X 射线 CND 检测模块

用于常规电池片的串检： 可检测项目：偏移（露白）、膜偏、片间距、裂片/破洞、边角缺陷、起焊点、划痕、脏污、色差、断栅、膜短/无膜。 用于多主栅电池片的串检： 可检测项目：偏移（露白）、片间距、裂片/破洞、边角缺陷、搭接、划痕、脏污、 色差、断栅/氧化。 与面阵方案对比 设备结构简单，安装便捷、安装空间小、维护方便 彩色线扫相机 采用4K线扫相机，成像清晰 检测精度高 电池串外观缺陷可清晰识别 较佳检测工位 膜偏检测效果佳（包括头尾偏移检测）、边角缺陷检测效果佳 兼容性/可升级 兼容/可升级多种电池片类型和多种机型