利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精确性的高要求。
您想检查塑料或轻金属部件的内部,但计算机断层扫描似乎太复杂了?探索ZEISS METROTOM系列的最新成员,让您以简单的方式深入了解X射线技术领域和您的部件。
十二年来,蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描(CT)系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天,您可以使用面向未来的质量控制。
在第三代系统中,新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集,即更多体素可以检测到更小的缺陷。
通过检测器的不同操作模式,扫描时间可减少多达75%,同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。