半导体测试系统 SPA-6100

阻抗

SPA-6100 半导体参数分析仪 宽范围测试 30μV-1200V 1pA-100A SPA-6100 半导体参数分析仪是武汉普瑞自主研发制造的半导体电特性测试系统。它具有精度高、测量范围宽、快速灵活、兼容性强等优点。该产品可同时支持大电流、高电压下的直流电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和脉冲 I-V 特性测试。该产品旨在帮助加速尖端材料研究、半导体芯片器件设计和先进工艺的开发。它具有出色的测量效率和可靠性。 -30μV-1200V, 1pA-100A 宽量程测试能力 -测量精度高，全量程可达 0.03 -内置标准设备测试程序，方便直接调用测试 -自动实时参数提取、数据绘制、分析功能 -无需重新布线即可在 CV 和 IV 测量之间快速切换 -提供灵活的夹具定制解决方案，兼容性强 -免费提供 PC 软件和 SCPI 指令集 灵活的定制夹具解决方案 针对市场上不同封装类型的半导体器件产品，PRECISE 提供了一套完整的夹具解决方案。该夹具具有阻抗低、安装简单、种类丰富等特点。它可用于测试二极管、晶体管、场效应晶体管、IGBT、SiC MOS 和 GaN 等单管和模块产品。