X射线光谱仪 JB-EDX8800

XRF用于光谱分析数据采集

EDX8800E吸收了EDX系列的所有优点，并加装了真空系统，扩大了测试范围，提高了检测限，增强了数据的稳定性。 产品特点。 1.采用美国进口的硅绘图检测器，具有更高的能量分辨率，大大提高了检测效果。 2.比硅针检测器的光元件极限高100倍。测量范围更广，几乎可以满足所有常规材料的元素分析要求。 3.采用美国进口的数据集成处理系统，数据采集速度更快，测量更稳定，重复性好，稳定性长。 4.融合多种图像计算方法的最新软件，使数据测量更准确、更稳定。 5.软件全面监控核心部件运行，确保安全运行。 6.专用的真空系统提供了更好的真空性能和优异的测试效果。 可测元素----Na-U 元素含量 - 1ppm-99.99% 检测限 - 1ppm 测量时间--60-200s（可调 电源 - AC220±5V X射线管最大输出电流 - 1mA 极限压力----6.7×10-2帕。 样品室尺寸-610*320*100(mm)(无真空)/Φ100*h75(mm)(真空) 长时间工作稳定性（以标准样品为准）-±0.05%（高含量）/±0.002%（微量）。 优异的重复性(以标准样品为前提)-0.06%((高含量)/±0.0025%(微量含量)