扫描电子场发射显微镜 ZEISS Sigma​

用于分析检查用于材料

蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，可轻松实现成像和分析程序，提高工作效率。 您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或用于生物和地质样品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低电压，在1 kV或更低电压下获得更佳的分辨率和衬度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。​ 使用Sigma系列，畅游高端纳米分析世界。 Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM，是分析测试平台的理想之选。 Sigma 560采用先进的EDS几何学设计，可提供高通量分析，实现自动原位实验。 分析测试平台的理想之选，直观的图像采集 从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观的成像工作流。 可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和优化的衬度。 可在极端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。 直观成像工作流为您指引方向 从设置到获取基于人工智能的结果，每一步都清晰明了 即使您是新手用户，也能轻松获得专业结果。Sigma系列可迅速获取图像，易于学习和使用的工作流程可节省培训时间，简化从导航到后期处理的每个步骤，让您如虎添翼。 蔡司SmartSEM Touch中的软件自动化可助您完成导航、参数设置和图像采集等步骤。 接下来，ZEN core便可大显身手：它配备针对具体任务的工具包，适用于后期处理。我们十分推荐基于机器学习的人工智能工具包，它可助您进行图像分割，将多模式实验与Connect Toolkit相结合，此外，Materials应用程序还能分析微观结构、晶粒尺寸或涂层厚度。