数据分析软件 XSACT
测量设计数据再处理

数据分析软件 - XSACT - Xenocs - 测量 / 设计 / 数据再处理
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产品规格型号

功能
数据分析, 测量, 设计, 数据再处理
应用
X 光图像

产品介绍

X射线散射数据分析计算软件 智能工作流程和用户体验 运用广泛而强大的数据分析算法 高质量可直接发表的数据图 全面的分析功能 使应用范围更广 XSACT软件包包含了处理和解析SAXS数据的主要分析函数 了解更多XSACT表征函数的信息 随着外部参数(例如温度或机械压力)的变化,结构也发生变化。 蛋白质的结构表征 测定含有纳米颗粒的悬浮液的质量浓度 溶液和粉末中纳米粒子的尺寸分布和比表面积的测定 混合非晶/有序材料的结晶度 智能工作流程和用户体验 使用XSACT可使用户用最小投入获得数据解析结果。 XSACT的智能化设计为您带来了简单的工作流程,并通过强大的图形交互功能帮助您获得结果。 数据处理快 简单易用 既可被初学者使用, 也可被专家使用 XSACT包括一系列的广泛的分析模块,用于对多种类型的材料包括纳米颗粒和聚合物的尺寸、结构和织构进行样品表征等。. SAXS用户群倾向于具有自定义模型和多种不同应用程序的算法。XSACT提供的统一、全面且完整的数据处理解决方案可尽快完成任务。 具有独特的粒径分析功能 测量数据模拟器 XSACT结合所有工具来创建可直接发布的图表,无需其他的可视化软件,这大大节约了时间。 为了更好地解读输出数据,科学家必须拥有直观、可交流和可比较大量图示的工具。 通过将数据处理与高级直观功能的结合,XSACT软件的使用可加快从数据采集到发表的工作流程。 高度可定制性的数据可视化 轻松导出多种格式 高清矢量图 Xenocs仪器自动的将二维图谱还原成归一化的一维散射曲线,以便于后续分析。针对需要特定表征的样品以及需要研究二维散射数据的样品,例如各向异性的样品或掠入射研究的薄膜样品,XSACT在无信号丢失的情况下展示倒易空间数据,是快速取向分析和评估数据的优异工具。 2D图谱还原到绝对强度单位的一维散射曲线 二维数据在Q倒易空间的显示(透射及掠入射小角/广角) 多次采集的散射图像的自动拼接
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。