超声扫描式显微镜

重量: 17 kg
长度: 490 mm
宽度: 251 mm

从研究到常规的所有应用都得到解决。 CFI60-POL是光学性能优良的偏光专用物镜。偏光图像即可通过目镜观察，也可通过尼康数码相机拍照。LV100N POL具有丰富的偏光专用附件，可应对多种偏光研究需求；Ci-POL是紧凑的透射偏光显微镜。 尼康ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL 可观察矿石切片，检查具有偏光特性物质的分布与组成。 尼康CFI60-POL系列物镜 具有高数值孔径、长工作距离特点的偏光物镜。 透射和反射照明 LV-UEPI-N为反射照明器，用于为反射偏光提供照明。Ci-POL搭载LV-UEPI-N使用时，需要外接电源。 丰富的偏光专用附件 各种专业检板、补偿器、可对中调心的物镜转换器、旋转载物台、中间镜筒等偏光专用附件。 30mm长调焦行程 LV100N ...

重量: 9.5 kg
长度: 657 mm
宽度: 251 mm

采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机拍照；模块化设计，方便应对各种功能扩展。 尼康ECLIPSE LV100NDA和LV100ND 同时带有反射和透射照明的显微镜，用于工业材料和零部件的检查，以及产品研发。 尼康CFI60-2光学系列物镜 尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。 尼康Digital Sight数码相机 尼康全系列Digital ...

... SAM Line 提供易于使用的扫描声学显微镜，用于过程控制和质量保证以及研究应用。 单个型号来自符合行业标准并融合尖端生产和制造技术的组件平台。 凭借新的高频和传感器技术，我们的声学显微镜能够在高达 400 MHz 的超声波范围内进行详细的声学分析。 -对超声波频率范围内的样品进行分析 -特别适合成本效益和非破坏性调查 -适合 24/7 运行 -扫描范围 x; y = 300 毫米; z = 100 毫米 -1 千兆采样 ADC ...

... SAM Line 提供易于使用的扫描声学显微镜，用于过程控制和质量保证以及研究应用。 单个型号来自符合行业标准并融合尖端生产和制造技术的组件平台。 凭借新的高频和传感器技术，我们的声学显微镜能够在高达 400 MHz 的超声波范围内进行详细的声学分析。 -线 性供电、低噪声扫描仪-不适合 24/7 操作-在超声波频率范围内分析样品-特别适用于详细的声学测量-配备图形用户界面，易于操作和灵活应用 -扫描范围：x = 320 毫米；y = 320 毫米 -1 千兆采样 ADC ...

... SAM 400 是一款高性能工具，可实现非破坏性声学研究，用于专用高吞吐量分析、质量控制和研究应用。 它具有全新的高速免维护级以及高达 400 MHz 的新射频和传感器技术，通过用户友好的图形界面进行控制。 SAM 400 采用采用最新生产和研究技术的核心平台，以半导体行业标准为基础，可精确处理高达 300 mm 的晶圆和高达 660x860x60 mm（w/l/h）的样品。 超声频率范围高达 500 兆赫，传感器范围从 10 兆赫-400 兆赫。 提供不同的罐体尺寸和托盘。 ...

... SAM 300 自动晶片是为粘结晶片生产控制而开发的产品线。 它与洁净室 10 级兼容。 主要应用是在晶圆粘接界面上检测空隙、夹杂物和分层区域。 ...

... 扫描声学显微镜的独特之处在于，它能够以光学显微镜的分辨率对不透明材料的内部进行非破坏性检查。新的思维方式和远见卓识是我们引领潮流的扫描声学显微镜技术的成功理念。 在现代科技的几乎所有领域，对扫描声学显微镜非破坏性成像的创新、先进解决方案的需求都在增加。PVA Te... 分析系统公司开发、生产并提供扫描声学显微镜。我们独特的换能器频率从 3 到 2000 MHz，使成像和分析分辨率超越了以前可达到的极限。 ...