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空间分辨率: 1 µm
MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸最大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒适性。在与奥林巴斯Stream图像分析软件结合使用情况下，可以简化从观察到报告生成的整体工作流。
倍率: 3,000,000 unit
空间分辨率: 0.8, 0.4, 1.2 nm
超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000 专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。 • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。 0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM) • 用改良的高真空性能和优异的电子束稳定性来实现高效率截面观察。 • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
倍率: 5 unit - 800,000 unit
空间分辨率: 15, 4, 3 nm
集优异性能、操作简便性、多样化功能于一身 日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可高效发挥其高性能。SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察。 ①SU3900标配多功能超大样品仓，可应对大型样品的观察 ■样品台可搭载超大/超重样品 • 通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品 • 选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率 • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度* • ...
倍率: 20 unit - 8,000,000 unit
空间分辨率: 0.08, 0.1 nm
200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。 对于包括高端用户在内的广泛用户，我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 ※附带第二显示器（可选），显示屏为嵌入式合成界面。 特点 • ...
倍率: 66 unit - 1,000,000 unit
空间分辨率: 1.3 nm
长度: 1,716 mm
... 用于大体积试样跨尺度成像的高速扫描电子显微镜 CIQTEK HEM6000 采用高亮度大束流电子枪、高速电子束偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸入式电磁和静电组合物镜等技术，可在确保纳米级分辨率的同时实现高速图像采集。 自动化操作流程专为更高效、更智能的大面积高分辨率成像工作流程等应用而设计。成像速度比传统的场发射扫描电子显微镜（fesem）快 5 倍以上。 1.图像采集速度：10 ns/像素，2*100 M 像素/秒 2.分辨率：1.3 nm@3 kV，SE；1.5 ...
... 新的 “机器视觉显微镜”（MVM）是一种纯粹的数字显微镜，具有使显微镜的所有功能。 它具有复差高度校正显微镜物镜和相应的管镜头，可将每个物体点放大到 5MP 索尼 IMX264 传感器的像素。 此外，还安装了一个同轴入射光照明和一个漫射环灯。这两个指示灯均通过集成摄像头的 USB 3.1 端口进行控制和供电。专门开发的控制电子设备允许两个光源的交替操作。 该模块提供了前所未有的可用性。它们配备了自己的图像采集软件，因此它们可以轻松地集成到任何网络、系统或生产环境中。因此，新的数字显微镜可以很容易地集成到测量仪器、分析系统或生物成像系统中。 ...
... 倒置显微镜结构紧凑，经久耐用，用于高放大率的需要。它们是分析具有平坦样品表面的安装样品的理想选择，配备了BF、DF、DIC和POL等多种光源，可用于多种分析。 入门级倒置显微镜，用于硬度测试的一般应用。 工业和材料科学倒置显微镜，特别设计用于不透明试样（包括金属微观结构调查和研究，如晶粒尺寸、晶界、相、转变、包裹体和非金属，以及 样品制备和处理）的金相实验室。可根据客户的喜好自由配置镜头，FN24高视点，无限远校正光学系统，同轴对焦，机械平台，以及由卤素灯供电的12V/100W亮度控制的外照灯附件。坚固和令人难以置信的可靠性，它配备了所有的主要控制装置，处于符合人体工程学的位置，并配有持久、高效的LED照明，可提供超过20年的使用。 ...
重量: 17 kg
长度: 490 mm
宽度: 251 mm
从研究到常规的所有应用都得到解决。 CFI60-POL是光学性能优良的偏光专用物镜。偏光图像即可通过目镜观察，也可通过尼康数码相机拍照。LV100N POL具有丰富的偏光专用附件，可应对多种偏光研究需求；Ci-POL是紧凑的透射偏光显微镜。 尼康ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL 可观察矿石切片，检查具有偏光特性物质的分布与组成。 尼康CFI60-POL系列物镜 具有高数值孔径、长工作距离特点的偏光物镜。 透射和反射照明 LV-UEPI-N为反射照明器，用于为反射偏光提供照明。Ci-POL搭载LV-UEPI-N使用时，需要外接电源。 丰富的偏光专用附件 各种专业检板、补偿器、可对中调心的物镜转换器、旋转载物台、中间镜筒等偏光专用附件。 30mm长调焦行程 LV100N ...
Nikon Metrology
倍率: 10 unit - 5,480,000 unit
空间分辨率: 0.7 nm - 3 nm
... JSM-IT800 集成了我们的 "In-lens Schottky Plus 场发射电子枪"（用于从高分辨率成像到快速元素测绘）、创新的电子光学控制系统 "Neo Engine "以及无缝图形用户界面系统 "SEM Center"（用于快速元素测绘）和完全嵌入式 JEOL 能量色散 X 射线光谱仪 (EDS)，作为一个通用平台。 JSM-IT800 允许以模块形式更换扫描电镜的物镜，提供不同版本以满足不同用户的要求。JSM-IT800 共有五种不同物镜的版本：混合透镜版本（HL），是一种通用的 ...
ZTX-S系列连续变倍摄影像显微镜具有高分辨率、高清晰度和强立体感的光学成像系统，通过简便操作就可以获得连续变倍图像，广泛应用于电子行业中半导体和集成电路板的检测以及教学、农业、电子工业和仪器仪表行业作精细零部件的检验、装配、修理。
... SAM 400 是一款高性能工具，可实现非破坏性声学研究，用于专用高吞吐量分析、质量控制和研究应用。 它具有全新的高速免维护级以及高达 400 MHz 的新射频和传感器技术，通过用户友好的图形界面进行控制。 SAM 400 采用采用最新生产和研究技术的核心平台，以半导体行业标准为基础，可精确处理高达 300 mm 的晶圆和高达 660x860x60 mm（w/l/h）的样品。 超声频率范围高达 500 兆赫，传感器范围从 10 兆赫-400 兆赫。 提供不同的罐体尺寸和托盘。 ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... - 可选配向内旋转的转塔和工作距离较长的高质量物镜，操作性极佳。 - 是半导体探针工作站显微镜单元的理想选择。 - L 型和 L4 型支持波长范围从 266 到 1064 nm 的 YAG 激光，可对薄膜和液晶基底进行激光切割。 - 符合人体工程学的设计，配有用于粗调焦距和放大微调焦距的组合旋钮。 ...
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