Speed|ADR — 自动化 3D 缺陷识别系统
用于工业大规模 CT 扫描
Waygate Technologies 强大的 speed|ADR 算法为工业大规模生产过程的控制和优化提供了高度精确的定量 3D 信息。
速度经过优化的 3D 样品分析和缺陷识别
Waygate Technologies 的 speed-scan 和 phoenix-x-ray CT 系统用户能够在 Volume Graphics 领先的工业 CT 批量分析软件 VGinLINE 中,享受到我们专有的 speed-ADR 算法所带来的诸多优势
可定制的用户界面和可视化功能,包括 3D 缺陷检测结果表
以生产为导向的工作流程专门针对高扫描吞吐量和多样化样品进行了优化