红外干涉仪

光学

光学成像的应用广泛，种类繁多。在系统的设计波长下进行测试对开发、最终对准和鉴定至关重要。 用于航空航天和国防的夜视、红外和热成像系统、光刻子系统、遥感望远镜和外来材料鉴定对波长有不同的要求，而它们都受益于在红外干涉仪系统在设计波长下的测试。 ZYGO 长期以来被公认为是世界上干涉测试仪器的先行者，已经设计和制造了许多特殊装备的干涉仪系统，包括NIR、SWIR、MWIR 和 LWIR 波长的系统。 ZYGO 还设计和制造了一系列用于这些波长的参考光学器件（透射球面镜和透射平面镜）。 主要特点 工作波长范围广： NIR： 1.053 µm & 1.064 µm SWIR： 1.55 µm MWIR： 3.39 µm LWIR 10.6 µm 基于工作波长 的QFAS 十字快速对准视图简化了红外测试系统和组件的设置。 ZYGO 独有的 QPSI™ 采集技术，可在振动较常见的环境中实现可靠的测量，NIR、SWIR 和 MWIR 型号均配有这种技术。 可选的 DynaPhase™ 瞬时数据采集技术，对振动不敏感，可在最恶劣的环境中进行测量。