平面度测量干涉仪 Verifire Asphere+

校准用于厚度测量激光

非球面光学技术在成像、传感和激光系统的设计和实施方面具有显著优势，广泛应用于...和航空航天、半导体曝光和检测系统以及医疗成像系统等行业。 生产支持这些应用的非球面离不开精密计量。 毕竟，就非球面光学而言，无法测量的东西就无法制造。 Verifire Asphere+ (VFA+) 利用 Fizeau 干涉测量法的优势，为轴对称非球面提供了精确、高分辨率、快速和全孔径测量的独特组合。 VFA+ 提供了一个灵活的测量平台，只需改变透射球即可测量一系列轴对称非球面。VFA+ 配备了可选的二级平台，支持计算机生成全息图 (CGH)，将非球面形状功能扩展到非对称自由曲面和离轴非球面光学器件。 新功能以增强用户体验为重点，您可以轻松设置新测量、浏览测量数据和结果以及诊断生产问题。Mx™ 软件可实现高效的研发和原型阶段，并通过简单的一键设置、对齐和测量功能改进生产应用。 - 适用于光学元件托盘的多部分自动测量 - 作为 "普通 "菲佐干涉仪使用，具有极精确的曲率半径轨 - 经济高效的非球面测量解决方案，与未来兼容--可将现有的 VFA 系统升级为 VFA+！