对制造和测量室有高精度要求的快速光学二维测量。
FlatScope有一个创新的设计原理,图像处理传感器位于玻璃板下,用于支撑测量对象。因此,所有的工件都能清晰地成像,而不需要耗费时间的聚焦。有了FlatLight,在整个测量范围内都可以实现均匀的远心物体照明,并且通过轮廓图像处理,可以提供轮廓和元素滤光片,实现过程可靠的测量。应用的领域是测量较大的二维工件,如金属箔、印刷电路板、激光和精细冲裁件。
• 自动对准放置在测量台上的工件,AutoAlign ,并可通过专利的Raster Scanning HD操作模式进行采集。
• 通过对所有(叠加的)单个图像的信息进行重新取样,以专利的光栅扫描HD,获得几乎任何分辨率的总图像
快速的 "图像内 "评估,无需定位单元轴
• 通过额外的明场和暗场入射光线,具有高度的灵活性(可使用MultiRing®的变焦光学元件)
• 带机械气动液位控制的空气弹簧隔离器上的振动隔离安装
• 功能测试和彩色编码的偏差显示与WerthBestFit 或ToleranceFit®
测量范围
400 mm x 200 mm 至 650 mm x 600 mm
准确度
允许的长度测量偏差最大为2,5 µm