集成电路测试座 NP291-Series
BGA

集成电路测试座
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产品规格型号

技术参数
用于集成电路, BGA

产品介绍

适用于 0.80 毫米间距 BGA 封装的开顶式 THT 插座解决方案 无上压力 (ZIF) 的自接触结构 镊子接触结构可夹住焊球侧面,防止焊球的共面性受到破坏 开放式解决方案,适用于外形尺寸最大为 25 x 25 平方毫米的各种 BGA 封装 不同的插座外形尺寸,以适应不同的封装 适用于自动装载测试设备 配接周期 10 工作温度范围 -55 °C - 150 °C (初始)接触电阻 100 毫欧 绝缘电阻 1000 兆欧 (耐电压 100 伏交流 额定电流 1 A 间距 0.75 引脚数/引脚数 500

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