玻璃表面检测系统

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玻璃表面检测系统
玻璃表面检测系统

... 玻璃表面检测系统由微型 EPSLO 制造。 该产品是所有玻璃操作的食品,它有各种类型的好 taraget 可供选择。 该产品具有客户特定的适应性,具有缺陷检测或曲率测量。 曲率测量为偏光度。 最后,它保证了质量控制后的表面完美无瑕。 ...

红外摄像机检测系统
红外摄像机检测系统
640i G7

Optris的新型玻璃检测系统为低辐射玻璃生产中的温度测量提供了一种新方法。 低发射率玻璃给红外设备带来了巨大挑战,因为传统的红外设备是在生产过程中从上方测量玻璃板移出熔炉时的玻璃温度。 新型自下而上玻璃检测系统通过在钢化线下方安装两个红外成像仪来测量玻璃非镀膜高发射率侧的温度,从而解决了这一问题。 两个VGA成像器的组合,最大视场为111°,在最大4.3米的扫描宽度上实现了出色的1600像素扫描线分辨率。 超快的CTlaser 4M测温仪具有90微秒的曝光时间,与数字控制的镜头保护系统(DCLP)相结合,在玻璃破碎的情况下为两台红外摄像机提供可靠的保障。 重要规格 ...

红外摄像机检测系统
红外摄像机检测系统
GIS 450i G7

Optris的新型玻璃检测系统为低辐射玻璃生产中的温度测量提供了一种新方法。 低发射率玻璃给红外设备带来了巨大挑战,因为传统的红外设备是在生产过程中从上方测量玻璃板移出熔炉时的玻璃温度。 新型自下而上玻璃检测系统通过在钢化线下方安装两个红外成像仪来测量玻璃非镀膜高发射率侧的温度,从而解决了这一问题。 两个VGA成像器的组合,最大视场为111°,在最大4.3米的扫描宽度上实现了出色的1600像素扫描线分辨率。 超快的CTlaser 4M测温仪具有90微秒的曝光时间,与数字控制的镜头保护系统(DCLP)相结合,在玻璃破碎的情况下为两台红外摄像机提供可靠的保障。 重要规格 ...

玻璃表面检测系统
玻璃表面检测系统
GIS 640 R

使用新的玻璃检测系统,可以快速检测玻璃硬化过程中的温差,从而避免废品并提供自动质量监控。 自上而下的GIS 640 R系统通过自下而上的传感器进行温度测量,并对标准玻璃和低辐射玻璃进行自动发射率校正,专门用于玻璃钢化机的过程控制。 重要规格 • 避免数码控制镜片保护系统(DCLP) • 额外空气吹扫 • 玻璃面积计算 • 预装系统,便于在玻璃上安装 • 回火炉 • 自动扫描线调整--对失真不敏感 • PI 640i相机,60°或90°视场角 • ...

质量控制检测系统
质量控制检测系统
dsound® Tap Check

拍照式检测系统
拍照式检测系统
BOW

... 最大可控光纤速度:高达 4000 米/分钟。 对 200 微米以下的光纤进行最佳控制 BOW - 光纤带检测可检查:打标/环是否缺失、打标/环是否过多、打标/环长度是否变化、光纤上是否有墨迹 直观的 Livestream 打标过程,意味着操作员可以轻松自如地设置和启动生产线 可报告检测到的打标错误或无环的度量值 只需少量培训(安装后的初始操作说明仅需 30 分钟) 可连接各种 CAQ 软件选件以发送分析报告 通过内部/外部数据库,操作员可以调用公式进行轻松配置 用户无法影响预定义的光学聚焦或优化的智能均匀照明 绿色、黄色、橙色和红色警示灯发出违规信号 软件可在操作员级别(生产、管理、服务等)进行各种设置 标准化的单个组件保证了供货的安全性,从而缩短了交货期 可通过以太网 ...

玻璃表面检测系统
玻璃表面检测系统
GWI

... GWI 系统是为了在生产周期早期检测玻璃晶圆的缺陷。 该系统基于高分辨率智能相机,满足缺陷检测所需的准确性。 在智能相机中完成晶圆的完整评估。 拍摄玻璃晶圆的图片,并立即在相机中进行处理。 生成的数据和图像将传输到 PLC。 还有一个选项可以将显示器连接到照相机以查看屏幕上的结果。 要运行评估过程,可使用以太网、RS232和电源 I/O 连接。 电源 I/O 还包含 RS232 接口。 GWI 系统可检测玻璃晶圆的表面误差,如划痕、颗粒和基板误差。 ...

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