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ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle 供应产品全部分类

Coordinate Measuring Machines (CMM)

光学测量机 ZEISS SPECTRUM

3D 自动化零件

电脑控制三坐标测量仪 ZEISS MICURA

门式小型物件质量控制

门式三坐标测量仪 ZEISS CONTURA

质量控制光学高精度

门式三坐标测量仪 ZEISS PRISMO

多传感器高精度

门式三坐标测量仪 ZEISS XENOS

工业用途质量控制多传感器

门式三坐标测量仪 ZEISS MMZ T

用于大型物品齿轮质量控制

门式三坐标测量仪 MMZ G

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3D扫描仪 ZEISS VoluMax 9 Titan

测量质量控制 X射线

门式三坐标测量仪 ZEISS DuraMax

质量控制多传感器高精度

复杂部件三坐标测量仪 ZEISS MMZ M

电脑控制门式用于大型物品

Industrial Microscopy

光学显微镜 ZEISS Axio Observer

测量冶金用于材料分析

SEM显微镜 ZEISS GeminiSEM

用于研究工业高对比度

电子扫描显微镜 ZEISS EVO

检查实验室质量控制

扫描电子场发射显微镜 ZEISS Crossbeam

用于材料高解析度模块化

SEM显微镜 ZEISS Sigma

用于分析检查用于材料

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数字显微镜 ZEISS Visioner 1

用于测量深度检查质量控制

光学显微镜 ZEISS Axio Imager 2

用于研究工业用于材料

光学显微镜 ZEISS Axiolab 5

用于分析用于材料 LED 照明

光学显微镜 ZEISS Axioscope

检查用于研究用于材料研究

光学体视显微镜 ZEISS SteREO Discovery.V8

实验室荧光 3D

光学体视显微镜 ZEISS SteREO Discovery V12

检查带触摸屏缩放

光学体视显微镜 ZEISS SteREO Discovery V20

检查带触摸屏缩放

光学体视显微镜 ZEISS Stemi 305

实验室双目紧凑型

光学体视显微镜 ZEISS Stemi 508

实验室双目复消色差

光学显微镜 ZEISS Smartproof 5

用于分析质量控制共焦

光学显微镜 ZEISS Axiovert

用于分析用于材料分析用于材料

光学显微镜 ZEISS Axio V16

用于材料分析缩放高解析度

3D Scanning

3D扫描仪 ATOS Q

测量用于检查紧凑型

模数转换器 ZEISS ABIS III

3D扫描仪 ZEISS ATOS LRX

用于检查用于检测用于大型零件

3D扫描仪 ZEISS ATOS 5

质量控制测量高精度

电脑控制三坐标测量仪 ZEISS ScanBox 5 RC

桥式用于大型物品齿轮

3D测量机 ATOS ScanBox 6

自动化零件工业用途

电脑控制三坐标测量仪 ATOS ScanBox 7

门式复杂部件高精度

3D测量机 ATOS ScanBox 8

自动化零件用于控制

机器人测量机 ZEISS ScanCobot

零件用于控制移动式

Optical Metrology

门式三坐标测量仪 ZEISS O-INSPECT

鹅颈质量控制多传感器

光学测量机 ZEISS O-INSPECT DUO

3D 用于大型零件工业用途

光学测量机 ZEISS O-DETECT

几何特征视频白光

Industrial CT- and X-Ray Solutions

CT数码断层摄影机 ZEISS METROTOM 1

CT数码断层摄影机 ZEISS METROTOM 6 Scout

X射线数码断层摄影机 ZEISS METROTOM 1500

光学显微镜 ZEISS XRADIA Versa

用于分析用于材料 3D

X射线显微镜 ZEISS Xradia Ultra

实验室 3D 高解析度

X射线显微镜 ZEISS XRADIA Context microCT

用于分析用于电子元件 3D

X射线检查机 ZEISS BOSELLO MAX

用于材料工业用于汽车工业

X射线检查机 ZEISS BOSELLO OMNIA

用于材料工业用于航空航天业

X射线检查机 ZEISS BOSELLO WRE thunder

用于材料工业高解析度

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计量学软件 ZEISS CALYPSO

几何数据分析测量编程

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工程报告控制

数据分析软件 ZEISS Inspect

测量质量控制检查用

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