加速老化测试系统 LDBI

用于电子工业用于激光芯片用于激光模块

普赛斯多路大功率激光器老化系统专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力 强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光 器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案。 ●单抽屉最多支持16路，最多8抽屉 ●各通道互相独立 ●电流回读，同步自动测 量电压、光功率等数据 ●加热膜加热，温控范围室温~125℃ ●电源抗浪涌设计 ●收光装置水冷 ●绝对精度±1℃，不同 DUT温度均匀性±2℃ ●老化数据自动记录 与数据导出