测。 突破性的多功能共聚焦影像测量系统 融合了共焦技术，具有15倍变焦的明视野和激光自动对焦。 无论需要什么样的几何测量，二维或三维，检查和评估都异常快速和准确。 共焦光学系统可实现清晰显示，便于准确检测高对比度样品边缘。 精细凸点和基板图案 在同一视场内结合15倍变焦明场图像的2D测量和3D高度测量，可以实现多样化测量。 探头卡 可以根据位置数据一键式地进行编程。可以使用独家的图像处理工具自动测量探头卡上的XYZ坐标和共面接触探头销。 精密PCB图案 尼康独家的共焦成像技术可以精确扫描高反射和低反射率表面。