光学显微镜 ZEISS Axio Imager 2

用于研究工业用于材料

在您从事先进的材料研究时，Axio Imager 2可帮助简化光学显微镜工作流。蔡司Axio Imager 2能够对材料生成准确且可重复的结果。选择适合您应用的系统，使用颗粒分析等专用共聚焦或关联显微镜解决方案扩展您的设备。 可重复的结果 模块化设计​ 高光学性能 可重复的结果​ 享受无振动的工作环境​ 如要获得准确的结果，稳定性必不可少。Axio Imager 2具有稳定的成像条件，而在使用高放大倍率或进行对时间有高要求的研究时，该特性更为显著。Axio Imager 2的电动化设计可以获得快速且可重复的结果，同时始终在恒定条件下工作。 模块化设计​ 获得更大的灵活性​ 无论是学术还是工业研究，材料显微镜都面临着各种各样的挑战。借助Axio Imager 2，您将能够直面并战胜这些挑战。您可以连接特定于应用的组件，进行颗粒分析等工作，也可以检测非金属夹杂物（NMI）、液晶或基于半导体的MEM。借助专用共聚焦或关联显微镜解决方案，您的设备功能将得到扩展。 高光学性能 实现出色衬度和分辨率 使用不同观察方式观测金属、复合材料或液晶等一系列材料。 ​ 使用反射光，在明场、暗场、微分干涉相差（DIC）、圆微分干涉相差（C-DIC）、偏光或荧光下观察样品。 ​ 使用透射光，在明场、暗场、微分干涉相差（DIC）、偏光或圆偏光下检测样品。观察方式管理器能确保照明设置可复制。 观察方式选择​ 球墨铸铁，抛光样品，使用不同观察方式在相同位置成像（观察视野265 µm）。图像：由德国凯瑟尔斯多夫的H.-L. Steyer博士提供。