新一代实验室线站
灵活性大
优异性能
足够的空间用于样品环境
利用SAXS/WAXS和USAXS技术在透射或掠入射模式下表征软物质和纳米材料的纳米结构。
– 粒度分布范围从直径几纳米到直径350纳米以上
– 半结晶聚合物的结晶速率和层状结构
– 溶液中表面活性剂或蛋白质的大小和形状分析
– 纳米材料在原子或纳米尺度、块状或者表面的组织和取向
– 能够进行相分离研究
– 纳米结构转变的原位研究
为广大用户群体提供全远程自动操作的、具备表征超大纳米尺度范围的独特工具。
先进纳米材料的发展和设计需要在超大纳米尺度范围上进行表征。Xeuss 3.0具备这样的测试能力,通过完全自动改变配置,采集的散射矢量q可跨越5个数量级。因此,对于给定的单个或批量样品,任何经过培训的用户都可以在完整的测量范围内远程操作系统。
可自动更改的测量设置包括:
Q-Xoom通过探测器沿光路的自动平移来改变测量分辨率
使用Bonse Hart USAXS模块可以实现连续的SAXS/USAXS测量
用于原位SWAXS研究的可移动WAXS探测器
X光源能量可选,提供3个可选光源
Xeuss 3.0实验装置具备很大的灵活性,用于测试各种样品并尽可能获取高质量的数据。
尤其,以下关键特点使用户得以优化实验和结果::
高光通量设置和内置低背景无噪音探测器,适合快速动力学测试
探测器从WAXS位置自动移动到远距离的SAXS位置,且在任意位置均可探测大面积图谱,以优化分辨率和信噪比
远距离的SAXS设置可测量大特征尺寸样品 (> 300 nm)
可选的USAXS模块进行超大结构表征 ( > 4 µm)
单个二维探测器可采集的q_max优于49nm-1
Xeuss 3.0的超大样品腔有利于固定实验过程中的样品,这是目前以至今后的理想的X射线散射平台仪器。
先进材料的研究和表征需要集成特定的或定制的样品环境。
由于其先进的线站理念,Xeuss 3.0非常适用于这种新项目。
包括:
在测试过程中样品在大样品腔中保持固定(轴方向可持续观察样品,智能集成用户自定义样品环境)
样品台的长距离平移可用于空间分布扫描和批量测试
多种标准样品环境,并具备样品台识别功能